Mapeo espectroscópico Ellipsómetro espectral Ellipsómetro espectroscópico Ellipsometry máquina máquina de prueba de laboratorio

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I. Resumen general

El ELIPSÍMETRO ESPECTRAL ME-Mapping es un espectrómetro de medición de Mapping personalizable capaz de hacer mapas. It is equipped with an automatic Mapping measurement module and can quickly achieve self-defined mapping measurement characterization and analysis of film thickness and optical parameters through the measurement of ellipsometric parameters and transmission/reflection rates.

1.Solución completa para el mapeo y la medición de todo el sustrato por ellipsometría.

2.Apoya el diseño de productos y la personalización de módulos funcionales, con un solo clic en el dibujo de medición;

3.Configurar el módulo de mapeo, permitiendo la capacidad de medición de posicionamiento multipunto personalizado del sustrato completo;

4.La abundante base de datos y la biblioteca de modelos de estructura geométrica aseguran una poderosa capacidad de análisis de datos.

II. Características del producto

1.Se adopta una fuente de luz compuesta compuesta por lámparas de deuterio y lámparas halógenas, con un rango espectral que abarca desde el ultravioleta hasta el infrarrojo cercano (193 - 2500 nm).

2.La modulación del compensador de rotación de alta precisión y la configuración PCRSA permiten la adquisición de datos espectral Psi/Delta a alta velocidad.

3.Tiene la capacidad de personalizar completamente la medición automática de posicionamiento multipunto para todo el sustrato y proporciona informes completos de detección y análisis del grosor de la película;

4.Se dispone de cientos de bases de datos de materiales y bibliotecas de modelos de algoritmos múltiples, que cubren la gran mayoría de los materiales fotovoltaicos actuales.

III. Aplicaciones del producto 

El ME-Mapping se utiliza ampliamente en aplicaciones industriales como OLED, LED, fotovoltaicos y circuitos integrados, lo que permite medir y caracterizar rápidamente el grosor de la película de sustrato de gran superficie,constantes ópticas, y la distribución del grosor de la película.

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Especificación técnica