|
تفاصيل المنتج:
|
| القوة المقدرة: | 3kw | Tube Voltage: | 10 - 60kV |
|---|---|---|---|
| استقرار: | 0.005٪ | ضمان: | 1 سنة |
| Model: | AL-Y3500xrdf | Overall Dimensions: | 1320*1000*1800mm |
| إبراز: | المحلل المتكامل XRD-XRF AL-Y3500xrdf,طيف XRF للتقطيع بالأشعة السينية,محلل حيود الأشعة السينية (XRF) مع ضمان |
||
جهاز AL-Y3500xrdf عبارة عن جهاز تحليلي متطور يدمج تقنية حيود الأشعة السينية (XRD) وتقنية التحليل الطيفي للأشعة السينية (EDS). يتم استخدامه بشكل أساسي لتحليل التركيب العنصري والتوصيف الهيكلي للمواد. من خلال قياس واحد، يمكنه الحصول في الوقت نفسه على معلومات أساسية مثل التركيب العنصري، والبنية البلورية، وتكوين الطور، وحجم حبيبات المادة. يتم تطبيقه على نطاق واسع في مجالات مثل علوم المواد، والجيولوجيا، والفيزياء، والكيمياء، والبيولوجيا، وأشباه الموصلات، وتوصيف المحفزات، وتحليل المصفوفة المعدنية، وتكنولوجيا النانو.
سمات:
1.التكامل الفعال: يمكن لقياس واحد الحصول في وقت واحد على بيانات الحيود والتحليل الطيفي، مما يزيل العملية المستهلكة للوقت والمعرضة للخطأ للقياسات التقليدية خطوة بخطوة.
2. حساسية ودقة عالية: باستخدام أجهزة الكشف والخوارزميات المتقدمة، يكون حد الكشف منخفضًا مثل مستوى جزء في المليون، وتصل دقة الدقة الهيكلية إلى المستوى الذري.
3. توسيع متعدد الوظائف: الملحقات الوظيفية المختلفة تلبي احتياجات أغراض الاختبار المختلفة. إنها تدعم أشكال العينات المختلفة (المسحوق، الكتلة، الفيلم، وما إلى ذلك)، وهي متوافقة مع بيئات خاصة مثل درجة الحرارة العالية، ودرجة الحرارة المنخفضة، والضغط العالي، ومجهزة بنظام تحكم في مولد الأشعة السينية عالي الثبات لتحقيق دقة قياس متكررة أكثر استقرارًا.
4.تكامل الأجهزة: مشاركة مصدر الأشعة السينية ومرحلة العينة ونظام التحكم لضمان تزامن المسارات البصرية ومطابقة الإشارات بين التقنيتين.
5. دمج البيانات: من خلال برامج مخصصة، يتم تحليل أنماط الحيود والبيانات الطيفية بشكل مشترك. من خلال دمج معلومات البنية البلورية من حيود الأشعة السينية (XRD) وبيانات التركيب العنصري من التحليل الطيفي للأشعة السينية (XRF)، يتم تحقيق التوصيف الكامل الأبعاد للمادة.
6. يمكن تحديد مرحلة بلورية واحدة أو أكثر في عينات غير معروفة في وقت واحد، ويمكن تحليل 40 عنصرًا في نفس الوقت.
7.باستخدام الموازنات المتعددة ونظام الشقوق الشمسية، فهو يتميز بتكنولوجيا الملكية الفكرية.
8. يتم إجراء تحليل البنية البلورية (تحليل بنية ريتفيلد)، بما في ذلك المعلمات الأساسية، وطريقة المعامل التجريبي، وما إلى ذلك.
9. في ظل الظروف غير التقليدية (مثل درجات الحرارة العالية والمنخفضة)، يمكن أن يتغير الهيكل البلوري، ويمكن استيعاب منصات عينات متعددة.
10. تحليل عينات الأفلام الرقيقة، بما في ذلك الطور البلوري للفيلم، وسمك الأفلام متعددة الطبقات، وخشونة السطح، وكثافة الشحنة.
11.تحليل عينات المناطق الدقيقة، ونسيج المواد المعدنية، وتحليل الإجهاد.
المعلمة التقنية
|
القوة المقدرة |
3 كيلو واط (تقنية التحكم في الجهد العالي عالي التردد) |
|
جهد الأنبوب |
10 - 60 كيلو فولت |
|
تيار الأنبوب |
5 - 50 مللي أمبير |
|
أنبوب الأشعة السينية |
أنبوب سيراميك معدني، المواد: Cu، Fe، Co، Cr، Mo، إلخ، الطاقة: 2.4 كيلو واط |
|
حجم النقطة البؤرية |
1 × 10 مم، 0.4 × 14 مم، 2 × 12 مم |
|
استقرار |
.000.005% |
|
نطاق الكشف عن العنصر |
نا (الصوديوم) ~ يو (اليورانيوم) |
|
هيكل مقياس الزوايا |
العينة الأفقية (θ - θ) |
|
نصف قطر دائرة الحيود |
225 مم (أو حسب الطلب كما هو مطلوب: 185 - 325 مم اختياري) |
|
سمك الكشف |
طبقة طلاء معدنية بسمك قابل للتحليل 0.0025μm |
|
نطاق قياس محتوى العنصر |
1 جزء في المليون - 99.99% |
|
2θ نطاق القياس |
- 110 درجة ~ 168 درجة |
|
سرعة المسح |
0.0012 درجة ~ 50 درجة / دقيقة |
|
سرعة تحديد المواقع الزاوية |
1500 درجة/دقيقة |
|
وضع المسح |
θ/ث/θ/دالربط، عمل واحد؛ مستمر، يخطو، 0 ملغ |
|
الحد الأدنى لزاوية الخطوة |
1/10000° |
|
التكرار الزاوي |
1/10000° |
|
2θ الخطي الزاوي |
الانحراف الزاوي لجميع القمم ضمن النطاق الكامل للعينات القياسية الدولية (سي، آل2O3) لا يتجاوز ±0.01° |
|
الكاشف |
كاشف الوميض (SC)، كاشف الفوتون الأحادي، كاشف المصفوفة عالي السرعة + كاشف الطاقة عالي الدقة |
|
الحد الأقصى لمعدل العد الخطي |
5×10⁵CPS (SC مع وظيفة تعويض العد غير المباشر)، 3×10⁵CPS (فوتون واحد)، 9×10⁵CPS (مصفوفة)، 1.5×10⁵CPS (طاقة) |
|
قرار الطاقة |
≥50% (SC)، ≥200eV (فوتون واحد)، ≥25% (مصفوفة)، ≥140eV (طاقة) |
|
وضع العد |
الوضع التفاضلي أو المتكامل، PHA التلقائي، تصحيح الوقت الميت |
|
استقرار قياس النظام |
.0.01% |
|
جرعة الإشعاع المتناثرة |
≥1μSv/h (باستثناء جهاز الحماية من الأشعة السينية) |
|
أداة الاستقرار الشامل |
.10.1% |
|
الأبعاد الشاملة |
1320×1000×1800 ملم |
اتصل شخص: Ms. Kaitlyn Wang
الهاتف :: 19376687282
الفاكس: 86-769-83078748
Arabic
