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Produktdetails:
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| Typ: | Testmaschine | Genauigkeitsklasse: | Hohe Genauigkeit |
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| Genauigkeit: | / | Anwendung: | Autotests |
| Maßgeschneiderte Unterstützung: | OEM, ODM, OBM | Leistung: | - |
| Schutzklasse: | IP56 | Stromspannung: | 220 V |
| Garantie: | 1 Jahr | Polarisatoren: | Glan-Thompson |
| Faser: | Anti-UV-Passivierung; NA=0,22; freie Apertur 600 µm | Leistung: | 220Vac+10% |
| Raumtemperatur: | Umgebungstemperatur (10-30)℃ | ||
| Hervorheben: | Spektroskopischer Ellipsometer für die Analyse optischer Filme,speziell angepasstes Spektral-Ellipsometer in situ,Labortestmaschine mit Garantie |
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Integriertes In-situ-Spektral-Ellipsometer Optische Filme In-situ-Analyse-Maschine Spectroskopisches Ellipsometer
I. Übersicht
LR-A426 ist ein integriertes in situ spektroskopisches Ellipsometer für organische/anorganische Beschichtungen.Der Bedarf an Membranprozessforschung besteht in der Entwicklung einer maßgeschneiderten Online-Überwachungstechnologie für Filme in situEntwicklung und schnelle Umsetzung der In-situ-Charakterisierung und Analyse optischer Filme.
II. Prüffälle
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Überwachung des Filmbildungsprozesses
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Charakterisierung der Filmdicke
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III. Anwendung der Produkte
Es wird weitgehend in der physikalisch-chemischen Dampfdeposition, ALD-Deposition und anderen optischen Filmverarbeitungsverfahren von Metallfolien, organischen Folien und anorganischen Folien eingesetzt.Es kann während des Prozesses Online-Überwachung vor Ort durchführen und Echtzeit-Feedback zu den gemessenen physikalischen Eigenschaften geben.
Integriertes In-situ-Spektroskopisches Ellipsometer Optische Filme In-situ-Analysemaschine Individuelles Spektroskopisches Ellipsometer
Technische Spezifikation
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Zwischenfallwinkel |
65° |
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Lichtstrahlweichung |
< 0,3° |
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Messparameter |
Psi&Del,TanPsi&CosDel,Alpha und Beta |
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mit einer Breite von nicht mehr als 20 mm |
Glan-Thompson |
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Material |
a-BBO |
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Kompensator |
Viertelwellenphasenverzögerung, hyperachromatisch |
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Auswahl der Intensität |
Lineare optische Dichte-Auswahl.Sicherstellung eines guten Signal-Rausch-Verhältnisses im Messverfahren, Verbesserung der Datengenauigkeit, |
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Optische Konstruktion |
Doppelfaser überträgt das Licht von der Lampe zum Spektrometer durch Polarisationselemente;stabiler Lichtweg, bequem zum Austausch von Leuchten |
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Fasern |
Anti-UV-Passivierung; NA=0.22 durchsichtige Öffnung 600 mm |
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Mikro-Lichtfleck |
Durchmesser ≤ 200um, um zwischen dem von der Vorderfläche reflektierten nützlichen Licht und dem vom |
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Schnitt |
1 50um, zur Unterscheidung zwischen dem von der Vorderfläche reflektierten nützlichen Licht und dem von der Unterfläche reflektierten nutzlosen Licht |
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Ansprechpartner: Kaitlyn Wang
Telefon: 19376687282
Faxen: 86-769-83078748