Картографирование Спектроскопический эллипсометр Спектроскопический эллипсометр Спектроскопическая эллипсометрическая машина Лабораторная испытательная машина

Картографический спектроскопический эллипсометр Спектральный эллипсометр Спектроскопическая эллипсометрическая машина Заводская цена

I. Обзор

Спектральный эллипсометр ME-Mapping — это настраиваемый спектрометр для измерения картографии, способный выполнять картографирование. Он оснащен автоматическим модулем измерения картографирования и может быстро обеспечить самостоятельное определение характеристик измерения картирования и анализ толщины пленки и оптических параметров посредством измерения эллипсометрических параметров и скоростей передачи/отражения.

1.Комплексное решение для эллипсометрического картирования и измерения всей подложки;

2.Поддерживает проектирование продукта и настройку функциональных модулей с помощью чертежа измерения одним щелчком мыши;

3.Настройте модуль Mapping, обеспечивающий возможность измерения полного многоточечного позиционирования подложки;

4.Обширная база данных и библиотека моделей геометрической структуры обеспечивают мощные возможности анализа данных.

II. Особенности продукта

1.Применен составной источник света, состоящий из дейтериевых ламп и галогенных ламп, со спектральным диапазоном от ультрафиолетового до ближнего инфракрасного (193 - 2500 нм).

2.Высокоточная модуляция компенсатора вращения и конфигурация PCRSA обеспечивают высокоскоростной сбор спектральных данных Psi/Delta.

3.Он имеет возможность полностью настраивать многоточечные автоматические измерения позиционирования для всей подложки и предоставляет подробные отчеты по обнаружению и анализу толщины пленки;

4.Доступны сотни баз данных материалов и множество библиотек моделей алгоритмов, охватывающих подавляющее большинство современных фотоэлектрических материалов.

III. Применение продукта 

ME-Mapping широко используется в промышленных приложениях, таких как OLED, LED, фотоэлектрические и интегральные схемы, что позволяет быстро измерять и определять характеристики толщины пленки подложки большой площади, оптических констант и распределения толщины пленки.

Картографический спектроскопический эллипсометр Спектральный эллипсометр Спектроскопическая эллипсометрическая машина Заводская цена

Техническая спецификация