Cartographie de l' ellipsomètre spectroscopique de l' ellipsomètre spectroscopique de la machine d' ellipsométrie de la machine d'essai de laboratoire

Cartographie ellipsomètre spectroscopique ellipsomètre spectral Machine d'ellipsométrie spectroscopique prix usine

I. Aperçu

L'ellipsomètre spectral ME-Mapping est un spectromètre de mesure de cartographie personnalisable capable de cartographier. Il est équipé d'un module de mesure de cartographie automatique et peut rapidement réaliser une caractérisation et une analyse de mesure de cartographie auto-définies de l'épaisseur du film et des paramètres optiques grâce à la mesure des paramètres ellipsométriques et des taux de transmission/réflexion.

1.Solution complète pour la cartographie ellipsométrique et la mesure de l'ensemble du substrat ;

2.Prend en charge la conception de produits et la personnalisation de modules fonctionnels, avec un dessin de mesure en un clic ;

3.Configurez le module de cartographie, permettant une capacité de mesure de positionnement multipoint personnalisée complète du substrat ;

4.L'abondante base de données et la bibliothèque de modèles de structure géométrique garantissent une puissante capacité d'analyse des données.

II. Caractéristiques du produit

1.Une source de lumière composite composée de lampes au deutérium et de lampes halogènes est adoptée, avec une plage spectrale allant de l'ultraviolet au proche infrarouge (193 - 2 500 nm).

2.La modulation du compensateur de rotation de haute précision et la configuration PCRSA permettent une acquisition à grande vitesse des données spectrales Psi/Delta.

3.Il a la capacité de personnaliser entièrement la mesure de positionnement automatique multipoint pour l'ensemble du substrat et fournit des rapports complets de détection et d'analyse de l'épaisseur du film ;

4.Des centaines de bases de données de matériaux et de multiples bibliothèques de modèles d'algorithmes sont disponibles, couvrant la grande majorité des matériaux photovoltaïques actuels.

III. Applications du produit 

ME-Mapping est largement utilisé dans les applications industrielles telles que les circuits OLED, LED, photovoltaïques et intégrés, permettant une mesure et une caractérisation rapides de l'épaisseur du film de substrat sur de grandes surfaces, des constantes optiques et de la distribution de l'épaisseur du film.

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Spécification technique