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제품 소개실험실 검사 기계

다기능 디프랙토미터 X선 디프랙션 XRD 분석기

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다기능 디프랙토미터 X선 디프랙션 XRD 분석기

다기능 디프랙토미터 X선 디프랙션 XRD 분석기
다기능 디프랙토미터 X선 디프랙션 XRD 분석기

큰 이미지 :  다기능 디프랙토미터 X선 디프랙션 XRD 분석기

제품 상세 정보:
원래 장소: 중국
브랜드 이름: Lonroy
인증: ISO ASTM CE
모델 번호: LR-D700
결제 및 배송 조건:
최소 주문 수량: 1
가격: Negotaible
포장 세부 사항: 나무로 된 패키지
배달 시간: 5~8일
지불 조건: L/C,D/A,D/P,T/T,Western 통합
공급 능력: 200

다기능 디프랙토미터 X선 디프랙션 XRD 분석기

설명
보증: 1년 제품 별칭: 회절 기기
목적: 실험실 적용 가능한 산업: 과학적 연구

다기능 디프랙토미터 X선 디프랙션 XRD 분석기

1제품 소개

복합 다기능 X선 분광계와 고해상도 X선 분광계는 재료 구조 분석의 다양한 분야에서 널리 사용됩니다. 분석 된 재료는 다음과 같습니다.금속물질, 무기 물질, 복합 물질, 유기 물질, 나노 물질 및 초전도 물질. 분석 할 수있는 물질 상태는: 분말 샘플, 블록 샘플,필름 샘플, 미세 지역 및 미세 표본. 그것은 조그만 광물, 시멘트 건축 재료, 환경 먼지, 화학 제품, 의약품, 아스베스트,암석 광물, 그리고 폴리머


2제품 특징

DX 시리즈 분광 측정기는 재료 연구 및 산업 제품 분석을 위해 설계되었습니다. 일상 분석과 특수 목적 측정을 결합하는 완벽한 제품입니다.

  • 하드웨어 시스템과 소프트웨어 시스템의 완벽한 조합은 다양한 응용 분야에서 학자와 연구자의 요구를 충족시킵니다.
  • 높은 정밀 분사 각도 측정 시스템 보다 정확한 측정 결과를 얻기 위해.
  • 높은 안정성 X선 발전기 제어 시스템은 더 안정적인 반복 측정 정확도를 달성합니다.
  • 다양한 기능적 액세서리는 다양한 시험 목적의 요구를 충족시킵니다.
  • 프로그래밍 된 조작 및 통합 구조 설계는 조작을 쉽게하고 도구는 더 미적 인 외관을 가지고 있습니다.


엑스선 분사계 는 물질의 결정 구조와 화학 정보를 밝히는 보편적 검사 기구이다.

  • 알 수 없는 샘플에서 하나 이상의 단계의 확인
  • 혼합 샘플에서 알려진 단계의 정량 분석.
  • 크리스탈 구조 분석 (리트벨드 구조 분석)
  • 비정상적인 조건 (고온과 낮은 온도) 에서 결정 구조가 변합니다.
  • 얇은 필름 표본 분석, 얇은 필름의 단계, 다층 필름의 두께, 표면 거칠성 및 전하 밀도를 포함합니다.
  • 미세 표본 분석
  • 금속 물질의 질감과 스트레스 분석


완벽한 품질과 뛰어난 성능의 조합

  • 기본 기능 외에도 DX 시리즈 분광계는 다양한 액세서리를 신속하게 장착 할 수 있으며 매우 강력한 분석 능력을 가지고 있습니다.
  • 고 정밀 기계 가공은 액세서리 설치 위치의 재생성을 크게 향상시킵니다.소프트웨어는 자동으로 광 경로를 캘리브레이트 할 필요없이 대응 액세서리를 인식부속 설치는 플러그 앤 플레이이며 간단한 작업은 특수 목적 측정의 요구를 충족시킬 수 있습니다.

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높은 성능과 실용성의 완벽한 조합

  • θ-θ 기하학적 광학적 설계에 기초하여 샘플 준비 및 다양한 액세서리의 설치에 적합합니다.
  • 금속 세라믹 엑스레이 튜브의 적용은 분광 측정기의 작동 능력을 크게 향상 시켰습니다.
  • 닫힌 비례 카운터, 내구성 있고 유지보수 없이
  • 실리콘 드리프트 탐지기는 각도 해상도와 에너지 해상도가 우수하며 측정 속도는 3배 이상 증가합니다.
  • 다양한 분석 목적의 요구를 충족시키기 위해 다양한 분광 측정 장치가 제공됩니다.
  • 모든 기능적 액세서리는 자동으로 인식됩니다.
  • 플러그 앤 플레이 구성 요소로도 알려진 모듈형 설계로 인해 운영자는 광학 시스템을 캘리브레이트하지 않고 해당 디프랙토미터 액세서리를 올바르게 사용할 수 있습니다.

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3제품 기능

  • 기본 데이터 처리 기능 (피크 검색, 평형화, 배경 축소, 피크 모양 부착, 피크 모양 확대, 스펙트럼 비교, Kα1, α2 스트립, 분광 선 인덱싱 등).
  • 표준 샘플 없이 빠른 수치 분석
  • 곡물 크기의 측정
  • 결정 구조 분석 (단위 세포 매개 변수 측정 및 정제)

다기능 디프랙토미터 X선 디프랙션 XRD 분석기 2다기능 디프랙토미터 X선 디프랙션 XRD 분석기 3

거시적 스트레스 측정 및 현미경적 스트레스 계산
2차원 및 3차원 여러 도면을 표시하는 장치
분광 피크 패턴의 클러스터 분석
반점 너비 수정 곡선
분산 데이터 각편편차 수정 곡선
리트벨드의 정량 분석을 바탕으로
질적 단계 분석은 ICDD 데이터베이스 또는 사용자 데이터베이스를 사용하여 수행됩니다.
ICDD 데이터베이스 또는 ICSD 데이터베이스를 사용하여 정량 분석을 수행합니다.


4제품 매개 변수

브랜드

론로이

제품 별명

분산 기구

모델

LR-DX2700

목적

실험실

적용가능한 산업

과학 연구


연락처 세부 사항
DONGGUAN LONROY EQUIPMENT CO LTD

담당자: Ms. Kaitlyn Wang

전화 번호: 19376687282

팩스: 86-769-83078748

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