Αρχική Σελίδα Προϊόντα Μηχανή εργαστηριακής δοκιμής

Integrated In-situ Spectral Ellipsometer Optical Films In-situ Analysis Machine Customized Spectroscopic Ellipsometer

Name: Integrated In-situ Spectral Ellipsometer Optical Films In-situ Analysis Machine Customized Spectroscopic Ellipsometer
Brand: DONGGUAN LONROY EQUIPMENT CO LTD
Availability: InStock

Όλα τα Προϊόντα

Μηχανή εργαστηριακής δοκιμής
(348)

Ελέγχος μελάνης
(30)

Δοκιμαστής κεραμικών
(91)

Δοκιμαστής πετρελαίου
(26)

Εξοπλισμός δοκιμής βαφής
(159)

Πλαστική μηχανή δοκιμής
(88)

Πανεπιστημιακή μηχανή δοκιμής ελαστικότητας
(36)

Αίθουσα δοκιμής περιβάλλοντος
(23)

Μετρητής γωνίας επαφής
(18)

Θερμιδομετρητής διαφορικής ανίχνευσης
(25)

Εξοπλισμός δοκιμής ταινίας
(108)

Ελεγκτής ευφλεκτότητας
(43)

Μηχάνημα Προβολής Προφίλ
(14)

Φασματόμετρο Εκπομπής ICP
(43)

Μηχανή δοκιμής δόνησης
(15)

Αναλυτής XRF
(19)

Μικρό μέτρο
(115)

Μηχανή δοκιμής υφασμάτων
(243)

υδραυλική μηχανή δοκιμής
(9)

Θερμικός αναλυτής
(22)

Πιστοποίηση

ΚΙΝΑ DONGGUAN LONROY EQUIPMENT CO LTD Πιστοποιήσεις

Είμαι Online Chat Now

Integrated In-situ Spectral Ellipsometer Optical Films In-situ Analysis Machine Customized Spectroscopic Ellipsometer

Μεγάλες Εικόνας : Integrated In-situ Spectral Ellipsometer Optical Films In-situ Analysis Machine Customized Spectroscopic Ellipsometer

Λεπτομέρειες:

Τόπος καταγωγής:	Γκουανγκντόνγκ, Κίνα
Μάρκα:	LONROY

Πληρωμής & Αποστολής Όροι:

Ποσότητα παραγγελίας min:	1

Επικοινωνία

Integrated In-situ Spectral Ellipsometer Optical Films In-situ Analysis Machine Customized Spectroscopic Ellipsometer

περιγραφή

Τύπος:	Μηχάνημα δοκιμών	Κατηγορία Ακρίβειας:	Υψηλή ακρίβεια
Ακρίβεια:	/	Εφαρμογή:	Δοκιμές αυτοκινήτου
Προσαρμοσμένη υποστήριξη:	OEM, ODM, OBM	Εξουσία:	-
Κατηγορία Προστασίας:	IP56	Δυναμικό:	220 V
Εγγύηση:	1 Έτος	Πολωτικά:	Glan-Thompson
Ινα:	αντι-UV παθητικοποίηση? NA=0,22, καθαρό διάφραγμα 600um	Εξουσία:	220Vac+10%
Θερμοκρασία δωματίου:	θερμοκρασία περιβάλλοντος (10-30)℃
Επισημαίνω:	spectroscopic ellipsometer optical films analyzer , customized in-situ spectral ellipsometer , lab test machine for optical films

Integrated In-situ Spectral Ellipsometer Optical Films In-situ Analysis Machine Customized Spectroscopic Ellipsometer

I. Overview

LR-A426 is an integrated in-situ spectroscopic ellipsometer designed for organic/inorganic coatings. The need for membrane process research is to develop customized in-situ film online monitoring technology. Develop and rapidly implement in-situ characterization and analysis of optical films.

II. Test Cases

Film-forming process monitoring

Film thickness characterization

III. Product Applications

It is widely applied in the physical/chemical vapor deposition, ALD deposition and other optical film processing procedures of metal films, organic films and inorganic films. It can conduct in-situ online monitoring during the process and provide real-time feedback on the measured physical property data.

