logo
Thuis ProductenLab Test Machine

Geïntegreerde in-situ spectrale ellipsometer Optische films In-situ analyse machine Op maat gemaakte spectroscopische ellipsometer

Certificaat
CHINA DONGGUAN LONROY EQUIPMENT CO LTD certificaten
CHINA DONGGUAN LONROY EQUIPMENT CO LTD certificaten
Ik ben online Chatten Nu

Geïntegreerde in-situ spectrale ellipsometer Optische films In-situ analyse machine Op maat gemaakte spectroscopische ellipsometer

Integrated In-situ Spectral Ellipsometer Optical Films In-situ Analysis Machine Customized Spectroscopic Ellipsometer
Integrated In-situ Spectral Ellipsometer Optical Films In-situ Analysis Machine Customized Spectroscopic Ellipsometer Integrated In-situ Spectral Ellipsometer Optical Films In-situ Analysis Machine Customized Spectroscopic Ellipsometer Integrated In-situ Spectral Ellipsometer Optical Films In-situ Analysis Machine Customized Spectroscopic Ellipsometer Integrated In-situ Spectral Ellipsometer Optical Films In-situ Analysis Machine Customized Spectroscopic Ellipsometer Integrated In-situ Spectral Ellipsometer Optical Films In-situ Analysis Machine Customized Spectroscopic Ellipsometer Integrated In-situ Spectral Ellipsometer Optical Films In-situ Analysis Machine Customized Spectroscopic Ellipsometer

Grote Afbeelding :  Geïntegreerde in-situ spectrale ellipsometer Optische films In-situ analyse machine Op maat gemaakte spectroscopische ellipsometer

Productdetails:
Plaats van herkomst: Guangdong, China
Merknaam: LONROY
Betalen & Verzenden Algemene voorwaarden:
Min. bestelaantal: 1

Geïntegreerde in-situ spectrale ellipsometer Optische films In-situ analyse machine Op maat gemaakte spectroscopische ellipsometer

beschrijving
Type: Testmachine Nauwkeurigheidsklasse: Hoge nauwkeurigheid
Nauwkeurigheid: / Sollicitatie: Autotesten
Ondersteuning op maat: OEM, ODM, OBM Stroom: -
Beschermingsklasse: IP56 Spanning: 220 V
Garantie: 1 jaar Polarisatoren: Glan-Thompson
Vezel: anti-UV-passivering; NA=0,22; vrije opening 600um Stroom: 220Vac+10%
Kamertemperatuur: omgevingstemperatuur (10-30) ℃
Markeren:

met een diameter van niet meer dan 20 mm

,

customized in-situ spectral ellipsometer

,

in situ aangepaste spectrale ellipsometer

Geïntegreerde in-situ spectrale ellipsometer Optische films In-situ analyse machine Op maat gemaakte spectroscopische ellipsometer

 

I. Overzicht

LR-A426 is een geïntegreerde in situ spectroscopische ellipsometer die is ontworpen voor organische/anorganische coatings.De noodzaak van membraanprocesonderzoek is het ontwikkelen van een op maat gemaakte in-situ film online monitoring technologie- Ontwikkelen en snel implementeren van in situ karakterisering en analyse van optische films.

 

 

II. Proefgevallen

 Geïntegreerde in-situ spectrale ellipsometer Optische films In-situ analyse machine Op maat gemaakte spectroscopische ellipsometer 0

 

Bewaking van het filmvormingsproces

 

 Geïntegreerde in-situ spectrale ellipsometer Optische films In-situ analyse machine Op maat gemaakte spectroscopische ellipsometer 2

 

Kenmerken van de filmdikte

 

Geïntegreerde in-situ spectrale ellipsometer Optische films In-situ analyse machine Op maat gemaakte spectroscopische ellipsometer 4

 

 

III. Toepassingen van het product

Het wordt op grote schaal toegepast bij de fysieke/chemische dampdepositie, ALD-depositie en andere optische filmverwerkingsprocedures van metaalfilms, organische films en anorganische films.Het kan tijdens het proces in situ online monitoring uitvoeren en realtime feedback geven over de gemeten gegevens van de fysieke eigenschappen..

 

  

 

Geïntegreerde in-situ spectroscopische ellipsometer Optische films In-situ analyse machine Op maat gemaakte spectroscopische ellipsometer

 

Technische specificatie

 

Incidenthoek

65°

Beamdeviatie

< 0,3°

Meetparameters

Psi&Del,TanPsi&CosDel,Alpha&Beta

Polarisatoren

Glan Thompson

Materiaal

a-BBO

Compensator

fasevertraging van een kwartgolf, hyperachromatisch

Selectie van de intensiteit

Lineair optisch dichtheidsselectie-element.Zorgt voor een goede signaal-ruisverhouding in het meetproces, verbetert de nauwkeurigheid van de gegevens,
vermijdt lichtintensiteit die te verzadigd is of te zwak is om de signaal-geluidsverhouding en nauwkeurigheid te verminderen

Optisch ontwerp

dubbele vezels brengen het licht van de lamp naar de spectrometer door middel van polarisatie-elementen;stabiel lichtpad, handig om lampen te vervangen

Zuivel

anti-UV-passivatie; NA=0.22;doorzichtig diafragma 600 mm

Micro lichtvlek

diameter ≤ 200um, om onderscheid te maken tussen het bruikbare licht dat van het vooropste oppervlak wordt gereflecteerd en het nutteloze licht dat van de voorkant wordt gereflecteerd
onderoppervlak, gemakkelijk te demonteren

Gespleten

1 50um, om onderscheid te maken tussen het bruikbare licht dat van het vooropste oppervlak wordt gereflecteerd en het nutteloze licht dat van de onderkant wordt gereflecteerd
oppervlak

 

 

 

 

Geïntegreerde in-situ spectrale ellipsometer Optische films In-situ analyse machine Op maat gemaakte spectroscopische ellipsometer 6Geïntegreerde in-situ spectrale ellipsometer Optische films In-situ analyse machine Op maat gemaakte spectroscopische ellipsometer 8Geïntegreerde in-situ spectrale ellipsometer Optische films In-situ analyse machine Op maat gemaakte spectroscopische ellipsometer 10

Contactgegevens
DONGGUAN LONROY EQUIPMENT CO LTD

Contactpersoon: Kaitlyn Wang

Tel.: 19376687282

Fax: 86-769-83078748

Direct Stuur uw aanvraag naar ons (0 / 3000)