Çok Fonksiyonlu Kırınım Ölçer X Işını Kırınımı XRD Analiz Cihazı

Çok Fonksiyonlu Kırınım Ölçer X Işını Kırınımı XRD Analiz Cihazı

1. Ürün Tanıtımı

Birleşik çok fonksiyonlu X-ışını kırınım ölçer ve yüksek çözünürlüklü X-ışını kırınım ölçer, malzeme yapısı analizinin çeşitli alanlarında yaygın olarak kullanılmaktadır. Analiz edilen malzemeler şunlardır: metalik malzemeler, inorganik malzemeler, kompozit malzemeler, organik malzemeler, nanomalzemeler ve süper iletken malzemeler. Analiz edilebilen malzeme durumları şunlardır: toz numuneler, blok numuneler, film numuneler ve mikro alan ve iz numuneler. Kil mineralleri, çimento yapı malzemeleri, çevresel toz, kimyasal ürünler, ilaçlar, asbest, kaya mineralleri ve polimerler gibi araştırma alanlarında yaygın olarak uygulanmaktadır.

2. Ürün Özellikleri 

DX serisi kırınım ölçer, malzeme araştırmaları ve endüstriyel ürün analizi için tasarlanmıştır. Rutin analizleri özel amaçlı ölçümlerle birleştiren mükemmel bir üründür.

• Donanım sistemleri ve yazılım sistemlerinin mükemmel kombinasyonu, farklı uygulama alanlarındaki akademisyenlerin ve araştırmacıların ihtiyaçlarını karşılar.
• Daha doğru ölçüm sonuçları elde etmek için yüksek hassasiyetli kırınım Açısı ölçüm sistemi.
• Yüksek kararlılığa sahip X-ışını jeneratörü kontrol sistemi, daha kararlı tekrar ölçüm doğruluğu sağlar.
• Çeşitli fonksiyonel aksesuarlar, farklı test amaçlarının ihtiyaçlarını karşılar.
• Programlanmış çalışma ve entegre yapı tasarımı, kullanımı kolaylaştırır ve cihaz daha estetik bir görünüme sahiptir.

X-ışını kırınım ölçer, malzemelerin kristal yapısını ve kimyasal bilgilerini ortaya çıkarmak için evrensel bir test cihazıdır.

• Bilinmeyen numunelerdeki bir veya daha fazla fazın tanımlanması.
• Karışık numunelerdeki bilinen fazların kantitatif analizi.
• Kristal yapı analizi (Rietveld yapı analizi).
• Olağandışı koşullar altında (yüksek ve düşük sıcaklıklar) kristal yapı değişiklikleri.
• İnce film numunelerin analizi, ince filmin fazı, çok katmanlı filmlerin kalınlığı, yüzey pürüzlülüğü ve yük yoğunluğu dahil.
• Mikro alan numunelerin analizi.
• Metalik malzemelerin doku ve gerilim analizi.

Mükemmel kalite ve üstün performansın kombinasyonu

• Temel işlevlerine ek olarak, DX serisi kırınım ölçer, çeşitli aksesuarlarla hızlı bir şekilde donatılabilir ve son derece güçlü bir analitik yeteneğe sahiptir.
• Yüksek hassasiyetli mekanik işleme, aksesuar montaj konumunun tekrarlanabilirliğini büyük ölçüde artırır. Yazılım, optik yolu kalibre etmeye gerek kalmadan ilgili aksesuarları otomatik olarak tanır. Aksesuar montajı tak ve çalıştır özelliktedir ve basit işlemler özel amaçlı ölçümlerin ihtiyaçlarını karşılayabilir.

Yüksek performans ve pratikliğin mükemmel kombinasyonu

• θ-θ geometrik optik tasarımına dayanarak, numune hazırlığı ve çeşitli aksesuarların montajı için uygundur.
• Metal seramik X-ışını tüplerinin uygulanması, kırınım ölçerlerin çalışma gücünü büyük ölçüde artırmıştır.
• Kapalı orantılı sayaç, dayanıklı ve bakım gerektirmez.
• Silikon drift dedektörleri, üstün açısal çözünürlük ve enerji çözünürlüğü sunar ve ölçüm hızları üç kattan fazla artırılmıştır.
• Farklı analitik amaçların ihtiyaçlarını karşılamak için çok çeşitli kırınım ölçer aksesuarları mevcuttur.
• Kırınım ölçerin tüm fonksiyonel aksesuarları otomatik olarak tanınır.
• Tak ve çalıştır bileşenleri olarak da bilinen modüler tasarım, operatörlerin optik sistemi kalibre etmeden kırınım ölçerin ilgili aksesuarlarını doğru bir şekilde kullanmasını sağlar.

3. Ürün Fonksiyonları

• Temel veri işleme fonksiyonları (tepe noktası arama, yumuşatma, arka plan çıkarma, tepe noktası şekli uydurma, tepe noktası şekli büyütme, spektrum karşılaştırması, Kα1, α2 sıyırma, kırınım çizgisi indeksleme, vb.).
• Standart numuneler olmadan hızlı kantitatif analiz.
• Tane boyutu ölçümü.
• Kristal yapı analizi (birim hücre parametrelerinin ölçümü ve iyileştirilmesi).

Makroskopik gerilim ölçümü ve mikroskobik gerilim hesaplaması;
Çoklu çizimlerin iki ve üç boyutlu gösterimi;
Kırınım tepe noktası desenlerinin küme analizi
Kırınım verilerinin yarım tepe genişliği düzeltme eğrisi;
Kırınım verileri Açı sapma düzeltme eğrisi;
Rietveld'in rutin kantitatif analizine dayanmaktadır;
Nitel faz analizi, ICDD veritabanı veya kullanıcı veritabanı kullanılarak yapılır;
ICDD veritabanı veya ICSD veritabanı kullanılarak kantitatif analiz yapın;

4. Ürün Parametresi