Το όργανο AL-Y3500xrdf είναι μια αναλυτική συσκευή υψηλού επιπέδου που ενσωματώνει την τεχνολογία διάθλασης ακτίνων Χ (XRD) και την τεχνολογία φασματοσκοπίας ακτίνων Χ (EDS).Χρησιμοποιείται κυρίως για την ανάλυση της στοιχειακής σύνθεσης και τον διαρθρωτικό χαρακτηρισμό των υλικώνΜέσα από μία μόνο μέτρηση, μπορεί ταυτόχρονα να αποκτήσει βασικές πληροφορίες όπως η στοιχειακή σύνθεση, η κρυσταλλική δομή, η σύνθεση φάσης και το μέγεθος του κόκκου του υλικού.Εφαρμόζεται ευρέως σε τομείς όπως η επιστήμη των υλικών, γεωλογία, φυσική, χημεία, βιολογία, ημιαγωγούς, χαρακτηρισμός καταλύτη, ανάλυση μήτρας μετάλλων και νανοτεχνολογία.

Χαρακτηριστικά:

1.Αποτελεσματική ολοκλήρωση: Με μία μόνο μέτρηση μπορούν ταυτόχρονα να ληφθούν δεδομένα διάθλασης και φασματοσκοπίας,για την εξάλειψη της χρονοβόρης και ευάλωτης σε σφάλματα διαδικασίας των παραδοσιακών σταδιακών μετρήσεων.
2Υψηλή ευαισθησία και ακρίβεια: Χρησιμοποιώντας προηγμένους ανιχνευτές και αλγόριθμους, το όριο ανίχνευσης είναι τόσο χαμηλό όσο το επίπεδο ppm και η ακρίβεια διαρθρωτικής ανάλυσης φτάνει στο ατομικό επίπεδο.
3Πολυλειτουργική επέκταση: Διαφορετικά λειτουργικά εξαρτήματα ανταποκρίνονται στις ανάγκες διαφορετικών σκοπών δοκιμών.είναι συμβατά με ειδικά περιβάλλοντα, όπως υψηλές θερμοκρασίες, χαμηλής θερμοκρασίας και υψηλής πίεσης και είναι εξοπλισμένα με σύστημα ελέγχου γεννήτριας ακτίνων Χ υψηλής σταθερότητας για την επίτευξη πιο σταθερής ακρίβειας επαναλήψεων μετρήσεων.
4Ενσωμάτωση υλικού: κοινή χρήση της πηγής ακτίνων Χ, του σταδίου δειγματοληψίας και του συστήματος ελέγχου για τη διασφάλιση του συγχρονισμού των οπτικών διαδρομών και της αντιστοίχισης των δύο τεχνολογιών.
5.Σύντηξη δεδομένων: Μέσα από ειδικό λογισμικό, τα μοτίβα διάθλασης και τα φασματικά δεδομένα αναλύονται από κοινού.Με την ενσωμάτωση των πληροφοριών κρυσταλλικής δομής από τη διάθλαση ακτίνων Χ (XRD) και των στοιχείων σύνθεσης από τη φθοριστική φασματοσκόπηση ακτίνων Χ (XRF), επιτυγχάνεται ο πλήρης διαμερισμός της ουσίας.
6Η ταυτοποίηση μιας ή περισσοτέρων κρυσταλλικών φάσεων σε άγνωστα δείγματα μπορεί να πραγματοποιηθεί ταυτόχρονα και 40 στοιχεία μπορούν να αναλυθούν ταυτόχρονα.
7Χρησιμοποιώντας πολλαπλούς κολιματήρες και σύστημα ηλιακής σχισμής, διαθέτει ιδιόκτητη τεχνολογία πνευματικής ιδιοκτησίας.
8Διεξάγεται ανάλυση κρυσταλλικής δομής (ανάλυση δομής Ritveld), συμπεριλαμβανομένων βασικών παραμέτρων, εμπειρικής μεθόδου συντελεστή κλπ.
9Υπό μη συμβατικές συνθήκες (όπως υψηλές και χαμηλές θερμοκρασίες), η κρυστάλλινη δομή μπορεί να αλλάξει και μπορούν να χρησιμοποιηθούν πολλαπλές πλατφόρμες δειγματοληψίας.

10Ανάλυση δειγμάτων λεπτών ταινιών, συμπεριλαμβανομένης της κρυσταλλικής φάσης της ταινίας, του πάχους των πολυστρωμάτων ταινιών, της τραχύτητας της επιφάνειας και της πυκνότητας φορτίου.
11Ανάλυση δειγμάτων μικροεπίπεδου, υφή μεταλλικού υλικού και ανάλυση στρες.

Τεχνική παράμετρος