|
Ürün ayrıntıları:
|
| Tip: | Test makinesi | Doğruluk sınıfı: | Yüksek doğruluk |
|---|---|---|---|
| Kesinlik: | / | Başvuru: | Otomatik Test |
| Özelleştirilmiş destek: | OEM, ODM, OBM | Güç: | - |
| Koruma Sınıfı: | IP56 | Gerilim: | 220 V |
| Garanti: | 1 Yıl | Polarizatörler: | Glan-Thompson |
| Elyaf: | anti-UV pasifleştirme; NA=0.22;açık açıklık 600um | Güç: | 220Vac+%10 |
| Oda sıcaklığı: | ortam sıcaklığı (10-30) ℃ | ||
| Vurgulamak: | spektroskopik elipsometr optik film analizatörü,özelleştirilmiş in-situ spektral elipsometr,laboratuvar testi makinesi garanti ile |
||
Entegre Yerinde Spektral Elipsometre Optik Filmler Yerinde Analiz Makinesi Özelleştirilmiş Spektroskopik Elipsometre
I. Genel Bakış
LR-A426, organik/inorganik kaplamalar için tasarlanmış entegre bir yerinde spektroskopik elipsometredir. Membran proses araştırmalarına duyulan ihtiyaç, özelleştirilmiş yerinde film çevrimiçi izleme teknolojisinin geliştirilmesidir. Optik filmlerin yerinde karakterizasyonunu ve analizini geliştirin ve hızla uygulayın.
II. Test Durumları
![]()
Film oluşturma sürecinin izlenmesi
![]()
Film kalınlığı karakterizasyonu
![]()
III. Ürün Uygulamaları
Metal filmlerin, organik filmlerin ve inorganik filmlerin fiziksel/kimyasal buhar biriktirme, ALD biriktirme ve diğer optik film işleme prosedürlerinde yaygın olarak uygulanır. Süreç boyunca yerinde çevrimiçi izleme gerçekleştirebilir ve ölçülen fiziksel özellik verileri hakkında gerçek zamanlı geri bildirim sağlayabilir.
Entegre Yerinde Spektroskopik Elipsometre Optik Filmler Yerinde Analiz Makinesi Özelleştirilmiş Spektroskopik Elipsometre
Teknik Şartname
|
Olay açısı |
65° |
|
Işın sapması |
< 0,3° |
|
Ölçüm parametreleri |
Psi&Del,TanPsi&CosDel,Alfa&Beta |
|
Polarizatörler |
Glan-Thompson |
|
Malzeme |
a-BBO |
|
Kompansatör |
çeyrek dalga faz gecikmesi, hiper akromatik |
|
Yoğunluk seçimi |
Doğrusal optik yoğunluk seçim öğesi.Ölçüm sürecinde iyi bir sinyal-gürültü oranı sağlar, veri doğruluğunu artırır, |
|
Optik tasarım |
çift fiber, ışığı polarizasyon elemanları aracılığıyla lambadan spektrometreye iletir;sabit ışık yolu, lambaları değiştirmeye uygun |
|
Elyaf |
UV karşıtı pasivasyon; NA=0.22;açık açıklık 600um |
|
Mikro ışık noktası |
çap ≤200um, ön yüzeyden yansıyan faydalı ışık ile ön yüzeyden yansıyan işe yaramaz ışık arasında ayrım yapmak için |
|
Yarık |
1 50um, ön yüzeyden yansıyan faydalı ışık ile alttan yansıyan faydasız ışık arasında ayrım yapmak için |
![]()
![]()
![]()
İlgili kişi: Kaitlyn Wang
Tel: 19376687282
Faks: 86-769-83078748