|
Подробная информация о продукте:
|
| Тип: | Тестирование машина | Класс точности: | Высокая точность |
|---|---|---|---|
| Точность: | / | Приложение: | Автомобильные испытания |
| Индивидуальная поддержка: | ОЭМ, ОДМ, ОБМ | Власть: | - |
| Класс защиты: | IP56 | Напряжение: | 220 В. |
| Гарантия: | 1 год | Поляризаторы: | Глан-Томпсон |
| Волокно: | анти-УФ пассивация; NA=0,22;прозрачная апертура 600 мкм | Власть: | 220Vac+10% |
| Комнатная температура: | температура окружающей среды(10-30)℃ | ||
| Выделить: | анализатор оптических пленок с спектроскопическим эллипсометром,спектральный эллипсометр in situ,лабораторная испытательная машина для оптических пленок |
||
Интегрированный спектральный эллипсометр in-situ для анализа оптических пленок, машина для анализа in-situ, специализированный спектроскопический эллипсометр
I. Обзор
LR-A426 - это интегрированный спектроскопический эллипсометр in-situ, предназначенный для органических/неорганических покрытий. Необходимость в исследованиях мембранных процессов заключается в разработке специализированной технологии онлайн-мониторинга пленок in-situ. Разработка и быстрое внедрение in-situ характеризации и анализа оптических пленок.
II. Тестовые примеры
![]()
Мониторинг процесса пленкообразования
![]()
Характеристика толщины пленки
![]()
III. Применение продукта
Широко применяется в процессах физического/химического осаждения из паровой фазы, осаждения ALD и других процедурах обработки оптических пленок металлических, органических и неорганических пленок. Он может проводить онлайн-мониторинг in-situ во время процесса и предоставлять обратную связь в реальном времени по измеренным данным физических свойств.
Интегрированный спектральный эллипсометр in-situ для анализа оптических пленок, машина для анализа in-situ, специализированный спектроскопический эллипсометр
Технические характеристики
|
Угол падения |
65° |
|
Отклонение луча |
< 0.3° |
|
Параметры измерения |
Psi&Del,TanPsi&CosDel,Alpha&Beta |
|
Поляризаторы |
Глан-Томпсон |
|
Материал |
a-BBO |
|
Компенсатор |
четвертьволновая фазовая задержка, гиперахроматический |
|
Выбор интенсивности |
Элемент выбора линейной оптической плотности.Обеспечивает хорошее отношение сигнал/шум в процессе измерения, повышает точность данных, |
|
Оптическая конструкция |
двойное волокно передает свет от лампы к спектрометру через поляризационные элементы;стабильный световой путь, удобно менять лампы |
|
Волокно |
анти-УФ пассивация; NA=0.22; апертура 600 мкм |
|
Микро световое пятно |
диаметр ≤200 мкм, для различения полезного света, отраженного от передней поверхности, и бесполезного света, отраженного от |
|
Щель |
1 50 мкм, для различения полезного света, отраженного от передней поверхности, и бесполезного света, отраженного от нижней |
![]()
![]()
![]()
Контактное лицо: Kaitlyn Wang
Телефон: 19376687282
Факс: 86-769-83078748