Analisatore XRD di diffrazione dei raggi X

Diffrattometro multifunzionale a raggi X per diffrazione XRD

1. Introduzione al prodotto

Il diffrattometro a raggi X multifunzionale combinato e il diffrattometro a raggi X ad alta risoluzione sono ampiamente utilizzati in vari campi dell'analisi della struttura dei materiali. I materiali analizzati includono: materiali metallici, materiali inorganici, materiali compositi, materiali organici, nanomateriali e materiali superconduttori. Gli stati dei materiali che possono essere analizzati includono: campioni in polvere, campioni a blocchi, campioni di film e campioni di micro-area e traccia. È ampiamente applicato in campi di ricerca come minerali argillosi, materiali da costruzione in cemento, polveri ambientali, prodotti chimici, prodotti farmaceutici, amianto, minerali rocciosi e polimeri.

2. Caratteristiche del prodotto 

Il diffrattometro serie DX è progettato per la ricerca sui materiali e l'analisi dei prodotti industriali. È un prodotto perfetto che combina l'analisi di routine con la misurazione per scopi speciali.

• La perfetta combinazione di sistemi hardware e software soddisfa le esigenze di studiosi e ricercatori in diversi campi applicativi.
• Sistema di misurazione dell'angolo di diffrazione ad alta precisione per ottenere risultati di misurazione più accurati.
• Il sistema di controllo del generatore di raggi X ad alta stabilità raggiunge una maggiore precisione di misurazione ripetuta.
• Una varietà di accessori funzionali soddisfa le esigenze di diversi scopi di test.
• Il funzionamento programmato e il design della struttura integrata lo rendono facile da usare e lo strumento ha un aspetto più esteticamente gradevole.

Il diffrattometro a raggi X è uno strumento di test universale per rivelare la struttura cristallina e le informazioni chimiche dei materiali.

• Identificazione di una o più fasi in campioni sconosciuti.
• Analisi quantitativa delle fasi note in campioni misti.
• Analisi della struttura cristallina (analisi della struttura di Rietveld).
• Cambiamenti della struttura cristallina in condizioni non convenzionali (alte e basse temperature).
• Analisi di campioni di film sottili, inclusa la fase del film sottile, lo spessore dei film multistrato, la rugosità superficiale e la densità di carica.
• Analisi di campioni di micro-area.
• Analisi della tessitura e dello stress dei materiali metallici.

La combinazione di qualità perfetta e prestazioni eccezionali

• Oltre alle sue funzioni di base, il diffrattometro serie DX può essere rapidamente equipaggiato con vari accessori e ha una capacità analitica estremamente forte.
• La lavorazione meccanica di alta precisione migliora notevolmente la riproducibilità della posizione di installazione degli accessori. Il software riconosce automaticamente gli accessori corrispondenti senza la necessità di calibrare il percorso ottico. L'installazione degli accessori è plug-and-play e semplici operazioni possono soddisfare le esigenze di misurazioni per scopi speciali.

La perfetta combinazione di alte prestazioni e praticità

• Basato sul design ottico geometrico θ-θ, è comodo per la preparazione dei campioni e l'installazione di vari accessori.
• L'applicazione di tubi a raggi X in metallo-ceramica ha notevolmente migliorato la potenza operativa dei diffrattometri.
• Contatore proporzionale chiuso, durevole e senza manutenzione.
• I rivelatori a deriva di silicio presentano una risoluzione angolare e una risoluzione energetica superiori e la loro velocità di misurazione è aumentata di oltre tre volte.
• È disponibile una ricca varietà di accessori per diffrattometri per soddisfare le esigenze di diversi scopi analitici.
• Tutti gli accessori funzionali del diffrattometro vengono riconosciuti automaticamente.
• Il design modulare, noto anche come componenti plug-and-play, consente agli operatori di utilizzare correttamente gli accessori corrispondenti del diffrattometro senza calibrare il sistema ottico.

3. Funzioni del prodotto

• Funzioni di elaborazione dati di base (ricerca picchi, livellamento, sottrazione dello sfondo, adattamento della forma dei picchi, ingrandimento della forma dei picchi, confronto dello spettro, rimozione Kα1, α2, indicizzazione delle linee di diffrazione, ecc.).
• Analisi quantitativa rapida senza campioni standard.
• Misurazione delle dimensioni dei grani.
• Analisi della struttura cristallina (misurazione e affinamento dei parametri della cella unitaria).

Misurazione dello stress macroscopico e calcolo dello stress microscopico;
Visualizzazione bidimensionale e tridimensionale di più disegni;
Analisi cluster dei modelli di picchi di diffrazione
Curva di correzione della larghezza a metà picco dei dati di diffrazione;
Curva di correzione della deviazione angolare dei dati di diffrazione;
Basato sull'analisi quantitativa di routine di Rietveld;
L'analisi qualitativa delle fasi viene condotta utilizzando il database ICDD o il database utente;
Condurre l'analisi quantitativa utilizzando il database ICDD o il database ICSD;

4. Parametro del prodotto