Difratômetro Multifuncional de Difração de Raios X (DRX)

Analisador XRD de difração de raios X

1Introdução ao produto

O difractômetro de raios-X multifuncional combinado e o difractômetro de raios-X de alta resolução são amplamente utilizados em vários campos da análise da estrutura dos materiais.Materiais metálicosOs estados de material que podem ser analisados incluem: amostras de pó, amostras de blocos, amostras deamostras de filmeÉ amplamente aplicado em campos de investigação como minerais argilosos, materiais de construção de cimento, poeira ambiental, produtos químicos, produtos farmacêuticos, amianto,Minerais de rocha, e polímeros.

2Características do produto

O difractômetro da série DX é projetado para pesquisa de materiais e análise de produtos industriais.

• A combinação perfeita de sistemas de hardware e sistemas de software satisfaz as necessidades de académicos e investigadores em diferentes campos de aplicação.
• Sistema de medição de ângulo de difração de alta precisão para obter resultados de medição mais precisos.
• O sistema de controlo do gerador de raios-X de elevada estabilidade permite uma precisão de medição repetida mais estável.
• Uma variedade de acessórios funcionais satisfaz as necessidades de diferentes fins de ensaio.
• A operação programada e o desenho da estrutura integrada facilitam a operação e o instrumento tem uma aparência mais estética.

O difractômetro de raios-X é um instrumento de ensaio universal para revelar a estrutura cristalina e as informações químicas dos materiais.

• Identificação de uma ou mais fases em amostras desconhecidas.
• Análise quantitativa das fases conhecidas em amostras misturadas.
• Análise da estrutura de cristal (análise da estrutura de Rietveld).
• A estrutura dos cristais muda em condições não convencionais (temperaturas altas e baixas).
• Análise de amostras de filme fino, incluindo a fase do filme fino, espessura dos filmes multicamadas, rugosidade da superfície e densidade de carga.
• Análise de amostras de micro-área.
• Análise da textura e tensão dos materiais metálicos.

A combinação de qualidade perfeita e desempenho excepcional

• Além das suas funções básicas, o difractômetro da série DX pode ser rapidamente equipado com vários acessórios e tem uma capacidade analítica extremamente forte.
• O processamento mecânico de alta precisão aumenta consideravelmente a reprodutibilidade da posição de instalação do acessório.O software reconhece automaticamente os acessórios correspondentes sem a necessidade de calibrar o caminho ópticoA instalação do acessório é de "plug and play", e as operações simples podem satisfazer as necessidades de medições de propósito especial.

A combinação perfeita de alto desempenho e praticidade

• Com base no projeto óptico geométrico θ-θ, é conveniente para preparação de amostras e instalação de vários acessórios.
• A aplicação de tubos de raios-X metálicos-cerâmicos aumentou muito a potência operacional dos difractômetros.
• Contador proporcional fechado, durável e sem manutenção.
• Os detectores de deriva de silício apresentam uma resolução angular e uma resolução energética superiores, e a sua velocidade de medição é aumentada em mais de três vezes.
• Dispõe-se de uma grande variedade de acessórios de difractômetro para satisfazer as necessidades de diferentes fins analíticos.
• Todos os acessórios funcionais do difractômetro são automaticamente reconhecidos.
• O projeto modular, também conhecido como componentes plug-and-play, permite que os operadores usem corretamente os acessórios correspondentes do difractômetro sem calibrar o sistema óptico.

3. Funções do produto

• Funções básicas de processamento de dados (pesquisa de pico, suavização, subtração de fundo, ajuste de forma de pico, ampliação de forma de pico, comparação de espectro, Kα1, α2 stripping, indexação de linha de difração, etc.).
• Análise quantitativa rápida sem amostras padrão.
• Medição do tamanho do grão.
• Análise da estrutura cristalina (medição e refinamento dos parâmetros das células unitárias).

Measuramento de tensões macroscópicas e cálculo de tensões microscópicas;
Display bidimensional e tridimensional de desenhos múltiplos;
Análise em aglomerados dos padrões de picos de difração
Curva de correcção da largura de meio pico dos dados de difração;
Dados de difração Curva de correcção do desvio angular;
Baseado na análise quantitativa de rotina de Rietveld;
A análise qualitativa da fase é efectuada utilizando a base de dados do CIDD ou a base de dados dos utilizadores;
Realizar análises quantitativas utilizando a base de dados do DICD ou a base de dados do DICD;

4Parâmetro do produto