Integrated In-situ Spectral Ellipsometer Optical Films In-situ Analysis Machine Customized Spectroscopic Ellipsometer

Name: Integrated In-situ Spectral Ellipsometer Optical Films In-situ Analysis Machine Customized Spectroscopic Ellipsometer
Brand: DONGGUAN LONROY EQUIPMENT CO LTD
Availability: InStock

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Integrated In-situ Spectral Ellipsometer Optical Films In-situ Analysis Machine Customized Spectroscopic Ellipsometer

Großes Bild : Integrated In-situ Spectral Ellipsometer Optical Films In-situ Analysis Machine Customized Spectroscopic Ellipsometer

Produktdetails:

Herkunftsort:	Guangdong, China
Markenname:	LONROY

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Min Bestellmenge:	1

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Integrated In-situ Spectral Ellipsometer Optical Films In-situ Analysis Machine Customized Spectroscopic Ellipsometer

Beschreibung

Typ:	Testmaschine	Genauigkeitsklasse:	Hohe Genauigkeit
Genauigkeit:	/	Anwendung:	Autotests
Maßgeschneiderte Unterstützung:	OEM, ODM, OBM	Leistung:	-
Schutzklasse:	IP56	Stromspannung:	220 V
Garantie:	1 Jahr	Polarisatoren:	Glan-Thompson
Faser:	Anti-UV-Passivierung; NA=0,22; freie Apertur 600 µm	Leistung:	220Vac+10%
Raumtemperatur:	Umgebungstemperatur (10-30)℃
Hervorheben:	spectroscopic ellipsometer optical films analyzer , customized in-situ spectral ellipsometer , lab test machine for optical films

Integrated In-situ Spectral Ellipsometer Optical Films In-situ Analysis Machine Customized Spectroscopic Ellipsometer

I. Overview

LR-A426 is an integrated in-situ spectroscopic ellipsometer designed for organic/inorganic coatings. The need for membrane process research is to develop customized in-situ film online monitoring technology. Develop and rapidly implement in-situ characterization and analysis of optical films.

II. Test Cases

Film-forming process monitoring

Film thickness characterization

III. Product Applications

It is widely applied in the physical/chemical vapor deposition, ALD deposition and other optical film processing procedures of metal films, organic films and inorganic films. It can conduct in-situ online monitoring during the process and provide real-time feedback on the measured physical property data.

Integrated In-situ Spectroscopic Ellipsometer Optical Films In-situ Analysis Machine Customized Spectroscopic Ellipsometer

Technical Specification

Incident angle	65°
Beam deviation	< 0.3°
Measurement parameters	Psi&Del,TanPsi&CosDel,Alpha&Beta
Polarizers	Glan-Thompson
Material	a-BBO
Compensator	quarter-wave phase delay, hyper achromatic
Intensity selection	Linear optical density selection element. Ensures good signal-to-noise ratio in measurement process, improves data accuracy, avoids light intensity to saturate or too weak to reduce the signal-to-noise ratio and accuracy
Optical design	dual fiber convey the light from lamp to spectrometer through polarization elements;stable light path, convenient to change lamps
Fiber	anti-UV passivation; NA=0.22;clear aperture 600um
Micro light spot	diameter ≤200um, to distinguish between the useful light reflected from front surface and the useless light reflected from the bottom surface, easy to disassemble
Slit	1 50um, for distinguishing between the useful light reflected from front surface and the useless light reflected from the bottom surface

Größe und Tag:

Ansprechpartner: Kaitlyn Wang

Telefon: 19376687282

Faxen: 86-769-83078748

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Relativer Fehler der Lastanzeige: ±1%

Fehler bei der Langzeitbelastung und Lagerung: ±1%

Geschwindigkeit: 1 bis 2000 Umdrehungen pro Minute

Geschwindigkeitsregelungsgenauigkeit: ± 0,5%

Reziprozierende Reibungs-Labortestmaschine 0 - 10 Hz Wiederholungsfrequenz

Maximale Test-Kraft: 800N mit einem Fehler von ± 1%

Wiederholungsfrequenz: 0 - 10 Hz

Wiederholter Schlag: 0 - 20 mm

Temperaturmessmethode: Thermoelement

Lab Pin On Disk Tribometer 220V 50Hz Reibungs- und Verschleißprüfmaschine

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Messgenauigkeit des Reibmoments: ± 2%

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Stromversorgung: 220V 50Hz 5A

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