Máy phân tích nhiễu xạ tia X XRD đa chức năng

Máy phân tích XRD phân xạ tia X đa chức năng

1.Sự giới thiệu sản phẩm

Máy đo quang phổ tia X đa chức năng kết hợp và kính đo quang phổ tia X độ phân giải cao được sử dụng rộng rãi trong các lĩnh vực phân tích cấu trúc vật liệu.vật liệu kim loại, vật liệu vô cơ, vật liệu tổng hợp, vật liệu hữu cơ, vật liệu nano và vật liệu siêu dẫn Các trạng thái vật liệu có thể được phân tích bao gồm: mẫu bột, mẫu khối,mẫu phim, và các mẫu vi và dấu vết. Nó được áp dụng rộng rãi trong các lĩnh vực nghiên cứu như khoáng chất đất sét, vật liệu xây dựng xi măng, bụi môi trường, sản phẩm hóa học, dược phẩm, amiăng,khoáng chất đá, và polyme.

2.Các đặc điểm của sản phẩm

Máy đo phân xạ dòng DX được thiết kế cho nghiên cứu vật liệu và phân tích sản phẩm công nghiệp. Nó là một sản phẩm hoàn hảo kết hợp phân tích thông thường với đo lường mục đích đặc biệt.

• Sự kết hợp hoàn hảo giữa các hệ thống phần cứng và hệ thống phần mềm đáp ứng nhu cầu của các học giả và nhà nghiên cứu trong các lĩnh vực ứng dụng khác nhau.
• Hệ thống đo góc phân xạ chính xác cao để có được kết quả đo chính xác hơn.
• Hệ thống điều khiển máy phát tia tia X ổn định cao đạt được độ chính xác đo lặp lại ổn định hơn.
• Một loạt các phụ kiện chức năng đáp ứng nhu cầu của các mục đích thử nghiệm khác nhau.
• Chế độ điều khiển được lập trình và thiết kế cấu trúc tích hợp làm cho nó dễ dàng vận hành và dụng cụ có ngoại hình thẩm mỹ hơn.

Máy phân xạ tia X là một dụng cụ thử nghiệm phổ quát để tiết lộ cấu trúc tinh thể và thông tin hóa học của vật liệu.

• Xác định một hoặc nhiều giai đoạn trong các mẫu không rõ.
• Phân tích định lượng các pha được biết trong các mẫu hỗn hợp.
• Phân tích cấu trúc tinh thể (phân tích cấu trúc Rietveld).
• Cấu trúc tinh thể thay đổi trong điều kiện không thông thường (nhiệt độ cao và thấp).
• Phân tích các mẫu màng mỏng, bao gồm giai đoạn của màng mỏng, độ dày của màng đa lớp, độ thô bề mặt và mật độ điện tích.
• Phân tích các mẫu vùng vi mô.
• Phân tích kết cấu và căng thẳng của vật liệu kim loại.

Sự kết hợp của chất lượng hoàn hảo và hiệu suất xuất sắc

• Ngoài các chức năng cơ bản của nó, máy đo phân xạ DX có thể được trang bị nhanh chóng với các phụ kiện khác nhau và có khả năng phân tích cực kỳ mạnh.
• Xử lý cơ học chính xác cao làm tăng đáng kể khả năng tái tạo vị trí lắp đặt phụ kiện.Phần mềm tự động nhận ra các phụ kiện tương ứng mà không cần phải hiệu chỉnh đường quangThiết lập phụ kiện là plug-and-play, và các hoạt động đơn giản có thể đáp ứng nhu cầu của các phép đo đặc biệt.

Sự kết hợp hoàn hảo giữa hiệu suất cao và tính thực tế

• Dựa trên thiết kế quang học hình học θ-θ, nó thuận tiện cho việc chuẩn bị mẫu và lắp đặt các phụ kiện khác nhau.
• Việc áp dụng các ống tia X kim loại gốm đã tăng cường đáng kể sức mạnh hoạt động của máy đo phân xạ.
• Chiếc máy tính theo tỷ lệ đóng, bền và không cần bảo trì.
• Các máy dò trôi dạt silic có độ phân giải góc độ và độ phân giải năng lượng cao hơn, và tốc độ đo của chúng tăng hơn ba lần.
• Một loạt các phụ kiện phân xạ đo có sẵn để đáp ứng nhu cầu của các mục đích phân tích khác nhau.
• Tất cả các phụ kiện chức năng của kính phân xạ đo được nhận ra tự động.
• Thiết kế mô-đun, còn được gọi là các thành phần plug-and-play, cho phép các nhà khai thác sử dụng chính xác các phụ kiện tương ứng của kính phân xạ mà không cần hiệu chỉnh hệ thống quang học.

3Chức năng sản phẩm

• Các chức năng xử lý dữ liệu cơ bản (tìm kiếm đỉnh, làm mịn, trừ nền, phù hợp hình dạng đỉnh, phóng to hình dạng đỉnh, so sánh phổ, Kα1, α2 loại bỏ, lập chỉ mục đường khuếch tán, v.v.).
• Phân tích định lượng nhanh chóng mà không cần lấy mẫu chuẩn.
• Đo kích thước hạt.
• Phân tích cấu trúc tinh thể (kiểm tra và tinh chỉnh các thông số của tế bào đơn vị).

đo căng thẳng vĩ mô và tính toán căng thẳng vi mô;
Hiển thị hai chiều và ba chiều của nhiều bản vẽ;
Phân tích cụm các mô hình đỉnh khuếch tán
đường cong điều chỉnh chiều rộng nửa đỉnh của dữ liệu nhiễu xạ;
Dữ liệu phân xạ đường cong điều chỉnh độ lệch góc;
Dựa trên phân tích định lượng thông thường của Rietveld;
Phân tích giai đoạn chất lượng được thực hiện bằng cách sử dụng cơ sở dữ liệu ICDD hoặc cơ sở dữ liệu người dùng;
Thực hiện phân tích định lượng bằng cơ sở dữ liệu ICDD hoặc cơ sở dữ liệu ICSD;

4. Parameter sản phẩm