Mapping Spectroscopische Ellipsometer Spectrum Ellipsometer Spectroscopische Ellipsometrie Machine Lab Test Machine

Spectroscopische ellipsometer in kaart brengen Spectrale ellipsometer Spectroscopische ellipsometriemachine Fabrieksprijs

I. Overzicht

De ME-Mapping Spectral Ellipsometer is een aanpasbare Mapping-meetspectrometer die in kaart kan worden gebracht. Het is uitgerust met een automatische Mapping-meetmodule en kan snel een zelfgedefinieerde mapping-metingskarakterisering en analyse van filmdikte en optische parameters realiseren door het meten van ellipsometrische parameters en transmissie-/reflectiesnelheden.

1.Complete oplossing voor het ellipsometrisch in kaart brengen en meten van het gehele substraat;

2.Ondersteunt productontwerp en aanpassing van functionele modules, met meettekening met één klik;

3.Configureer de Mapping-module, waardoor volledige op maat gemaakte meerpuntspositioneringsmeetmogelijkheden op het substraat mogelijk zijn;

4.De overvloedige database en bibliotheek met geometrische structuurmodellen zorgen voor krachtige gegevensanalysemogelijkheden.

II. Producteigenschappen

1.Er wordt gebruik gemaakt van een samengestelde lichtbron bestaande uit deuteriumlampen en halogeenlampen, waarbij het spectrale bereik reikt van ultraviolet tot nabij-infrarood (193 - 2500 nm).

2.Zeer nauwkeurige rotatiecompensatormodulatie en PCRSA-configuratie maken snelle acquisitie van Psi/Delta-spectrale gegevens mogelijk.

3.Het heeft de mogelijkheid om meerpunts automatische positioneringsmetingen voor het gehele substraat volledig aan te passen, en biedt uitgebreide filmdiktedetectie- en analyserapporten;

4.Er zijn honderden materiaaldatabases en meerdere algoritmemodelbibliotheken beschikbaar, die de overgrote meerderheid van de huidige fotovoltaïsche materialen bestrijken.

III. Producttoepassingen 

ME-Mapping wordt veel gebruikt in industriële toepassingen zoals OLED, LED, fotovoltaïsche en geïntegreerde schakelingen, waardoor snelle meting en karakterisering van substraatfilmdikte over grote oppervlakken, optische constanten en filmdikteverdeling mogelijk is.

Spectroscopische ellipsometer in kaart brengen Spectrale ellipsometer Spectroscopische ellipsometriemachine Fabrieksprijs

Technische specificatie