O instrumento AL-Y3500xrdf é um dispositivo analítico de última geração que integra tecnologia de difração de raios X (XRD) e tecnologia de espectroscopia de raios X (EDS). É utilizado principalmente para análise de composição elementar e caracterização estrutural de materiais. Através de uma única medição, ele pode obter simultaneamente informações importantes, como composição elementar, estrutura cristalina, composição de fases e tamanho de grão do material. É amplamente aplicado em áreas como ciência de materiais, geologia, física, química, biologia, semicondutores, caracterização de catalisadores, análise de matriz metálica e nanotecnologia.

Características:

1.Integração eficiente: Uma única medição pode obter simultaneamente dados de difração e espectroscopia, eliminando o processo demorado e sujeito a erros das medições tradicionais passo a passo.
2.Alta sensibilidade e precisão: Utilizando detectores e algoritmos avançados, o limite de detecção é tão baixo quanto o nível ppm, e a precisão da resolução estrutural atinge o nível atômico.
3.Expansão multifuncional: Vários acessórios funcionais atendem às necessidades de diferentes finalidades de teste. Eles suportam vários formatos de amostra (pó, bloco, filme, etc.), são compatíveis com ambientes especiais, como alta temperatura, baixa temperatura e alta pressão, e são equipados com um sistema de controle de gerador de raios X de alta estabilidade para obter uma precisão de medição repetida mais estável.
4. Integração de hardware: Compartilhando a fonte de raios X, estágio de amostra e sistema de controle para garantir a sincronização dos caminhos ópticos e correspondência de sinal das duas tecnologias.
5. Fusão de dados: Através de software dedicado, os padrões de difração e os dados espectrais são analisados ​​em conjunto. Ao integrar as informações da estrutura cristalina da difração de raios X (XRD) e os dados da composição elementar da espectroscopia de fluorescência de raios X (XRF), a caracterização dimensional completa da substância é alcançada.
6. A identificação de uma ou mais fases cristalinas em amostras desconhecidas pode ser realizada simultaneamente, e 40 elementos podem ser analisados ​​ao mesmo tempo.
7. Utilizando múltiplos colimadores e sistema de fenda solar, possui tecnologia proprietária de propriedade intelectual.
8.A análise da estrutura cristalina (análise da estrutura Rietveld) é realizada, incluindo parâmetros básicos, método de coeficiente empírico, etc.
9.Sob condições não convencionais (como altas e baixas temperaturas), a estrutura cristalina pode mudar e várias plataformas de amostra podem ser acomodadas.

10.Análise de amostras de filmes finos, incluindo a fase cristalina do filme, a espessura dos filmes multicamadas, rugosidade superficial e densidade de carga.
11.Análise de amostras de microáreas, textura de material metálico e análise de tensão.

Parâmetro Técnico