AL-Y3500xrdf 도구는 X선 difrction 기술 (XRD) 와 X선 분광 기술 (EDS) 을 통합 한 고급 분석 장치입니다.그것은 주로 재료의 원소 구성 분석 및 구조적 특성화에 사용됩니다.단 하나의 측정으로, 그것은 동시에 재료의 원소 구성, 결정 구조, 단계 구성 및 곡물 크기와 같은 주요 정보를 얻을 수 있습니다.그것은 널리 재료 과학과 같은 분야에서 적용됩니다.지질학, 물리학, 화학, 생물학, 반도체, 촉매 특성화, 금속 행렬 분석 및 나노 기술.

특징:

1.효율적인 통합: 하나의 측정으로 동시에 분광 데이터와 분광 데이터를 얻을 수 있습니다.전통적인 단계별 측정의 시간과 오류가 많은 프로세스를 제거하는 것.
2높은 감수성과 정확성: 첨단 탐지기와 알고리즘을 사용하여 탐지 한도는 ppm 수준만큼 낮고 구조 해상도의 정확도는 원자 수준에 도달합니다.
3다기능 확장: 다양한 기능적 액세서리는 다양한 테스트 목적의 요구를 충족시킵니다. 다양한 샘플 형태 (파우더, 블록, 필름 등) 를 지원합니다.높은 온도와 같은 특별한 환경에 적합합니다., 낮은 온도, 고압, 그리고 더 안정적인 반복 측정 정확성을 달성하기 위해 높은 안정성 X-선 발전기 제어 시스템으로 장착됩니다.
4하드웨어 통합: X선 소스, 샘플 스테이지 및 제어 시스템을 공유하여 두 기술의 광 경로 동기화 및 신호 일치를 보장합니다.
5데이터 융합: 전용 소프트웨어를 통해 분사 패턴과 스펙트럼 데이터가 공동으로 분석됩니다.엑스선 difrction (XRD) 에서 결정 구조 정보와 X선 형광 분광 (XRF) 에서 원소 구성 데이터 통합, 물질의 전체 차원적 특징이 달성됩니다.
6알 수 없는 샘플에서 하나 이상의 결정 단계의 식별이 동시에 수행될 수 있으며, 40개의 요소가 동시에 분석될 수 있다.
7복수의 콜리미터와 태양열 슬리트 시스템을 사용하며 독점 지적 재산권 기술을 갖추고 있습니다.
8크리스탈 구조 분석 (리트벨드 구조 분석) 을 수행합니다. 기본 매개 변수, 경험적 계수 방법 등을 포함합니다.
9비정상적인 조건 (고온과 낮은 온도 등) 하에서 결정 구조가 변경될 수 있으며 여러 샘플 플랫폼을 수용할 수 있습니다.

10얇은 필름 샘플 분석, 필름의 결정 단계, 다층 필름의 두께, 표면 거칠성 및 전하 밀도를 포함하여.
11미세 영역 샘플 분석, 금속 물질 질감 및 스트레스 분석

기술 매개 변수