Το ME-Mapping Spectral Ellipsometer είναι ένα προσαρμόσιμο φασματόμετρο μέτρησης χαρτογράφησης με δυνατότητα χαρτογράφησης. Είναι εξοπλισμένο με μια μονάδα αυτόματης μέτρησης χαρτογράφησης και μπορεί γρήγορα να επιτύχει αυτοκαθορισμένο χαρακτηρισμό μέτρησης χαρτογράφησης και ανάλυση του πάχους του φιλμ και των οπτικών παραμέτρων μέσω της μέτρησης των ελλειψομετρικών παραμέτρων και των ρυθμών μετάδοσης/αντανάκλασης.
1.Ολοκληρωμένη λύση για χαρτογράφηση ελλειψομετρίας και μέτρηση όλου του υποστρώματος.
2.Υποστηρίζει το σχεδιασμό προϊόντων και την προσαρμογή λειτουργικών μονάδων, με σχέδιο μέτρησης με ένα κλικ.
3.Διαμορφώστε τη μονάδα αντιστοίχισης, επιτρέποντας τη δυνατότητα μέτρησης προσαρμοσμένης θέσης πολλαπλών σημείων πλήρους υποστρώματος.
4.Η άφθονη βάση δεδομένων και η βιβλιοθήκη μοντέλων γεωμετρικής δομής εξασφαλίζουν μια ισχυρή ικανότητα ανάλυσης δεδομένων.
II. Χαρακτηριστικά προϊόντος
1.Υιοθετείται μια σύνθετη πηγή φωτός που αποτελείται από λάμπες δευτερίου και λαμπτήρες αλογόνου, με τη φασματική περιοχή να καλύπτει από το υπεριώδες έως το εγγύς υπέρυθρο (193 - 2500 nm).
2.Η διαμόρφωση αντισταθμιστή περιστροφής υψηλής ακρίβειας και η διαμόρφωση PCRSA επιτρέπουν την απόκτηση φασματικών δεδομένων Psi/Delta υψηλής ταχύτητας.
3.Έχει τη δυνατότητα πλήρους προσαρμογής της αυτόματης μέτρησης θέσης πολλαπλών σημείων για ολόκληρο το υπόστρωμα και παρέχει εκτενείς αναφορές ανίχνευσης πάχους φιλμ και ανάλυσης.
4.Διατίθενται εκατοντάδες βάσεις δεδομένων υλικών και βιβλιοθήκες πολλαπλών μοντέλων αλγορίθμων, που καλύπτουν τη συντριπτική πλειοψηφία των σημερινών φωτοβολταϊκών υλικών.
III. Εφαρμογές προϊόντων
Το ME-Mapping χρησιμοποιείται ευρέως σε βιομηχανικές εφαρμογές όπως OLED, LED, φωτοβολταϊκά και ολοκληρωμένα κυκλώματα, επιτρέποντας ταχεία μέτρηση και χαρακτηρισμό του πάχους φιλμ υποστρώματος μεγάλης περιοχής, των οπτικών σταθερών και της διανομής πάχους φιλμ.
Το μήνυμά σας πρέπει να αποτελείται από 20-3.000 χαρακτήρες!
Greek
