رسم خريطة إليبسومتر الطيفي إليبسومتر الطيفي آلة إليبسومتر الطيفي آلة اختبار المختبر

رسم الخرائط مقياس القطع الناقص الطيفي مقياس القطع الناقص الطيفي آلة قياس القطع الناقص سعر المصنع

I. نظرة عامة

مقياس القطع الناقص الطيفي ME-Mapping هو مطياف قياس رسم الخرائط قابل للتخصيص وقادر على رسم الخرائط. وهي مجهزة بوحدة قياس رسم الخرائط التلقائية ويمكنها تحقيق توصيف قياس رسم الخرائط المحدد ذاتيًا وتحليل سماكة الفيلم والمعلمات البصرية من خلال قياس معلمات القياس الإهليلجي ومعدلات النقل/الانعكاس.

1.الحل الكامل لرسم خرائط قياس القطع الناقص وقياس الركيزة بأكملها؛

2.يدعم تصميم المنتج وتخصيص الوحدات الوظيفية، من خلال رسم القياس بنقرة واحدة؛

3.تكوين وحدة رسم الخرائط، مما يتيح إمكانية قياس تحديد المواقع متعددة النقاط المخصصة للركيزة بالكامل؛

4.تضمن قاعدة البيانات الوفيرة ومكتبة نماذج البنية الهندسية قدرة قوية على تحليل البيانات.

ثانيا. ميزات المنتج

1.تم اعتماد مصدر ضوء مركب يتكون من مصابيح الديوتيريوم ومصابيح الهالوجين، مع نطاق طيفي يغطي من الأشعة فوق البنفسجية إلى الأشعة تحت الحمراء القريبة (193 - 2500 نانومتر).

2.يتيح تعديل معوض الدوران عالي الدقة وتكوين PCRSA الحصول على البيانات الطيفية Psi/Delta بسرعة عالية.

3.إنها تتمتع بالقدرة على التخصيص الكامل لقياس تحديد المواقع التلقائي متعدد النقاط للركيزة بأكملها، وتوفر تقارير شاملة للكشف عن سماكة الفيلم وتحليلها؛

4.تتوفر المئات من قواعد بيانات المواد ومكتبات نماذج الخوارزميات المتعددة، والتي تغطي الغالبية العظمى من المواد الكهروضوئية الحالية.

ثالثا. تطبيقات المنتج 

يتم استخدام ME-Mapping على نطاق واسع في التطبيقات الصناعية مثل OLED، وLED، والخلايا الكهروضوئية، والدوائر المتكاملة، مما يتيح القياس السريع وتوصيف سماكة طبقة الركيزة ذات المساحة الكبيرة، والثوابت البصرية، وتوزيع سماكة الفيلم.

رسم الخرائط مقياس القطع الناقص الطيفي مقياس القطع الناقص الطيفي آلة قياس القطع الناقص سعر المصنع

المواصفات الفنية