Mapowanie Spektroskopowy elipsometr Spektroskopowy elipsometr Spektroskopowa maszyna elipsometryczna Laboratoryjna maszyna testowa

Mapowanie spektroskopowego elipsometru Spektroskopowy elipsometr Spektroskopowa maszyna elipsometryczna Cena fabryczna

I. Przegląd

Elipsometr spektralny ME-Mapping to konfigurowalny spektrometr do pomiaru mapowania, który umożliwia mapowanie. Jest wyposażony w automatyczny moduł pomiarowy Mapping i może szybko osiągnąć samodzielnie zdefiniowaną charakterystykę pomiarów mapowania oraz analizę grubości folii i parametrów optycznych poprzez pomiar parametrów elipsometrycznych i współczynników transmisji/odbicia.

1.Kompletne rozwiązanie do mapowania elipsometrycznego i pomiaru całego podłoża;

2.Obsługuje projektowanie produktów i dostosowywanie modułów funkcjonalnych za pomocą rysunku pomiarowego jednym kliknięciem;

3.Skonfiguruj moduł mapowania, umożliwiający pełny, niestandardowy, wielopunktowy pomiar pozycjonowania podłoża;

4.Bogata baza danych i biblioteka modeli konstrukcji geometrycznych zapewniają potężne możliwości analizy danych.

II. Cechy produktu

1.Zastosowano kompozytowe źródło światła składające się z lamp deuterowych i lamp halogenowych o zakresie widmowym od ultrafioletu do bliskiej podczerwieni (193 - 2500 nm).

2.Precyzyjna modulacja kompensatora rotacji i konfiguracja PCRSA umożliwiają szybką akwizycję danych widmowych Psi/Delta.

3.Ma możliwość pełnego dostosowania wielopunktowego automatycznego pomiaru pozycjonowania dla całego podłoża i zapewnia kompleksowe raporty dotyczące wykrywania i analizy grubości warstwy;

4.Dostępne są setki baz danych materiałów i wiele bibliotek modeli algorytmów, obejmujących zdecydowaną większość obecnych materiałów fotowoltaicznych.

III. Aplikacje produktów 

ME-Mapping jest szeroko stosowany w zastosowaniach przemysłowych, takich jak OLED, LED, fotowoltaika i obwody scalone, umożliwiając szybki pomiar i charakterystykę grubości warstwy podłoża na dużej powierzchni, stałych optycznych i rozkładu grubości warstwy.

Mapowanie spektroskopowego elipsometru Spektroskopowy elipsometr Spektroskopowa maszyna elipsometryczna Cena fabryczna

Specyfikacja techniczna