El instrumento AL-Y3500xrdf es un dispositivo analítico de alta gama que integra la tecnología de difracción de rayos X (XRD) y la tecnología de espectroscopia de rayos X (EDS).Se utiliza principalmente para el análisis de la composición elemental y la caracterización estructural de materialesMediante una sola medición, puede obtener simultáneamente información clave como la composición elemental, la estructura cristalina, la composición de fase y el tamaño de grano del material.Se aplica ampliamente en campos como la ciencia de los materiales, geología, física, química, biología, semiconductores, caracterización de catalizadores, análisis de matrices metálicas y nanotecnología.

Características:

1.Integración eficiente: una sola medición puede obtener simultáneamente datos de difracción y espectroscopia,eliminación del proceso de mediciones tradicionales paso a paso que consume mucho tiempo y es propenso a errores.
2Alta sensibilidad y precisión: Utilizando detectores y algoritmos avanzados, el límite de detección es tan bajo como el nivel de ppm, y la precisión de resolución estructural alcanza el nivel atómico.
3.Expansión multifuncional: diversos accesorios funcionales satisfacen las necesidades de diferentes propósitos de ensayo. soportan varias formas de muestra (polvo, bloque, película, etc.),son compatibles con entornos especiales como las altas temperaturas, baja temperatura y alta presión, y están equipados con un sistema de control de generador de rayos X de alta estabilidad para lograr una precisión de medición repetida más estable.
4Integración de hardware: compartir la fuente de rayos X, la etapa de muestra y el sistema de control para garantizar la sincronización de las rutas ópticas y la coincidencia de señales de las dos tecnologías.
5Fusión de datos: a través de un software dedicado, los patrones de difracción y los datos espectral se analizan conjuntamente.Integrando la información de la estructura cristalina de la difracción de rayos X (XRD) y los datos de composición elemental de la espectroscopia de fluorescencia de rayos X (XRF), se logra la caracterización de la sustancia en todas sus dimensiones.
6La identificación de una o más fases cristalinas en muestras desconocidas puede llevarse a cabo simultáneamente, y 40 elementos pueden analizarse al mismo tiempo.
7Utilizando múltiples collimadores y sistema de hendiduras solares, cuenta con tecnología de propiedad intelectual patentada.
8Se realiza un análisis de la estructura cristalina (análisis de la estructura de Rietveld), que incluye parámetros básicos, método empírico de coeficientes, etc.
9En condiciones no convencionales (como temperaturas altas y bajas), la estructura cristalina puede cambiar y se pueden alojar múltiples plataformas de muestreo.

10Análisis de muestras de películas delgadas, incluida la fase cristalina de la película, el grosor de las películas multicapa, la rugosidad de la superficie y la densidad de carga.
11Análisis de muestras de microárea, textura del material metálico y análisis de tensión.

Parámetro técnico