Multifunktionales Diffraktometer für Röntgenstrahldiffraktion XRD-Analysator

Multifunktionales Röntgendiffraktometer XRD-Analysator

1. Produkteinführung

Das kombinierte multifunktionale Röntgendiffraktometer und hochauflösende Röntgendiffraktometer werden in verschiedenen Bereichen der Materialstrukturanalyse eingesetzt. Die analysierten Materialien umfassen: metallische Materialien, anorganische Materialien, Verbundwerkstoffe, organische Materialien, Nanomaterialien und supraleitende Materialien. Die Materialzustände, die analysiert werden können, umfassen: Pulverproben, Blockproben, Filmproben sowie Mikro- und Spurenproben. Es wird häufig in Forschungsbereichen wie Tonmineralien, Zementbaustoffen, Umweltstaub, chemischen Produkten, Arzneimitteln, Asbest, Gesteinsmineralien und Polymeren eingesetzt.

2. Produktmerkmale 

Das Diffraktometer der DX-Serie wurde für die Materialforschung und die Analyse industrieller Produkte entwickelt. Es ist ein perfektes Produkt, das Routineanalysen mit Sonderzweckmessungen kombiniert.

• Die perfekte Kombination aus Hard- und Softwaresystemen erfüllt die Bedürfnisse von Wissenschaftlern und Forschern in verschiedenen Anwendungsbereichen.
• Hochpräzises Beugungswinkelmesssystem für genauere Messergebnisse.
• Das hochstabile Röntgenerzeuger-Steuerungssystem erzielt eine stabilere Wiederholgenauigkeit.
• Eine Vielzahl von Funktionszubehör erfüllt die Anforderungen verschiedener Testzwecke.
• Programmierter Betrieb und integriertes Strukturdesign erleichtern die Bedienung und das Gerät hat ein ästhetischeres Aussehen.

Das Röntgendiffraktometer ist ein universelles Testinstrument zur Aufdeckung der Kristallstruktur und chemischer Informationen von Materialien.

• Identifizierung einer oder mehrerer Phasen in unbekannten Proben.
• Quantitative Analyse bekannter Phasen in Mischproben.
• Kristallstrukturanalyse (Rietveld-Strukturanalyse).
• Kristallstrukturänderungen unter unkonventionellen Bedingungen (hohe und niedrige Temperaturen).
• Analyse von Dünnschichtproben, einschließlich der Phase des Dünnfilms, der Dicke von Mehrschichtfilmen, der Oberflächenrauheit und der Ladungsdichte.
• Analyse von Mikroproben.
• Analyse von Textur und Spannung metallischer Materialien.

Die Kombination aus perfekter Qualität und hervorragender Leistung

• Zusätzlich zu seinen Grundfunktionen kann das Diffraktometer der DX-Serie schnell mit verschiedenem Zubehör ausgestattet werden und verfügt über eine extrem starke Analysefähigkeit.
• Hochpräzise mechanische Bearbeitung verbessert die Reproduzierbarkeit der Zubehörinstallationsposition erheblich. Die Software erkennt das entsprechende Zubehör automatisch, ohne dass der Strahlengang kalibriert werden muss. Die Zubehörinstallation ist Plug-and-Play, und einfache Operationen können die Anforderungen von Sonderzweckmessungen erfüllen.

Die perfekte Kombination aus hoher Leistung und Praktikabilität

• Basierend auf dem θ-θ geometrischen optischen Design ist es bequem für die Probenvorbereitung und die Installation verschiedener Zubehörteile.
• Die Verwendung von metallkeramischen Röntgenröhren hat die Betriebsleistung von Diffraktometern erheblich gesteigert.
• Geschlossener Proportionalzähler, langlebig und wartungsfrei.
• Silizium-Drift-Detektoren zeichnen sich durch überlegene Winkel- und Energieauflösung aus, und ihre Messgeschwindigkeit wird um mehr als das Dreifache erhöht.
• Eine große Auswahl an Diffraktometerzubehör ist erhältlich, um die Anforderungen verschiedener Analysezwecke zu erfüllen.
• Alle Funktionszubehörteile des Diffraktometers werden automatisch erkannt.
• Das modulare Design, auch bekannt als Plug-and-Play-Komponenten, ermöglicht es dem Bediener, das entsprechende Zubehör des Diffraktometers korrekt zu verwenden, ohne das optische System zu kalibrieren.

3. Produktfunktionen

• Grundlegende Datenverarbeitungsfunktionen (Peaksuche, Glättung, Hintergrundsubtraktion, Peakformanpassung, Peakformvergrößerung, Spektrenvergleich, Kα1, α2-Stripping, Beugungslinienindizierung usw.).
• Schnelle quantitative Analyse ohne Standardproben.
• Korngrößenmessung.
• Kristallstrukturanalyse (Messung und Verfeinerung der Einheitszellparameter).

Makroskopische Spannungsmessung und mikroskopische Spannungsberechnung;
Zwei- und dreidimensionale Anzeige mehrerer Zeichnungen;
Clusteranalyse von Beugungspeakmustern
Halbpeakbreitenkorrekturkurve von Beugungsdaten;
Beugungsdaten-Winkelabweichungskorrekturkurve;
Basierend auf der Routine-Quantitätsanalyse von Rietveld;
Qualitative Phasenanalyse unter Verwendung der ICDD-Datenbank oder der Benutzerdatenbank;
Führen Sie eine quantitative Analyse mit der ICDD-Datenbank oder der ICSD-Datenbank durch;

4. Produktparameter