Multifunktioneel diffractometer Röntgenstraaldiffractie-XRD-analysator

Multifunktioneel diffractometer Röntgenstraaldiffractie-XRD-analysator

1.Inleiding van het product

De gecombineerde multifunctionele röntgendiffractometer en hoge resolutie röntgendiffractometer worden veel gebruikt op verschillende gebieden van materiaalstructuuranalyse.metalen materialenDe materialen die kunnen worden geanalyseerd omvatten: poedermonsters, blokmonsters,filmmonstersHet wordt op grote schaal toegepast op onderzoeksgebieden zoals kleimineralen, cementbouwmaterialen, milieudoest, chemische producten, farmaceutische producten, asbest,steenmineralen, en polymeren.

2.Productspecificaties

De diffractometer van de DX-serie is ontworpen voor materiaalonderzoek en industriële productanalyse.

• De perfecte combinatie van hardware- en software-systemen voldoet aan de behoeften van wetenschappers en onderzoekers op verschillende toepassingsgebieden.
• Hoogprecisie diffractiehoekmetingssysteem om nauwkeurigere meetresultaten te verkrijgen.
• Het hoogstabiele röntgengeneratorbesturingssysteem zorgt voor een stabielere nauwkeurigheid van herhaalde metingen.
• Een verscheidenheid aan functionele toebehoren voldoet aan de behoeften van verschillende testdoeleinden.
• De geprogrammeerde bediening en de geïntegreerde structuur maken het instrument eenvoudig te bedienen en het heeft een esthetisch aangenamer uiterlijk.

Röntgendiffractometer is een universeel testinstrument voor het onthullen van de kristallenstructuur en chemische informatie van materialen.

• Identificatie van één of meer fasen in onbekende monsters.
• kwantitatieve analyse van bekende fasen in gemengde monsters.
• Crystal structure analyse (Rietveld structuur analyse).
• De kristallenstructuur verandert onder onconventionele omstandigheden (hoge en lage temperaturen).
• Analyse van dunne filmmonsters, met inbegrip van de fase van de dunne film, dikte van de meerlagige films, oppervlakte ruwheid en ladingdichtheid.
• Analyses van microplaatsmonsters.
• Analyse van textuur en spanning van metalen materialen.

De combinatie van perfecte kwaliteit en uitstekende prestaties

• Naast de basisfuncties kan de diffractometer van de DX-serie snel worden uitgerust met verschillende accessoires en heeft een uiterst sterke analytische capaciteit.
• Met behulp van een zeer nauwkeurige mechanische verwerking wordt de reproduceerbaarheid van de installatiepositie van het accessoire aanzienlijk verbeterd.De software herkent automatisch de bijbehorende accessoires zonder dat het optische pad moet worden gekalibreerdDe installatie van de toebehoren is plug-and-play en eenvoudige bewerkingen kunnen voldoen aan de behoeften van speciale metingen.

De perfecte combinatie van hoge prestaties en praktische bruikbaarheid

• Gebaseerd op het θ-θ geometrische optische ontwerp, is het handig voor het bereiden van monsters en de installatie van verschillende accessoires.
• De toepassing van metalen keramische röntgenbuizen heeft de werking van diffractometers sterk verbeterd.
• Gesloten proportioneel teller, duurzaam en onderhoudsvrij.
• Silicon drift detectors hebben een superieure hoekresolutie en energieresolutie en hun meetsnelheid is meer dan drie keer toegenomen.
• Er is een grote verscheidenheid aan diffractometeraccessoires beschikbaar om aan de behoeften van verschillende analytische doeleinden te voldoen.
• Alle functionele toebehoren van de diffractometer worden automatisch herkend.
• Het modulaire ontwerp, ook wel plug-and-play-componenten genoemd, stelt operators in staat om de bijbehorende toebehoren van de diffractometer correct te gebruiken zonder het optische systeem te kalibreren.

3.Productenfuncties

• Basisfuncties voor gegevensverwerking (peak search, smoothing, background subtraction, peak shape fitting, peak shape magnification, spectrum comparison, Kα1, α2 stripping, diffractielijn indexering, enz.).
• Snelle kwantitatieve analyse zonder standaardmonsters.
• Meting van de korrelgrootte.
• Analyses van de kristallenstructuur (meting en verfijning van de parameters van eenheidscellen).

"Technologie" voor de "ontwikkeling" of "ontwikkeling" van "technologieën" voor de "ontwikkeling" of "ontwikkeling" van "technologieën" voor "ontwikkeling", "ontwikkeling", "ontwikkeling", "ontwikkeling", "ontwikkeling", "ontwikkeling", "ontwikkeling", "ontwikkeling", "ontwikkeling", "ontwikkeling", "ontwikkeling", "ontwikkeling", "ontwikkeling", "ontwikkeling", "ontwikkeling", "ontwikkeling", "ontwikkeling", "ontwikkeling" en "ontwikkeling".
twee- en driedimensionale weergave van meerdere tekeningen;
Clusteranalyse van diffractiepiekenpatronen
De correctiecurve voor de breedte van de helft van de piek van de diffractiegegevens;
Diffractiegegevens Hoek afwijkingcorrectiecurve;
Gebaseerd op de kwantitatieve routine-analyse van Rietveld;
de kwalitatieve faseanalyse wordt uitgevoerd met behulp van de ICDD-databank of de gebruikersdatabase;
het uitvoeren van kwantitatieve analyses met behulp van de ICDD-database of de ICSD-database;

4.Productparameter