Difractómetro Multifuncional de Rayos X para Difracción XRD

Analizador de difracción de rayos X XRD multifuncional

1. Introducción del producto

El difractómetro de rayos X multifuncional combinado y el difractómetro de rayos X de alta resolución se utilizan ampliamente en diversos campos del análisis de la estructura de materiales. Los materiales analizados incluyen: materiales metálicos, materiales inorgánicos, materiales compuestos, materiales orgánicos, nanomateriales y materiales superconductores. Los estados de los materiales que se pueden analizar incluyen: muestras en polvo, muestras en bloque, muestras de película y muestras de microárea y trazas. Se aplica ampliamente en campos de investigación como minerales de arcilla, materiales de construcción de cemento, polvo ambiental, productos químicos, productos farmacéuticos, asbesto, minerales de roca y polímeros.

2. Características del producto 

El difractómetro de la serie DX está diseñado para la investigación de materiales y el análisis de productos industriales. Es un producto perfecto que combina el análisis de rutina con la medición para fines especiales.

• La combinación perfecta de sistemas de hardware y software satisface las necesidades de académicos e investigadores en diferentes campos de aplicación.
• Sistema de medición de ángulo de difracción de alta precisión para obtener resultados de medición más precisos.
• El sistema de control del generador de rayos X de alta estabilidad logra una precisión de medición repetida más estable.
• Una variedad de accesorios funcionales satisfacen las necesidades de diferentes propósitos de prueba.
• El funcionamiento programado y el diseño de estructura integrada facilitan el funcionamiento y el instrumento tiene una apariencia más estética.

El difractómetro de rayos X es un instrumento de prueba universal para revelar la estructura cristalina y la información química de los materiales.

• Identificación de una o más fases en muestras desconocidas.
• Análisis cuantitativo de fases conocidas en muestras mixtas.
• Análisis de la estructura cristalina (análisis de la estructura de Rietveld).
• Cambios en la estructura cristalina en condiciones no convencionales (altas y bajas temperaturas).
• Análisis de muestras de película delgada, incluida la fase de la película delgada, el grosor de las películas multicapa, la rugosidad de la superficie y la densidad de carga.
• Análisis de muestras de microárea.
• Análisis de textura y tensión de materiales metálicos.

La combinación de calidad perfecta y rendimiento sobresaliente

• Además de sus funciones básicas, el difractómetro de la serie DX se puede equipar rápidamente con varios accesorios y tiene una capacidad analítica extremadamente fuerte.
• El mecanizado mecánico de alta precisión mejora en gran medida la reproducibilidad de la posición de instalación del accesorio. El software reconoce automáticamente los accesorios correspondientes sin necesidad de calibrar la trayectoria óptica. La instalación del accesorio es plug-and-play, y las operaciones simples pueden satisfacer las necesidades de mediciones para fines especiales.

La combinación perfecta de alto rendimiento y practicidad

• Basado en el diseño óptico geométrico θ-θ, es conveniente para la preparación de muestras y la instalación de varios accesorios.
• La aplicación de tubos de rayos X de cerámica metálica ha mejorado en gran medida la potencia de funcionamiento de los difractómetros.
• Contador proporcional cerrado, duradero y sin mantenimiento.
• Los detectores de deriva de silicio cuentan con una resolución angular y una resolución energética superiores, y su velocidad de medición se incrementa en más de tres veces.
• Hay una rica variedad de accesorios para difractómetros disponibles para satisfacer las necesidades de diferentes propósitos analíticos.
• Todos los accesorios funcionales del difractómetro se reconocen automáticamente.
• El diseño modular, también conocido como componentes plug-and-play, permite a los operadores utilizar correctamente los accesorios correspondientes del difractómetro sin calibrar el sistema óptico.

3. Funciones del producto

• Funciones básicas de procesamiento de datos (búsqueda de picos, suavizado, sustracción de fondo, ajuste de forma de pico, magnificación de forma de pico, comparación de espectros, eliminación de Kα1, α2, indexación de líneas de difracción, etc.).
• Análisis cuantitativo rápido sin muestras estándar.
• Medición del tamaño del grano.
• Análisis de la estructura cristalina (medición y refinamiento de los parámetros de la celda unitaria).

Medición de tensión macroscópica y cálculo de tensión microscópica;
Visualización bidimensional y tridimensional de múltiples dibujos;
Análisis de clústeres de patrones de picos de difracción
Curva de corrección de ancho de medio pico de datos de difracción;
Curva de corrección de desviación angular de datos de difracción;
Basado en el análisis cuantitativo de rutina de Rietveld;
El análisis cualitativo de fases se realiza utilizando la base de datos ICDD o la base de datos del usuario;
Realizar análisis cuantitativo utilizando la base de datos ICDD o la base de datos ICSD;

4. Parámetro del producto