logo
Ana sayfa ÜrünlerLaboratuvar Test Makinesi

Haritalama Spektroskopik Ellipsometre Spektroskopik Ellipsometre Makinesi Laboratuvar Test Makinesi

Sertifika
ÇİN DONGGUAN LONROY EQUIPMENT CO LTD Sertifikalar
ÇİN DONGGUAN LONROY EQUIPMENT CO LTD Sertifikalar
Ben sohbet şimdi

Haritalama Spektroskopik Ellipsometre Spektroskopik Ellipsometre Makinesi Laboratuvar Test Makinesi

Mapping Spectroscopic Ellipsometer Spectral Ellipsometer Spectroscopic Ellipsometry Machine Lab Test Machine
Mapping Spectroscopic Ellipsometer Spectral Ellipsometer Spectroscopic Ellipsometry Machine Lab Test Machine Mapping Spectroscopic Ellipsometer Spectral Ellipsometer Spectroscopic Ellipsometry Machine Lab Test Machine Mapping Spectroscopic Ellipsometer Spectral Ellipsometer Spectroscopic Ellipsometry Machine Lab Test Machine Mapping Spectroscopic Ellipsometer Spectral Ellipsometer Spectroscopic Ellipsometry Machine Lab Test Machine Mapping Spectroscopic Ellipsometer Spectral Ellipsometer Spectroscopic Ellipsometry Machine Lab Test Machine Mapping Spectroscopic Ellipsometer Spectral Ellipsometer Spectroscopic Ellipsometry Machine Lab Test Machine

Büyük resim :  Haritalama Spektroskopik Ellipsometre Spektroskopik Ellipsometre Makinesi Laboratuvar Test Makinesi

Ürün ayrıntıları:
Menşe yeri: Guangdong, Çin
Marka adı: LONROY
Ödeme & teslimat koşulları:
Min sipariş miktarı: 1

Haritalama Spektroskopik Ellipsometre Spektroskopik Ellipsometre Makinesi Laboratuvar Test Makinesi

Açıklama
Tip: Test makinesi Doğruluk sınıfı: Yüksek doğruluk
Kesinlik: / Başvuru: Otomatik Test
Özelleştirilmiş destek: OEM, ODM, OBM Güç: -
Koruma Sınıfı: IP56 Gerilim: 220 V
Garanti: 1 Yıl Tekrarlanabilirlik ölçüm doğruluğu: 0,01nm
Olay açısı aralığı: 45-90° Haritalama konturu: 100*100mm (isteğe bağlı)
Desteklenen örnek boyutu: 200 mm'ye kadar
Vurgulamak:

Spektroskopik elipsometr laboratuvar makinesi

,

haritalama spektroskopik elipsometrisi

,

spektroskopik elipsometrisi test makinesi

Haritalama Spektroskopik Elipsometre Spektral Elipsometre Spektroskopik Elipsometri Makinesi Laboratuvar Test Cihazı

Haritalama Spektroskopik Elipsometre Spektral Elipsometre Spektroskopik Elipsometri Makinesi Fabrika Fiyatı

 

I. Genel Bakış

ME-Haritalama Spektral Elipsometresi, haritalama yapabilen, özelleştirilebilir bir Haritalama ölçüm spektrometresidir. Otomatik bir Haritalama ölçüm modülü ile donatılmıştır ve elipsometrik parametrelerin ve iletim/yansıma oranlarının ölçümü yoluyla film kalınlığı ve optik parametrelerin kendi kendine tanımlanmış haritalama ölçüm karakterizasyonunu ve analizini hızlı bir şekilde gerçekleştirebilir.

 

1.Tüm alt tabakanın elipsometri haritalaması ve ölçümü için eksiksiz çözüm;

2.Tek tıklamayla ölçüm çizimi ile ürün tasarımını ve fonksiyonel modüllerin özelleştirilmesini destekler;

3.Tam alt tabakanın özel çok noktalı konumlandırma ölçüm yeteneğini etkinleştirerek Haritalama modülünü yapılandırın;

4.Bol veritabanı ve geometrik yapı modeli kütüphanesi, güçlü bir veri analizi yeteneği sağlar.

 

II. Ürün Özellikleri

1.Ultraviyoleden yakın kızılötesine (193 - 2500 nm) kadar uzanan spektral aralığa sahip, döteryum lambalar ve halojen lambalardan oluşan kompozit bir ışık kaynağı benimsenmiştir.

2.Yüksek hassasiyetli rotasyon kompansatör modülasyonu ve PCRSA konfigürasyonu, Psi/Delta spektral verilerinin yüksek hızda edinilmesini sağlar.

3.Tüm alt tabaka için çok noktalı otomatik konumlandırma ölçümünü tamamen kişiselleştirme yeteneğine sahiptir ve kapsamlı film kalınlığı algılama ve analiz raporları sağlar;

4.Mevcut fotovoltaik malzemelerin büyük çoğunluğunu kapsayan yüzlerce malzeme veri tabanı ve çoklu algoritma modeli kitaplıkları mevcuttur.

 

III. Ürün Uygulamaları 

ME-Haritalama, OLED, LED, fotovoltaik ve entegre devreler gibi endüstriyel uygulamalarda yaygın olarak kullanılmakta olup, geniş alanlı alt tabaka film kalınlığının, optik sabitlerin ve film kalınlığı dağılımının hızlı ölçümüne ve karakterizasyonuna olanak sağlar.

 

  

Haritalama Spektroskopik Elipsometre Spektral Elipsometre Spektroskopik Elipsometri Makinesi Fabrika Fiyatı

 

Teknik Şartname

 

 

Modeli

ME-Haritalama

Uygulama konumlandırma

Otomatik tip

Temel işlevler

Psi/Delta, N/C/S, R/T ve diğer spektrumlar

Analitik spektrum

380-1000 nm (193-1650 nm'ye genişletmeyi destekler)

Tek ölçüm süresi

S15'ler

Tekrarlanabilirlik ölçüm doğruluğu

0.01nm

Nokta boyutu

Büyük nokta 2-4mm, mikro nokta 200um/100um

Kırılma indisi tekrarlanabilirlik doğruluğu

0,0005

 

Olay açısı aralığı

45-90°

Olay açısı ayarlama yöntemi

Otomatik değişken açı

Odaklanma yöntemi

Otomatik odaklama

Haritalama konturu

100*100mm (isteğe bağlı)

Desteklenen örnek boyutu

200 mm'ye kadar

 

 

 

Haritalama Spektroskopik Ellipsometre Spektroskopik Ellipsometre Makinesi Laboratuvar Test MakinesiHaritalama Spektroskopik Ellipsometre Spektroskopik Ellipsometre Makinesi Laboratuvar Test MakinesiHaritalama Spektroskopik Ellipsometre Spektroskopik Ellipsometre Makinesi Laboratuvar Test MakinesiHaritalama Spektroskopik Ellipsometre Spektroskopik Ellipsometre Makinesi Laboratuvar Test Makinesi

İletişim bilgileri
DONGGUAN LONROY EQUIPMENT CO LTD

İlgili kişi: Kaitlyn Wang

Tel: 19376687282

Faks: 86-769-83078748

Sorgunuzu doğrudan bize gönderin (0 / 3000)