|
Ürün ayrıntıları:
|
| Tip: | Test makinesi | Doğruluk sınıfı: | Yüksek doğruluk |
|---|---|---|---|
| Kesinlik: | / | Başvuru: | Otomatik Test |
| Özelleştirilmiş destek: | OEM, ODM, OBM | Güç: | - |
| Koruma Sınıfı: | IP56 | Gerilim: | 220 V |
| Garanti: | 1 Yıl | Tekrarlanabilirlik ölçüm doğruluğu: | 0,01nm |
| Olay açısı aralığı: | 45-90° | Haritalama konturu: | 100*100mm (isteğe bağlı) |
| Desteklenen örnek boyutu: | 200 mm'ye kadar | ||
| Vurgulamak: | Spektroskopik elipsometr laboratuvar makinesi,haritalama spektroskopik elipsometrisi,spektroskopik elipsometrisi test makinesi |
||
Haritalama Spektroskopik Elipsometre Spektral Elipsometre Spektroskopik Elipsometri Makinesi Fabrika Fiyatı
I. Genel Bakış
ME-Haritalama Spektral Elipsometresi, haritalama yapabilen, özelleştirilebilir bir Haritalama ölçüm spektrometresidir. Otomatik bir Haritalama ölçüm modülü ile donatılmıştır ve elipsometrik parametrelerin ve iletim/yansıma oranlarının ölçümü yoluyla film kalınlığı ve optik parametrelerin kendi kendine tanımlanmış haritalama ölçüm karakterizasyonunu ve analizini hızlı bir şekilde gerçekleştirebilir.
1.Tüm alt tabakanın elipsometri haritalaması ve ölçümü için eksiksiz çözüm;
2.Tek tıklamayla ölçüm çizimi ile ürün tasarımını ve fonksiyonel modüllerin özelleştirilmesini destekler;
3.Tam alt tabakanın özel çok noktalı konumlandırma ölçüm yeteneğini etkinleştirerek Haritalama modülünü yapılandırın;
4.Bol veritabanı ve geometrik yapı modeli kütüphanesi, güçlü bir veri analizi yeteneği sağlar.
II. Ürün Özellikleri
1.Ultraviyoleden yakın kızılötesine (193 - 2500 nm) kadar uzanan spektral aralığa sahip, döteryum lambalar ve halojen lambalardan oluşan kompozit bir ışık kaynağı benimsenmiştir.
2.Yüksek hassasiyetli rotasyon kompansatör modülasyonu ve PCRSA konfigürasyonu, Psi/Delta spektral verilerinin yüksek hızda edinilmesini sağlar.
3.Tüm alt tabaka için çok noktalı otomatik konumlandırma ölçümünü tamamen kişiselleştirme yeteneğine sahiptir ve kapsamlı film kalınlığı algılama ve analiz raporları sağlar;
4.Mevcut fotovoltaik malzemelerin büyük çoğunluğunu kapsayan yüzlerce malzeme veri tabanı ve çoklu algoritma modeli kitaplıkları mevcuttur.
III. Ürün Uygulamaları
ME-Haritalama, OLED, LED, fotovoltaik ve entegre devreler gibi endüstriyel uygulamalarda yaygın olarak kullanılmakta olup, geniş alanlı alt tabaka film kalınlığının, optik sabitlerin ve film kalınlığı dağılımının hızlı ölçümüne ve karakterizasyonuna olanak sağlar.
Haritalama Spektroskopik Elipsometre Spektral Elipsometre Spektroskopik Elipsometri Makinesi Fabrika Fiyatı
Teknik Şartname
|
Modeli |
ME-Haritalama |
|
Uygulama konumlandırma |
Otomatik tip |
|
Temel işlevler |
Psi/Delta, N/C/S, R/T ve diğer spektrumlar |
|
Analitik spektrum |
380-1000 nm (193-1650 nm'ye genişletmeyi destekler) |
|
Tek ölçüm süresi |
S15'ler |
|
Tekrarlanabilirlik ölçüm doğruluğu |
0.01nm |
|
Nokta boyutu |
Büyük nokta 2-4mm, mikro nokta 200um/100um |
|
Kırılma indisi tekrarlanabilirlik doğruluğu |
0,0005
|
|
Olay açısı aralığı |
45-90° |
|
Olay açısı ayarlama yöntemi |
Otomatik değişken açı |
|
Odaklanma yöntemi |
Otomatik odaklama |
|
Haritalama konturu |
100*100mm (isteğe bağlı) |
|
Desteklenen örnek boyutu |
200 mm'ye kadar |
![]()
![]()
![]()
![]()
İlgili kişi: Kaitlyn Wang
Tel: 19376687282
Faks: 86-769-83078748