| تایپ کنید: | دستگاه تست | کلاس دقت: | دقت بالا |
|---|---|---|---|
| دقت: | / | برنامه: | تست خودکار |
| پشتیبانی سفارشی: | OEM، ODM، OBM | قدرت: | - |
| کلاس حفاظت: | IP56 | ولتاژ: | 220 ولت |
| گارانتی: | 1 سال | دقت اندازه گیری تکرارپذیری: | 0.01 نانومتر |
| محدوده زاویه برخورد: | 45-90 درجه | سکته مغزی نقشه برداری: | 100*100 میلی متر (اختیاری) |
| حجم نمونه پشتیبانی شده: | تا 200 میلی متر | ||
| برجسته کردن: | دستگاه آزمایشگاه بیضی طیف سنجی,بیضی سنج طیف سنجی نقشه برداری,دستگاه تست بیضی سنجی طیف سنجی |
||
نقشه برداری الیپسومتر اسپکتروسکوپی الیپسومتر اسپکتروسکوپی الیپسومتر ماشین قیمت کارخانه
I. خلاصه
الپسمتر اسپکتری ME-Mapping یک اسپکترومتر اندازه گیری نقشه برداری قابل سفارشی است که قادر به نقشه برداری است. It is equipped with an automatic Mapping measurement module and can quickly achieve self-defined mapping measurement characterization and analysis of film thickness and optical parameters through the measurement of ellipsometric parameters and transmission/reflection rates.
1.راه حل کامل برای نقشه برداری و اندازه گیری الپسیومتری کل بستر؛
2.پشتیبانی از طراحی محصول و سفارشی سازی ماژول های کاربردی، با یک کلیک نقشه اندازه گیری؛
3.تنظیمات ماژول نقشه برداری، که قابلیت اندازه گیری موقعیت گذاری چند نقطه ای را برای بستر کامل فراهم می کند.
4.پایگاه داده فراوان و کتابخانه مدل ساختار هندسی قابلیت تجزیه و تحلیل داده های قدرتمند را تضمین می کند.
II. ویژگی های محصول
1.یک منبع نور ترکیبی متشکل از لامپ های دوتیریوم و لامپ های هالوجن استفاده می شود که طیف تابعی از ماوراء بنفش تا مادون قرمز نزدیک (193 - 2500 نانومتر) را پوشش می دهد.
2.مدولاسیون جبران کننده چرخش با دقت بالا و پیکربندی PCRSA امکان کسب سریع داده های طیف Psi / Delta را فراهم می کند.
3.این دستگاه توانایی سفارشی سازی کامل اندازه گیری موقعیت مکانی خودکار چند نقطه ای را برای کل بستر دارد و گزارش های جامع تشخیص ضخامت فیلم و تجزیه و تحلیل را ارائه می دهد.
4.صدها پایگاه داده مواد و چندین کتابخانه مدل الگوریتم در دسترس هستند، که اکثریت قریب به اتفاق مواد فتوولتائیک فعلی را پوشش می دهند.
III. کاربردهای محصول
نقشه برداری ME به طور گسترده ای در کاربردهای صنعتی مانند OLED، LED، خورشیدی و مدارهای یکپارچه مورد استفاده قرار می گیرد و امکان اندازه گیری و توصیف سریع ضخامت فیلم بستر بزرگ را فراهم می کند.ثابت های نوری، و توزیع ضخامت فیلم.
نقشه برداری الیپسومتر اسپکتروسکوپی الیپسومتر اسپکتروسکوپی الیپسومتر ماشین قیمت کارخانه
مشخصات فنی
|
مدل |
نقشه برداری ME |
|
موقعیت گذاری برنامه |
نوع اتوماتیک |
|
توابع اساسی |
پسی/دلتا، N/C/S، R/T و سایر طیف ها |
|
طیف تحلیلی |
380-1000nm (توسع پشتیبانی به 193-1650nm) |
|
زمان اندازه گیری واحد |
S15s |
|
دقت اندازه گیری تکرار پذیری |
0.01nm |
|
اندازه نقطه |
نقطه بزرگ 2-4mm، نقطه کوچک 200um/100um |
|
دقت تکرار شاخص شکنندگی |
0.0005
|
|
محدوده زاویه حادثه |
45-90° |
|
روش تنظیم زاویه حادثه |
زاویه متغیر اتوماتیک |
|
روش تمرکز |
فوکوس خودکار |
|
ضربه نقشه برداری |
100*100mm (اختیاری) |
|
اندازه نمونه پشتیبانی شده |
تا 200 میلی متر |
![]()
![]()
![]()
![]()
تماس با شخص: Kaitlyn Wang
تلفن: 19376687282
فکس: 86-769-83078748