Wielofunkcyjny dyfraktometr promieniowania rentgenowskiego, analizator dyfrakcji promieniowania rentgenowskiego XRD

Wielofunkcyjny dyfraktometr rentgenowski XRD

1. Wprowadzenie do produktu

Połączony wielofunkcyjny dyfraktometr rentgenowski i dyfraktometr rentgenowski o wysokiej rozdzielczości są szeroko stosowane w różnych dziedzinach analizy struktury materiałów. Analizowane materiały obejmują: materiały metaliczne, materiały nieorganiczne, materiały kompozytowe, materiały organiczne, nanomateriały i materiały nadprzewodnikowe. Stany materiałów, które można analizować, obejmują: próbki proszkowe, próbki blokowe, próbki folii oraz próbki mikroobszarowe i śladowe. Jest szeroko stosowany w takich dziedzinach badawczych, jak minerały ilaste, materiały budowlane cementowe, pyły środowiskowe, produkty chemiczne, farmaceutyki, azbest, minerały skalne i polimery.

2. Cechy produktu 

Dyfraktometr serii DX został zaprojektowany do badań materiałowych i analizy produktów przemysłowych. Jest to doskonały produkt, który łączy rutynową analizę z pomiarami specjalnego przeznaczenia.

• Idealne połączenie systemów sprzętowych i programowych spełnia potrzeby naukowców i badaczy w różnych dziedzinach zastosowań.
• Wysokiej precyzji system pomiaru kąta dyfrakcji w celu uzyskania dokładniejszych wyników pomiarów.
• Wysokiej stabilności system kontroli generatora promieniowania rentgenowskiego zapewnia bardziej stabilną dokładność powtarzalnych pomiarów.
• Różnorodne akcesoria funkcjonalne spełniają potrzeby różnych celów testowych.
• Zaprogramowana obsługa i zintegrowana konstrukcja sprawiają, że jest łatwy w obsłudze, a instrument ma bardziej estetyczny wygląd.

Dyfraktometr rentgenowski jest uniwersalnym instrumentem testującym do ujawniania struktury krystalicznej i informacji chemicznych materiałów.

• Identyfikacja jednej lub więcej faz w nieznanych próbkach.
• Analiza ilościowa znanych faz w próbkach mieszanych.
• Analiza struktury krystalicznej (analiza struktury Rietvelda).
• Zmiany struktury krystalicznej w nietypowych warunkach (wysokie i niskie temperatury).
• Analiza próbek cienkowarstwowych, w tym faza cienkiej warstwy, grubość warstw wielowarstwowych, chropowatość powierzchni i gęstość ładunku.
• Analiza próbek mikroobszarowych.
• Analiza tekstury i naprężeń materiałów metalicznych.

Połączenie doskonałej jakości i wyjątkowej wydajności

• Oprócz swoich podstawowych funkcji, dyfraktometr serii DX może być szybko wyposażony w różne akcesoria i ma niezwykle silne możliwości analityczne.
• Precyzyjna obróbka mechaniczna znacznie zwiększa powtarzalność pozycji instalacji akcesoriów. Oprogramowanie automatycznie rozpoznaje odpowiednie akcesoria bez konieczności kalibracji ścieżki optycznej. Instalacja akcesoriów jest typu plug-and-play, a proste operacje mogą zaspokoić potrzeby pomiarów specjalnego przeznaczenia.

Idealne połączenie wysokiej wydajności i praktyczności

• W oparciu o konstrukcję geometryczną θ-θ, jest wygodny do przygotowania próbek i instalacji różnych akcesoriów.
• Zastosowanie metalowo-ceramicznych lamp rentgenowskich znacznie zwiększyło moc roboczą dyfraktometrów.
• Zamknięty licznik proporcjonalny, trwały i bezobsługowy.
• Detektory dryfu krzemowego charakteryzują się doskonałą rozdzielczością kątową i energetyczną, a ich prędkość pomiaru jest zwiększona ponad trzykrotnie.
• Dostępna jest bogata gama akcesoriów do dyfraktometrów, aby zaspokoić potrzeby różnych celów analitycznych.
• Wszystkie akcesoria funkcjonalne dyfraktometru są automatycznie rozpoznawane.
• Konstrukcja modułowa, znana również jako komponenty typu plug-and-play, umożliwia operatorom prawidłowe korzystanie z odpowiednich akcesoriów dyfraktometru bez kalibracji systemu optycznego.

3. Funkcje produktu

• Podstawowe funkcje przetwarzania danych (wyszukiwanie piku, wygładzanie, odejmowanie tła, dopasowywanie kształtu piku, powiększanie kształtu piku, porównywanie widm, usuwanie Kα1, α2, indeksowanie linii dyfrakcyjnych itp.).
• Szybka analiza ilościowa bez próbek standardowych.
• Pomiar wielkości ziarna.
• Analiza struktury krystalicznej (pomiar i doprecyzowanie parametrów komórki elementarnej).

Pomiar naprężeń makroskopowych i obliczanie naprężeń mikroskopowych;
Dwuwymiarowe i trójwymiarowe wyświetlanie wielu rysunków;
Analiza klastrowa wzorów pików dyfrakcyjnych
Krzywa korekcji szerokości połówkowej piku danych dyfrakcyjnych;
Krzywa korekcji odchylenia kątowego danych dyfrakcyjnych;
W oparciu o rutynową analizę ilościową Rietvelda;
Analiza jakościowa fazy jest przeprowadzana przy użyciu bazy danych ICDD lub bazy danych użytkownika;
Przeprowadź analizę ilościową za pomocą bazy danych ICDD lub bazy danych ICSD;

4. Parametr produktu