Das AL-Y3500xrdf-Instrument ist ein hochwertiges Analysegerät, das Röntgendiffraktionstechnologie (XRD) und Röntgenspektroskopie (EDS) integriert.Es wird hauptsächlich für die Analyse der Elementarsammensetzung und die strukturelle Charakterisierung von Materialien verwendetDurch eine einzige Messung kann es gleichzeitig wichtige Informationen wie die Elementenzusammensetzung, die Kristallstruktur, die Phasenzusammensetzung und die Korngröße des Materials erhalten.Es wird in Bereichen wie der Materialwissenschaft weit verbreitet., Geologie, Physik, Chemie, Biologie, Halbleiter, Katalysatorcharakterisierung, Metallmatrixanalyse und Nanotechnologie.

Eigenschaften:

1.Effiziente Integration: Mit einer einzigen Messung können gleichzeitig Beugungs- und Spektroskopiedaten gewonnen werden.zur Beseitigung des zeitaufwendigen und fehleranfälligen Prozesses der traditionellen Schritt-für-Schritt-Messungen.
2Hohe Empfindlichkeit und Genauigkeit: Mit Hilfe fortschrittlicher Detektoren und Algorithmen ist die Detektionsgrenze so niedrig wie das ppm-Niveau, und die Strukturgenauigkeit erreicht die Atomstufe.
3.Multifunktionale Erweiterung: Verschiedene funktionelle Zubehörteile erfüllen die Bedürfnisse verschiedener Prüfzwecke.mit speziellen Umgebungen wie hohen Temperaturen kompatibel sind, niedrige Temperatur und hoher Druck und sind mit einem hochstabilen Röntgengenerator-Steuerungssystem ausgestattet, um eine stabilere Wiederholungsgenauigkeit zu erzielen.
4.Hardware-Integration: gemeinsame Nutzung der Röntgenquelle, der Probenstufe und des Steuerungssystems, um die Synchronisierung der optischen Wege und die Signalmatching der beiden Technologien zu gewährleisten.
5.Datenfusion: Durch spezielle Software werden die Beugungsmuster und Spektraldaten gemeinsam analysiert.Durch Integration der Kristallstrukturinformationen aus der Röntgendiffraktion (XRD) und der Elementarsammensetzungdaten aus der Röntgenfluoreszenzspektroskopie (XRF), wird die volldimensionale Charakterisierung des Stoffes erreicht.
6Die Identifizierung einer oder mehrerer Kristallphasen in unbekannten Proben kann gleichzeitig durchgeführt werden, und 40 Elemente können gleichzeitig analysiert werden.
7Es verwendet mehrere Kollimatoren und ein Solar-Slit-System und verfügt über eine proprietäre geistige Eigentums-Technologie.
8Es wird eine Analyse der Kristallstruktur (Rietveld-Strukturanalyse) durchgeführt, einschließlich der Grundparameter, der empirischen Koeffizientenmethode usw.
9Unter unkonventionellen Bedingungen (wie hohen und niedrigen Temperaturen) kann sich die Kristallstruktur ändern und mehrere Probenplattformen untergebracht werden.

10Analyse von dünnen Filmproben, einschließlich der Kristallphase des Films, der Dicke der mehrschichtigen Filme, Oberflächenrauheit und Ladedichte.
11.Analyse von Mikro-Flächenproben, Metallmaterialtextur und Spannungsanalyse.

Technischer Parameter