Instrumen AL-Y3500xrdf adalah perangkat analitik kelas atas yang mengintegrasikan teknologi difraksi sinar-X (XRD) dan teknologi spektroskopi sinar-X (EDS). Hal ini terutama digunakan untuk analisis komposisi unsur dan karakterisasi struktural bahan. Melalui satu pengukuran, secara bersamaan dapat diperoleh informasi penting seperti komposisi unsur, struktur kristal, komposisi fasa, dan ukuran butir material. Ini diterapkan secara luas di berbagai bidang seperti ilmu material, geologi, fisika, kimia, biologi, semikonduktor, karakterisasi katalis, analisis matriks logam, dan nanoteknologi.

Fitur:

1.Integrasi yang efisien: Pengukuran tunggal dapat memperoleh data difraksi dan spektroskopi secara bersamaan, menghilangkan proses pengukuran langkah demi langkah tradisional yang memakan waktu dan rawan kesalahan.
2. Sensitivitas dan akurasi tinggi: Memanfaatkan detektor dan algoritme canggih, batas deteksi serendah tingkat ppm, dan akurasi resolusi struktural mencapai tingkat atom.
3. Ekspansi multi-fungsi: Berbagai aksesori fungsional memenuhi kebutuhan tujuan pengujian yang berbeda. Mereka mendukung berbagai bentuk sampel (bubuk, balok, film, dll.), kompatibel dengan lingkungan khusus seperti suhu tinggi, suhu rendah, dan tekanan tinggi, dan dilengkapi dengan sistem kontrol generator sinar-X berstabilitas tinggi untuk mencapai akurasi pengukuran berulang yang lebih stabil.
4. Integrasi perangkat keras: Berbagi sumber sinar-X, tahap sampel, dan sistem kontrol untuk memastikan sinkronisasi jalur optik dan pencocokan sinyal kedua teknologi.
5. Penggabungan data: Melalui perangkat lunak khusus, pola difraksi dan data spektral dianalisis bersama. Dengan mengintegrasikan informasi struktur kristal dari difraksi sinar-X (XRD) dan data komposisi unsur dari spektroskopi fluoresensi sinar-X (XRF), karakterisasi dimensi penuh zat dapat dicapai.
6.Identifikasi satu atau lebih fase kristal dalam sampel yang tidak diketahui dapat dilakukan secara bersamaan, dan 40 elemen dapat dianalisis pada waktu yang bersamaan.
7. Memanfaatkan beberapa kolimator dan sistem celah surya, ia menampilkan teknologi kekayaan intelektual eksklusif.
8. Analisis struktur kristal (analisis struktur Rietveld) dilakukan, termasuk parameter dasar, metode koefisien empiris, dll.
9.Dalam kondisi yang tidak biasa (seperti suhu tinggi dan rendah), struktur kristal dapat berubah, dan beberapa platform sampel dapat ditampung.

10.Analisis sampel film tipis, termasuk fase kristal film, ketebalan film multilayer, kekasaran permukaan, dan kepadatan muatan.
11.Analisis sampel area mikro, tekstur bahan logam, dan analisis tegangan.

Parameter Teknis