Lo strumento AL-Y3500xrdf è un dispositivo analitico di fascia alta che integra la tecnologia di diffrazione a raggi X (XRD) e la tecnologia di spettroscopia a raggi X (EDS).È utilizzato principalmente per l'analisi della composizione elementare e la caratterizzazione strutturale dei materialiAttraverso una singola misurazione, può ottenere contemporaneamente informazioni chiave come la composizione elementare, la struttura cristallina, la composizione di fase e la dimensione del grano del materiale.È ampiamente applicato in settori quali la scienza dei materiali, geologia, fisica, chimica, biologia, semiconduttori, caratterizzazione dei catalizzatori, analisi della matrice metallica e nanotecnologia.

Caratteristiche:

1.Integrazione efficiente: una singola misurazione può ottenere simultaneamente dati di diffrazione e di spettroscopia,eliminare il processo di misurazione tradizionale, che richiede molto tempo e è soggetto a errori.
2.Alta sensibilità e precisione: utilizzando rivelatori e algoritmi avanzati, il limite di rilevamento è basso come il livello di ppm e la precisione della risoluzione strutturale raggiunge il livello atomico.
3Espansione multifunzionale: vari accessori funzionali soddisfano le esigenze di diversi scopi di prova.sono compatibili con ambienti speciali quali alte temperature, a bassa temperatura e ad alta pressione, e sono dotati di un sistema di controllo del generatore a raggi X ad alta stabilità per ottenere una precisione di misurazione ripetuta più stabile.
4Integrazione hardware: condivisione della sorgente di raggi X, dello stadio di campionamento e del sistema di controllo per garantire la sincronizzazione dei percorsi ottici e la corrispondenza dei segnali delle due tecnologie.
5Fusione dei dati: attraverso un software dedicato, i modelli di diffrazione e i dati spettrali vengono analizzati congiuntamente.Integrando le informazioni sulla struttura cristallina dalla diffrazione a raggi X (XRD) e i dati sulla composizione elementare dalla spettroscopia a fluorescenza a raggi X (XRF), si ottiene la caratterizzazione a tutte le dimensioni della sostanza.
6L'identificazione di una o più fasi cristalline in campioni sconosciuti può essere effettuata simultaneamente e 40 elementi possono essere analizzati contemporaneamente.
7Utilizzando collimatori multipli e sistema di fessura solare, presenta una tecnologia di proprietà intellettuale.
8Si effettua un'analisi della struttura cristallina (analisi della struttura di Rietveld), compresi i parametri di base, il metodo empirico dei coefficienti, ecc.
9.Sotto condizioni non convenzionali (come alte e basse temperature), la struttura cristallina può cambiare e possono essere ospitate più piattaforme di campionamento.

10.Analisi di campioni di pellicola sottile, compresa la fase cristallina della pellicola, lo spessore delle pellicole multistrato, la rugosità superficiale e la densità di carica.
11Analisi di campioni di micro-area, consistenza del materiale metallico e analisi dello stress.

Parametro tecnico