Integrated In-situ Spectroscopic Ellipsometer Optical Films In-situ Analysis Machine Customized Spectroscopic Ellipsometer

Technical Specification

Incident angle	65°
Beam deviation	< 0.3°
Measurement parameters	Psi&Del,TanPsi&CosDel,Alpha&Beta
Polarizers	Glan-Thompson
Material	a-BBO
Compensator	quarter-wave phase delay, hyper achromatic
Intensity selection	Linear optical density selection element. Ensures good signal-to-noise ratio in measurement process, improves data accuracy, avoids light intensity to saturate or too weak to reduce the signal-to-noise ratio and accuracy
Optical design	dual fiber convey the light from lamp to spectrometer through polarization elements;stable light path, convenient to change lamps
Fiber	anti-UV passivation; NA=0.22;clear aperture 600um
Micro light spot	diameter ≤200um, to distinguish between the useful light reflected from front surface and the useless light reflected from the bottom surface, easy to disassemble
Slit	1 50um, for distinguishing between the useful light reflected from front surface and the useless light reflected from the bottom surface

ετικέτα:

Υπεύθυνος Επικοινωνίας: Kaitlyn Wang

Τηλ.:: 19376687282

Φαξ: 86-769-83078748

Άλλα προϊόντα

Εξοπλισμός δοκιμής κόπωσης επαφής 5KW μηχανή δοκιμής πέδησης

Σχετικό σφάλμα της ένδειξης φόρτου: ±1%

Λάθος κατά τη διάρκεια της μακροχρόνιας φόρτωσης και διατήρησης: ±1%

Ταχύτητα: 1 έως 2000 περιστροφές ανά λεπτό

Ακρίβεια ελέγχου ταχύτητας: ±0,5%

Μηχανή δοκιμής εργαστηριακής αλληλοεπίδρασης 0 - 10Hz Επαναλαμβανόμενη συχνότητα

Μέγιστη δύναμη δοκιμής: 800N, με σφάλμα ± 1%

επανάληψη συχνότητας: 0 - 10 Hz

Επαναλαμβανόμενη εγχείρηση: 0 - 20 χλστ

Μέθοδος μέτρησης θερμοκρασίας: Θερμοσύνθεση

Εργαστηριακό Τριβολογικό Μηχάνημα Pin On Disk 220V 50Hz για Δοκιμές Τριβής και Φθοράς

Μέγιστη ροπή τριβής: 1N.M

Ακριβότητα μέτρησης ροπής τριβής: ± 2%

Διάμετρος του δείγματος πείρου: 4mm προαιρετικό

τροφοδοσία: 220V 50Hz 5A

Μηχάνημα Δοκιμών Εργαστηρίου ASTM 3000N Εξοπλισμός Δοκιμών Τριβής και Φθοράς Μεταλλικών Δακτυλίων

Μέγιστη δύναμη δοκιμής: 3000N

Μέγιστη δύναμη τριβής: 300N

Ακριβότητα της δύναμης τριβής: ±1%

Εξωτερικές διαστάσεις της μηχανής δοκιμής: 1000 × 700 × 1470

Μηχανή Δοκιμών Φθοράς Δακτυλίου Timken Analyzer Ring Block 3000N Με Τριβή Ολίσθησης Επαφής Γραμμής

Δοκιμή ακρίβειας δύναμης: ±1%

Μέγιστη δύναμη τριβής: 300N

Λάθος ταχύτητας περιστροφής: ± 2%

Εύρος εμφάνισης ταχύτητας ατράκτου: 0-9999999

Integrated In-situ Spectral Ellipsometer Optical Films In-situ Analysis Machine Customized Spectroscopic Ellipsometer

Integrated In-situ Spectral Ellipsometer Optical Films In-situ Analysis Machine Customized Spectroscopic Ellipsometer

Integrated In-situ Spectral Ellipsometer Optical Films In-situ Analysis Machine Customized Spectroscopic Ellipsometer

spectroscopic ellipsometer optical films analyzer

customized in-situ spectral ellipsometer

lab test machine for optical films

Μηχανή δοκιμής φθοράς 3000N,

Μηχανή δοκιμής πτώσης 5 kW,