แผนที่ เอลลิปโซกอปติก เอลลิปโซกอปติก เอลลิปโซกอปติก เอลลิปโซกอปติก เครื่องทดสอบห้องปฏิบัติการ

แผนที่เอลลิปโซเมตรสเปคตรสโกปิก เอลลิปโซเมตรสเปคตรสโกปิก เอลลิปโซเมตร เครื่องราคาโรงงาน

I. ภาพรวม

ME-Mapping Spectral Ellipsometer เป็นเครื่องวัดสเปคตรอมเตอร์ที่สามารถจําหน่ายได้ It is equipped with an automatic Mapping measurement module and can quickly achieve self-defined mapping measurement characterization and analysis of film thickness and optical parameters through the measurement of ellipsometric parameters and transmission/reflection rates.

1.โซลูชั่นครบวงจรสําหรับการสร้างแผนภูมิเอลลิปโซเมตร และการวัดของสับสราททั้งหมด

2.รองรับการออกแบบสินค้าและการปรับปรุงโมดูลการทํางาน ด้วยการวาดภาพการวัดด้วยคลิกเดียว

3.การตั้งค่าโมดูลการแผนที่ เพื่อให้สามารถวัดตําแหน่งหลายจุดตามความต้องการของสับสราทได้อย่างเต็มที่

4.ข้อมูลฐานที่มากมายและห้องสมุดรูปแบบโครงสร้างทางกณิตศาสตร์ รับประกันความสามารถในการวิเคราะห์ข้อมูลที่แข็งแรง

II ลักษณะสินค้า

1.ใช้แหล่งแสงประกอบที่ประกอบด้วยหลอดดีเทเรียมและหลอดฮาโลเจน โดยมีช่วงสเปคตรัลที่ครอบคลุมจากอัลตราไวโอเล็ตถึงอินฟราเรดใกล้ (193 - 2500 nm)

2.การปรับปรุงค่าชดเชยหมุนความแม่นยําสูงและการตั้งค่า PCRSA ทําให้สามารถรับข้อมูลสเปคตรัล Psi/Delta ได้อย่างรวดเร็ว

3.มีความสามารถในการปรับเปลี่ยนการวัดตําแหน่งอัตโนมัติหลายจุดให้เหมาะสมกับพื้นฐานทั้งหมด และให้รายงานการตรวจสอบและวิเคราะห์ความหนาของฟิล์มที่ครบวงจร

4.มีฐานข้อมูลวัสดุหลายร้อยฐาน และห้องสมุดรูปแบบอัลกอริทึมหลายอันที่ใช้ได้ ซึ่งครอบคลุมส่วนใหญ่ของวัสดุไฟฟ้าไฟฟ้าปัจจุบัน

III. การใช้งานของผลิตภัณฑ์ 

ME-Mapping ถูกใช้อย่างแพร่หลายในอุตสาหกรรม เช่น OLED, LED, โฟโตวอลเตีย และวงจรบูรณาการ ทําให้สามารถวัดและประกอบลักษณะความหนาของแผ่นเยื่อได้อย่างรวดเร็วสถานที่แสงและการกระจายความหนาของฟิล์ม

แผนที่เอลลิปโซเมตรสเปคตรสโกปิก เอลลิปโซเมตรสเปคตรสโกปิก เอลลิปโซเมตร เครื่องราคาโรงงาน

รายละเอียดเทคนิค