Πολυλειτουργικό διφρακτόμετρος Διαθλαστικής ανάλυσης ακτίνων ΧRD

Πολυλειτουργικό διφρακτόμετρος Διαθλαστικής ανάλυσης ακτίνων ΧRD

1.Εισαγωγή του προϊόντος

Το συνδυασμένο πολυλειτουργικό διφρακτόμετρο ακτίνων Χ και το διφρακτόμετρο ακτίνων Χ υψηλής ανάλυσης χρησιμοποιούνται ευρέως σε διάφορους τομείς ανάλυσης δομής υλικών.μεταλλικά υλικάΤα κράτη υλικών που μπορούν να αναλυθούν περιλαμβάνουν: δείγματα σκόνης, δείγματα τεμαχίων, δείγματαδείγματα ταινίας, και μικροεπίπεδα και ίχνη δειγμάτων.ορυκτά πετρώματος, και πολυμερούς.

2Χαρακτηριστικά του προϊόντος

Το διφρακτόμετρο της σειράς DX έχει σχεδιαστεί για την έρευνα υλικών και την ανάλυση βιομηχανικών προϊόντων.

• Ο τέλειος συνδυασμός των συστημάτων υλικού και των συστημάτων λογισμικού ανταποκρίνεται στις ανάγκες των επιστημόνων και των ερευνητών σε διαφορετικούς τομείς εφαρμογής.
• Σύστημα μέτρησης γωνίας υψηλής ακρίβειας διάθλασης για την απόκτηση ακριβέστερων αποτελεσμάτων μέτρησης.
• Το σύστημα ελέγχου γεννήτριας ακτίνων Χ υψηλής σταθερότητας επιτυγχάνει σταθερότερη ακρίβεια επαναλήψεων μετρήσεων.
• Μια ποικιλία λειτουργικών εξαρτημάτων ανταποκρίνεται στις ανάγκες διαφορετικών σκοπών δοκιμών.
• Η προγραμματισμένη λειτουργία και ο ολοκληρωμένος σχεδιασμός της δομής διευκολύνουν τη λειτουργία και το όργανο έχει πιο αισθητική εμφάνιση.

Το διφρακτόμετρο ακτίνων Χ είναι ένα καθολικό όργανο δοκιμών για την αποκάλυψη της κρυσταλλικής δομής και των χημικών πληροφοριών των υλικών.

• Προσδιορισμός μιας ή περισσότερων φάσεων σε άγνωστα δείγματα.
• Ποσοτική ανάλυση των γνωστών φάσεων σε μικτά δείγματα.
• Ανάλυση κρυστάλλινης δομής (ανάλυση δομής Ritveld).
• Η κρυστάλλινη δομή αλλάζει υπό μη συμβατικές συνθήκες (υψηλές και χαμηλές θερμοκρασίες).
• Ανάλυση δειγμάτων λεπτών ταινιών, συμπεριλαμβανομένης της φάσης της λεπτής ταινίας, του πάχους των πολυστρωμάτων ταινιών, της τραχύτητας της επιφάνειας και της πυκνότητας φορτίου.
• Ανάλυση δειγμάτων μικροεκτάσεων.
• Ανάλυση υφής και καταπόνησης μεταλλικών υλικών.

Ο συνδυασμός τέλειας ποιότητας και εξαιρετικής απόδοσης

• Εκτός από τις βασικές λειτουργίες του, το διφρακτόμετρο της σειράς DX μπορεί να εξοπλιστεί γρήγορα με διάφορα αξεσουάρ και έχει εξαιρετικά ισχυρή αναλυτική ικανότητα.
• Η υψηλής ακρίβειας μηχανική επεξεργασία βελτιώνει σημαντικά την αναπαραγωγικότητα της θέσης εγκατάστασης του εξαρτήματος.Το λογισμικό αναγνωρίζει αυτόματα τα αντίστοιχα εξαρτήματα χωρίς την ανάγκη βαθμονόμησης της οπτικής διαδρομήςΗ πρόσθετη εγκατάσταση είναι plug-and-play και οι απλές λειτουργίες μπορούν να καλύψουν τις ανάγκες των μετρήσεων ειδικού σκοπού.

Ο τέλειος συνδυασμός υψηλών επιδόσεων και πρακτικότητας

• Με βάση το γεωμετρικό οπτικό σχεδιασμό θ-θ, είναι βολικό για την προετοιμασία δειγμάτων και την εγκατάσταση διαφόρων εξαρτημάτων.
• Η εφαρμογή μεταλλικών κεραμικών σωλήνων ακτίνων Χ έχει βελτιώσει σημαντικά τη λειτουργική ισχύ των διφρακτόμετρων.
• Κλειστό αναλογικό μετρητή, ανθεκτικό και χωρίς συντήρηση.
• Οι ανιχνευτές παρακμής πυριτίου διαθέτουν ανώτερη γωνιακή ανάλυση και ανάλυση ενέργειας και η ταχύτητα μέτρησης τους αυξάνεται περισσότερο από τρεις φορές.
• Διατίθενται μια μεγάλη ποικιλία εξαρτημάτων διφρακτόμετρου για την κάλυψη των αναγκών διαφόρων αναλυτικών σκοπών.
• Όλα τα λειτουργικά εξαρτήματα του διφρακτόμετρου αναγνωρίζονται αυτόματα.
• Ο αρθρωτός σχεδιασμός, γνωστός και ως "συστατικό και λειτουργικό", επιτρέπει στους χειριστές να χρησιμοποιούν σωστά τα αντίστοιχα εξαρτήματα του διακλαδόμετρου χωρίς να χρειάζεται βαθμονόμηση του οπτικού συστήματος.

3Λειτουργίες προϊόντος

• Βασικές λειτουργίες επεξεργασίας δεδομένων (αναζήτηση κορυφής, εξομάλυνση, αφαίρεση φόντου, προσαρμογή κορυφής σχήματος, μεγέθυνση κορυφής σχήματος, σύγκριση φάσματος, απομάκρυνση Kα1, α2, ευρετήριο γραμμής διάσπασης κλπ.).
• Γρήγορη ποσοτική ανάλυση χωρίς τυποποιημένα δείγματα.
• Μέτρηση μεγέθους κόκκων.
• Ανάλυση κρυστάλλινης δομής (μέτρηση και βελτίωση των παραμέτρων των μονάδων κυττάρων).

Μετρήσεις μακροσκοπικών στρες και υπολογισμός μικροσκοπικών στρες·
Δυοδιάστατη και τρισδιάστατη απεικόνιση πολλαπλών σχεδίων·
Ανάλυση συστάσεων των μοτίβων κορυφών διάθλασης
καμπύλη διόρθωσης πλάτους μισής κορυφής των δεδομένων διάθλασης·
Δεδομένα διάθλασης καμπύλη διόρθωσης απόκλισης γωνίας·
Βάσει της συνηθισμένης ποσοτικής ανάλυσης του Rietveld.
Η ποιοτική ανάλυση φάσης διεξάγεται με τη χρήση της βάσης δεδομένων ICDD ή της βάσης δεδομένων χρηστών·
Διενεργεί ποσοτική ανάλυση με τη χρήση της βάσης δεδομένων ICDD ή της βάσης δεδομένων ICSD·

4.Παραμέτρο προϊόντος