AL-Y3500xrdf যন্ত্রটি একটি উচ্চ-শেষ বিশ্লেষণাত্মক ডিভাইস যা এক্স-রে ডিফ্রাকশন প্রযুক্তি (এক্সআরডি) এবং এক্স-রে স্পেকট্রোস্কোপি প্রযুক্তি (ইডিএস) একীভূত করে।এটি প্রধানত উপাদান গঠন বিশ্লেষণ এবং উপাদান কাঠামোগত চরিত্রগত জন্য ব্যবহৃত হয়. একক পরিমাপের মাধ্যমে, এটি একযোগে উপাদানটির মৌলিক রচনা, স্ফটিক কাঠামো, ফেজ রচনা এবং কণার আকারের মতো মূল তথ্য পেতে পারে।এটি ব্যাপকভাবে উপাদান বিজ্ঞান মত ক্ষেত্রে প্রয়োগ করা হয়, ভূতত্ত্ব, পদার্থবিজ্ঞান, রসায়ন, জীববিজ্ঞান, অর্ধপরিবাহী, অনুঘটক চরিত্রায়ন, ধাতব ম্যাট্রিক্স বিশ্লেষণ এবং ন্যানোপ্রযুক্তি।

বৈশিষ্ট্যঃ

1.কার্যকর একীকরণঃ একটি একক পরিমাপ একই সাথে বিভাজন এবং বর্ণনাকারী তথ্য পেতে পারে,ঐতিহ্যবাহী ধাপে ধাপে পরিমাপের সময়সাপেক্ষ এবং ত্রুটিযুক্ত প্রক্রিয়া দূর করা.
2উচ্চ সংবেদনশীলতা এবং নির্ভুলতাঃ উন্নত ডিটেক্টর এবং অ্যালগরিদম ব্যবহার করে, সনাক্তকরণের সীমা পিপিএম স্তরের মতো কম এবং কাঠামোগত রেজোলিউশনের নির্ভুলতা পারমাণবিক স্তরে পৌঁছে যায়।
3. মাল্টিফাংশনাল সম্প্রসারণঃ বিভিন্ন কার্যকরী আনুষাঙ্গিক বিভিন্ন পরীক্ষার উদ্দেশ্যে চাহিদা পূরণ করে। তারা বিভিন্ন নমুনা ফর্ম (পাউডার, ব্লক, ফিল্ম, ইত্যাদি) সমর্থন করে,উচ্চ তাপমাত্রার মত বিশেষ পরিবেশের সাথে সামঞ্জস্যপূর্ণ, নিম্ন তাপমাত্রা, এবং উচ্চ চাপ, এবং একটি উচ্চ স্থিতিশীল এক্স-রে জেনারেটর নিয়ন্ত্রণ সিস্টেম দিয়ে সজ্জিত করা হয় আরো স্থিতিশীল পুনরাবৃত্তি পরিমাপ নির্ভুলতা অর্জন করতে।
4হার্ডওয়্যার ইন্টিগ্রেশনঃ দুটি প্রযুক্তির অপটিক্যাল পথের সিঙ্ক্রোনাইজেশন এবং সংকেত মেলে তা নিশ্চিত করার জন্য এক্স-রে উত্স, নমুনা স্টেজ এবং নিয়ন্ত্রণ ব্যবস্থা ভাগ করে নেওয়া।
5ডেটা ফিউশনঃ ডেডিকেটেড সফটওয়্যারের মাধ্যমে, বিভাজন প্যাটার্ন এবং বর্ণালী তথ্য যৌথভাবে বিশ্লেষণ করা হয়।এক্স-রে ডিফ্রাকশন (এক্সআরডি) থেকে স্ফটিক কাঠামোর তথ্য এবং এক্স-রে ফ্লুওরেসেন্স স্পেকট্রোস্কোপির (এক্সআরএফ) মৌলিক রচনা ডেটা একীভূত করে, পদার্থের পূর্ণ মাত্রিক বৈশিষ্ট্য অর্জন করা হয়।
6অজানা নমুনায় এক বা একাধিক স্ফটিকের ধাপের সনাক্তকরণ একযোগে করা যায় এবং একই সময়ে ৪০টি উপাদান বিশ্লেষণ করা যায়।
7একাধিক কলিমেটর এবং সৌর স্লিট সিস্টেম ব্যবহার করে, এটিতে মালিকানাধীন বৌদ্ধিক সম্পত্তি প্রযুক্তি রয়েছে।
8মৌলিক পরামিতি, পরীক্ষামূলক সহগ পদ্ধতি ইত্যাদি সহ স্ফটিক কাঠামো বিশ্লেষণ (রিটভেল্ড কাঠামো বিশ্লেষণ) পরিচালিত হয়।
9অপ্রচলিত অবস্থার অধীনে (যেমন উচ্চ এবং নিম্ন তাপমাত্রা), স্ফটিক কাঠামো পরিবর্তন হতে পারে, এবং একাধিক নমুনা প্ল্যাটফর্ম accommodated করা যেতে পারে।

10পাতলা ফিল্মের নমুনার বিশ্লেষণ, ফিল্মের স্ফটিক পর্যায়ে, বহুস্তরীয় ফিল্মের বেধ, পৃষ্ঠের রুক্ষতা এবং চার্জ ঘনত্ব সহ।
11. মাইক্রো-এরিয়া নমুনা বিশ্লেষণ, ধাতব উপাদান টেক্সচার, এবং চাপ বিশ্লেষণ।

টেকনিক্যাল প্যারামিটার