دستگاه AL-Y3500xrdf یک دستگاه تحلیلی پیشرفته است که فناوری پراش اشعه ایکس (XRD) و فناوری طیف‌سنجی پرتو ایکس (EDS) را ادغام می‌کند. این عمدتا برای تجزیه و تحلیل ترکیب عنصری و خصوصیات ساختاری مواد استفاده می شود. از طریق یک اندازه گیری واحد، می تواند به طور همزمان اطلاعات کلیدی مانند ترکیب عنصری، ساختار بلوری، ترکیب فاز و اندازه دانه مواد را به دست آورد. این به طور گسترده در زمینه هایی مانند علم مواد، زمین شناسی، فیزیک، شیمی، زیست شناسی، نیمه هادی ها، مشخصه یابی کاتالیزور، تجزیه و تحلیل ماتریس فلزی و نانوتکنولوژی کاربرد دارد.

ویژگی ها:

1.یکپارچه سازی کارآمد: یک اندازه گیری واحد می تواند به طور همزمان داده های پراش و طیف سنجی را به دست آورد و فرآیند زمان بر و مستعد خطا اندازه گیری های گام به گام سنتی را حذف کند.
2. حساسیت و دقت بالا: با استفاده از آشکارسازها و الگوریتم های پیشرفته، حد تشخیص به اندازه سطح ppm پایین است و دقت تفکیک ساختاری به سطح اتمی می رسد.
3. گسترش چند منظوره: لوازم جانبی کاربردی مختلف نیازهای اهداف مختلف آزمایش را برآورده می کند. آنها از فرم های نمونه مختلف (پودر، بلوک، فیلم و غیره) پشتیبانی می کنند، با محیط های خاص مانند دمای بالا، دمای پایین و فشار بالا سازگار هستند و مجهز به سیستم کنترل ژنراتور اشعه ایکس با پایداری بالا برای دستیابی به دقت اندازه گیری تکرار پایدارتر هستند.
4. یکپارچه سازی سخت افزار: به اشتراک گذاری منبع اشعه ایکس، مرحله نمونه و سیستم کنترل برای اطمینان از همگام سازی مسیرهای نوری و تطبیق سیگنال دو فناوری.
5. ادغام داده ها: از طریق نرم افزار اختصاصی، الگوهای پراش و داده های طیفی به طور مشترک تجزیه و تحلیل می شوند. با ادغام اطلاعات ساختار کریستالی از پراش پرتو ایکس (XRD) و داده‌های ترکیب عنصری از طیف‌سنجی فلورسانس پرتو ایکس (XRF)، خصوصیات تمام‌بعدی ماده به دست می‌آید.
6. شناسایی یک یا چند فاز کریستالی در نمونه های ناشناخته می تواند به طور همزمان انجام شود و 40 عنصر را می توان همزمان تجزیه و تحلیل کرد.
7. با استفاده از چند کولیماتور و سیستم شکاف خورشیدی، دارای فناوری مالکیت معنوی اختصاصی است.
8. تجزیه و تحلیل ساختار بلوری (تجزیه و تحلیل ساختار Rietveld) شامل پارامترهای اساسی، روش ضریب تجربی و غیره انجام می شود.
9. تحت شرایط غیر متعارف (مانند دماهای بالا و پایین)، ساختار کریستالی می تواند تغییر کند و چندین پلت فرم نمونه را می توان جای داد.

10. تجزیه و تحلیل نمونه های لایه نازک، از جمله فاز کریستالی فیلم، ضخامت لایه های چند لایه، زبری سطح، و چگالی بار.
11. تجزیه و تحلیل نمونه های ریز ناحیه، بافت مواد فلزی و آنالیز تنش.

پارامتر فنی