AL-Y3500xrdf - это высокотехнологичное аналитическое устройство, которое объединяет технологии рентгеновской дифракции (XRD) и рентгеновской спектроскопии (EDS).Он в основном используется для анализа элементарного состава и структурной характеристики материаловС помощью одного измерения он может одновременно получить ключевую информацию, такую как состав элементов, кристаллическая структура, фазовый состав и размер зерна материала.Он широко применяется в таких областях, как наука о материалах, геология, физика, химия, биология, полупроводники, характеристика катализаторов, анализ матриц металлов и нанотехнологии.

Особенности:

1.Эффективная интеграция: одно измерение может одновременно получать данные дифракции и спектроскопии,устранение трудоемкого и ошибочного процесса традиционных поэтапных измерений.
2.Высокая чувствительность и точность: с использованием передовых детекторов и алгоритмов, предел обнаружения такой же низкий, как уровень ppm, а точность структурного разрешения достигает атомного уровня.
3.Многофункциональное расширение: различные функциональные аксессуары отвечают потребностям различных целей испытаний.совместимы со специальными условиями, такими как высокая температура, низкой температуры и высокого давления, и оснащены высокостабильной системой управления рентгеновским генератором для достижения более стабильной точности повторных измерений.
4Интеграция аппаратного обеспечения: совместное использование рентгеновского источника, этапа отбора проб и системы управления для обеспечения синхронизации оптических путей и сопоставления сигналов двух технологий.
5.Фьюжн данных: С помощью специального программного обеспечения паттерны дифракции и спектральные данные совместно анализируются.Интегрируя информацию о кристаллической структуре от рентгеновской дифракции (XRD) и данные об элементарном составе от рентгеновской флуоресцентной спектроскопии (XRF), достигается полномерная характеристика вещества.
6Одновременно может быть проведена идентификация одной или нескольких кристаллических фаз в неизвестных образцах, и одновременно может быть проанализировано 40 элементов.
7Используя множественные коллиматоры и солнечную систему щели, он имеет собственную технологию интеллектуальной собственности.
8Проводится анализ кристаллической структуры (анализ структуры Ритвельда), включая базовые параметры, эмпирический метод коэффициента и т.д.
9При нетрадиционных условиях (например, при высоких и низких температурах) кристаллическая структура может изменяться, и можно разместить несколько платформ для отбора проб.

10Анализ образцов тонкой пленки, включая кристаллическую фазу пленки, толщину многослойной пленки, шероховатость поверхности и плотность заряда.
11Анализ образцов микрорайона, текстуры металлического материала и анализ напряжения.

Технический параметр