Diffractomètre multifonctionnel d'analyseur de diffraction par rayons X

Diffractomètre multifonctionnel de diffraction des rayons X (XRD)

1. Introduction du produit

Le diffractomètre de rayons X multifonctionnel combiné et le diffractomètre de rayons X à haute résolution sont largement utilisés dans divers domaines de l'analyse de la structure des matériaux. Les matériaux analysés comprennent : les matériaux métalliques, les matériaux inorganiques, les matériaux composites, les matériaux organiques, les nanomatériaux et les matériaux supraconducteurs. Les états des matériaux qui peuvent être analysés comprennent : les échantillons de poudre, les échantillons en bloc, les échantillons de film, ainsi que les échantillons de micro-zones et de traces. Il est largement appliqué dans des domaines de recherche tels que les minéraux argileux, les matériaux de construction en ciment, les poussières environnementales, les produits chimiques, les produits pharmaceutiques, l'amiante, les minéraux rocheux et les polymères.

2. Caractéristiques du produit 

Le diffractomètre de la série DX est conçu pour la recherche sur les matériaux et l'analyse des produits industriels. C'est un produit parfait qui combine l'analyse de routine avec des mesures spéciales.

• La combinaison parfaite des systèmes matériels et logiciels répond aux besoins des universitaires et des chercheurs dans différents domaines d'application.
• Système de mesure d'angle de diffraction de haute précision pour obtenir des résultats de mesure plus précis.
• Le système de contrôle du générateur de rayons X à haute stabilité permet une précision de mesure répétée plus stable.
• Une variété d'accessoires fonctionnels répondent aux besoins de différents objectifs de test.
• Le fonctionnement programmé et la conception structurelle intégrée facilitent l'utilisation et l'instrument a une apparence plus esthétique.

Le diffractomètre de rayons X est un instrument de test universel pour révéler la structure cristalline et les informations chimiques des matériaux.

• Identification d'une ou plusieurs phases dans des échantillons inconnus.
• Analyse quantitative des phases connues dans des échantillons mixtes.
• Analyse de la structure cristalline (analyse de la structure de Rietveld).
• Changements de la structure cristalline dans des conditions non conventionnelles (hautes et basses températures).
• Analyse d'échantillons de films minces, y compris la phase du film mince, l'épaisseur des films multicouches, la rugosité de surface et la densité de charge.
• Analyse d'échantillons de micro-zones.
• Analyse de la texture et de la contrainte des matériaux métalliques.

La combinaison d'une qualité parfaite et de performances exceptionnelles

• En plus de ses fonctions de base, le diffractomètre de la série DX peut être rapidement équipé de divers accessoires et possède une capacité d'analyse extrêmement forte.
• L'usinage mécanique de haute précision améliore considérablement la reproductibilité de la position d'installation des accessoires. Le logiciel reconnaît automatiquement les accessoires correspondants sans avoir besoin d'étalonner le trajet optique. L'installation des accessoires est plug-and-play, et des opérations simples peuvent répondre aux besoins de mesures spéciales.

La combinaison parfaite de hautes performances et de praticité

• Basé sur la conception optique géométrique θ-θ, il est pratique pour la préparation des échantillons et l'installation de divers accessoires.
• L'application de tubes à rayons X en céramique métallique a considérablement amélioré la puissance de fonctionnement des diffractomètres.
• Compteur proportionnel fermé, durable et sans entretien.
• Les détecteurs à dérive de silicium offrent une résolution angulaire et une résolution énergétique supérieures, et leur vitesse de mesure est augmentée de plus de trois fois.
• Une riche variété d'accessoires de diffractomètre est disponible pour répondre aux besoins de différents objectifs d'analyse.
• Tous les accessoires fonctionnels du diffractomètre sont automatiquement reconnus.
• La conception modulaire, également connue sous le nom de composants plug-and-play, permet aux opérateurs d'utiliser correctement les accessoires correspondants du diffractomètre sans étalonner le système optique.

3. Fonctions du produit

• Fonctions de traitement de données de base (recherche de pics, lissage, soustraction de l'arrière-plan, ajustement de la forme des pics, grossissement de la forme des pics, comparaison des spectres, élimination de Kα1, α2, indexation des raies de diffraction, etc.).
• Analyse quantitative rapide sans échantillons standard.
• Mesure de la taille des grains.
• Analyse de la structure cristalline (mesure et affinement des paramètres de la maille élémentaire).

Mesure des contraintes macroscopiques et calcul des contraintes microscopiques ;
Affichage bidimensionnel et tridimensionnel de plusieurs dessins ;
Analyse de regroupement des motifs de pics de diffraction
Courbe de correction de la largeur à mi-hauteur des données de diffraction ;
Courbe de correction de l'écart angulaire des données de diffraction ;
Basé sur l'analyse quantitative de routine de Rietveld ;
Une analyse qualitative des phases est effectuée à l'aide de la base de données ICDD ou de la base de données utilisateur ;
Effectuer une analyse quantitative à l'aide de la base de données ICDD ou de la base de données ICSD ;

4. Paramètres du produit