Многофункциональный дифрактометр рентгеновского излучения для рентгеноструктурного анализа (XRD)

Многофункциональный дифрактометр рентгеновского излучения Дифракционный анализатор рентгеновского излучения

1.Введение продукта

Комбинированный многофункциональный рентгеновский дифрактометр и рентгеновский дифрактометр высокого разрешения широко используются в различных областях анализа структуры материалов.металлические материалы, неорганические материалы, композитные материалы, органические материалы, наноматериалы и сверхпроводящие материалы.образцы пленкиШироко применяется в исследовательских областях, таких как глиняные минералы, строительные материалы из цемента, пыль окружающей среды, химические продукты, фармацевтические препараты, асбест,горные минералы, и полимеров.

2Характеристики продукта

Дифрактометр серии DX предназначен для исследования материалов и анализа промышленных продуктов.

• Идеальное сочетание аппаратных систем и программных систем удовлетворяет потребности ученых и исследователей в различных областях применения.
• Высокоточная система измерения угла дифракции для получения более точных результатов измерений.
• Система управления рентгеновским генератором высокой стабильности обеспечивает более стабильную точность повторных измерений.
• Различные функциональные аксессуары отвечают потребностям различных целей испытаний.
• Программируемая работа и интегрированная конструкция инструмента облегчают работу и придают ему более эстетичный внешний вид.

Рентгеновский дифрактометр - универсальный инструмент для выявления кристаллической структуры и химической информации материалов.

• Определение одной или нескольких фаз в неизвестных образцах.
• Количественный анализ известных фаз в смешанных образцах.
• Анализ кристаллической структуры (анализ структуры Ритвельда).
• Структура кристаллов изменяется при нетрадиционных условиях (высокие и низкие температуры).
• Анализ образцов тонкой пленки, включая фазу тонкой пленки, толщину многослойной пленки, шероховатость поверхности и плотность заряда.
• Анализ образцов микрорайона.
• Анализ текстуры и напряжения металлических материалов.

Сочетание совершенного качества и выдающихся характеристик

• В дополнение к своим основным функциям дифрактометр серии DX может быть быстро оснащен различными аксессуарами и обладает чрезвычайно сильной аналитической способностью.
• Высокоточная механическая обработка значительно повышает воспроизводимость положения установки аксессуара.Программное обеспечение автоматически распознает соответствующие аксессуары без необходимости калибровки оптического путиУстановка аксессуаров выполняется в режиме plug-and-play, а простые операции могут удовлетворить потребности специальных измерений.

Идеальное сочетание высокой производительности и практичности

• Основанный на θ-θ геометрической оптической конструкции, он удобен для подготовки образцов и установки различных аксессуаров.
• Применение металлических керамических рентгеновских труб значительно повысило рабочую мощность дифрактометров.
• Закрытый пропорциональный счетчик, прочный и без обслуживания.
• Детекторы дрейфа кремния имеют превосходное угловое разрешение и энергетическое разрешение, а их скорость измерения увеличена более чем в три раза.
• Для удовлетворения потребностей различных аналитических целей доступно большое разнообразие аксессуаров дифрактометра.
• Все функциональные принадлежности дифрактометра автоматически распознаются.
• Модульная конструкция, также известная как компоненты plug-and-play, позволяет операторам правильно использовать соответствующие аксессуары дифрактометра без калибровки оптической системы.

3.Функции продукта

• Основные функции обработки данных (поиск пика, сглаживание, вычитание фона, приспособление пиковой формы, увеличение пиковой формы, сравнение спектра, Kα1, α2 стриппинг, индексация дифракционной линии и т.д.).
• Быстрый количественный анализ без стандартных образцов.
• Измерение размера зерна.
• Анализ кристаллической структуры (измерение и уточнение параметров единичных ячеек).

Макроскопическое измерение напряжения и микроскопическое расчет напряжения;
Двумерное и трехмерное отображение нескольких чертежей;
Кластерный анализ моделей дифракционных пиков
Кривая коррекции ширины полупика данных дифракции;
Данные дифракции Кривая коррекции отклонения угла;
Основываясь на рутинном количественном анализе Ритвельда;
Качественный анализ фазы проводится с использованием базы данных МКБД или базы данных пользователей;
проводить количественный анализ с использованием базы данных МКБД или базы данных МКБД;

4Параметр продукта