Instrument AL-Y3500xrdf to zaawansowane urządzenie analityczne, które integruje technologię dyfrakcji rentgenowskiej (XRD) i technologię spektroskopii rentgenowskiej (EDS).Stosowany jest głównie do analizy składu pierwiastkowego i charakterystyki strukturalnej materiałówDzięki jednorazowemu pomiarowi może jednocześnie uzyskać kluczowe informacje, takie jak skład pierwiastków, struktura kryształowa, skład fazowy i wielkość ziarna materiału.Jest on szeroko stosowany w dziedzinach takich jak nauka materiałów, geologia, fizyka, chemia, biologia, półprzewodniki, charakterystyka katalizatora, analiza matrycy metalowej i nanotechnologia.

Charakterystyka:

1.Efektywna integracja: jedno pomiar może jednocześnie uzyskać dane dyfrakcyjne i spektroskopowe,wyeliminowanie czasochłonnego i podatnego na błędy procesu tradycyjnych stopniowych pomiarów.
2Wysoka wrażliwość i dokładność: przy użyciu zaawansowanych detektorów i algorytmów limit wykrywania jest tak niski, jak poziom ppm, a dokładność rozdzielczości strukturalnej osiąga poziom atomowy.
3Wielofunkcyjna rozbudowa: różne akcesoria funkcjonalne spełniają potrzeby różnych celów testowych.są kompatybilne ze specjalnymi środowiskami, takimi jak wysoka temperatura, niskiej temperatury i wysokiego ciśnienia, oraz są wyposażone w wysokiej stabilności system sterowania generatorem rentgenowskim w celu osiągnięcia bardziej stabilnej dokładności wielokrotnych pomiarów.
4Integracja sprzętowa: udostępnianie źródła promieniowania rentgenowskiego, etapu próbkowania i systemu sterowania w celu zapewnienia synchronizacji ścieżek optycznych i dopasowania sygnałów obu technologii.
5.Fuzja danych: Za pośrednictwem dedykowanego oprogramowania wspólnie analizuje się wzorce dyfrakcji i dane widmowe.Poprzez integrację informacji o strukturze kryształowej z dyfrakcji rentgenowskiej (XRD) i danych dotyczących składu pierwiastkowego z rentgenowskiej spektroskopii fluorescencyjnej (XRF), osiąga się pełnowymiarową charakterystykę substancji.
6Można jednocześnie zidentyfikować jedną lub więcej faz krystalicznych w nieznanych próbkach, a jednocześnie analizować 40 pierwiastków.
7Wykorzystując wiele kollimatorów i system szczelin słonecznych, posiada własną technologię własności intelektualnej.
8Przeprowadza się analizę struktury kryształowej (analiza struktury Rietvelda), obejmującą podstawowe parametry, empiryczną metodę współczynnika itp.
9W warunkach niekonwencjonalnych (takich jak wysokie i niskie temperatury) struktura kryształowa może ulec zmianie i można zastosować wiele platform próbkowych.

10Analiza próbek cienkich folii, w tym fazy krystalicznej folii, grubości wielowarstwowych folii, chropota powierzchni i gęstości ładunku.
11Analiza próbek mikroobszaru, tekstury metalu i analizy naprężenia.

Parametry techniczne