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Datos del producto:
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| Tipo: | Máquina de prueba | Clase de precisión: | Alta precisión |
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| Exactitud: | / | Solicitud: | Pruebas automáticas |
| Soporte personalizado: | OEM, ODM, OBM | Fuerza: | - |
| Clase de protección: | IP56 | Voltaje: | 220 V |
| Garantía: | 1 año | Rango de análisis espectral: | 380nm-1100nm |
| Mida el tamaño del punto: | 1-5 mm | Precisión absoluta del espesor de la película.: | entre 0,2% o 2 nm, lo que sea mayor |
| Estabilidad del espesor de la película: | mejor que 0,05 nm | ||
| Resaltar: | Medidor de espesor de película reflectante,máquina de laboratorio de prueba de constantes ópticas,máquina de prueba de uniformidad de espesor de película |
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Medidor de espesor de película reflectante, probador de constantes ópticas, máquina de prueba de uniformidad de espesor de película
I. Descripción general
El LR-A428 medidor de espesor de película reflectanteUtiliza el principio de interferencia de reflexión para mediciones no destructivas. Al analizar el patrón de interferencia formado por la luz reflejada de la superficie de la película y la luz reflejada de la interfaz entre la película y el sustrato, junto con la etapa R-Theta, puede ser compatible con muestras que varían de 6 a 12 pulgadas. Puede realizar un escaneo rápido de toda la muestra, midiendo de forma rápida y precisa información como el espesor de la película y las constantes ópticas, y evaluando la uniformidad del espesor de la película.
1.Solución de medición de películas ópticas;
2.Medición sin contacto y no destructiva;
3.El algoritmo central admite el análisis de películas delgadas a gruesas y de películas de una sola capa a películas de múltiples capas.
4.Precisión de medición de la repetibilidad del espesor de la película: 0,02 nm
5.Medición totalmente automática. El número y la posición de los puntos de medición se pueden editar según sea necesario en la Receta.
II. Características del producto
1.Utilizando una fuente de luz halógena de alta intensidad, el espectro cubre el rango desde el ultravioleta hasta el infrarrojo cercano.
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2.Adopta un diseño altamente integrado de óptica, mecánica y electrónica, presentando un tamaño pequeño y fácil operación.
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3.Basado en el principio de interferencia de la luz reflejada en la interfaz y la interfaz inferior de la capa de película delgada, es fácil analizar desde una sola capa hasta varias capas.
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4.Equipado con potentes algoritmos de análisis central: FFT se utiliza para analizar películas gruesas y el método de análisis de ajuste de curvas se emplea para analizar la información de parámetros físicos de películas delgadas;
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III. Aplicaciones de productos
Se aplica ampliamente en la medición de varios tipos de películas protectoras, películas orgánicas, películas inorgánicas, películas metálicas, revestimientos, etc.
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Medidor de espesor de película reflectante, probador de constantes ópticas, máquina de prueba de uniformidad de espesor de película
Especificación técnica
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Función básica |
Obtener valores de espesor de película y espectros R. |
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Rango de análisis espectral |
380nm-1100nm |
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Mida el tamaño del punto |
1-5 mm |
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Precisión de medición de la repetibilidad del espesor de la película: |
0,02 nm (muestra de SiO2 basada en silicio de 100 nm, 100 mediciones repetidas) |
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Precisión absoluta del espesor de la película. |
entre 0,2% o 2 nm, lo que sea mayor |
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Estabilidad del espesor de la película |
mejor que 0,05 nm |
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Rango de medición del espesor de la película |
15nm~70um |
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Etapa de muestra |
Plataforma móvil automatizada R-Theta, diámetro de etapa de muestra no inferior a 200 mm |
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* Método de prueba |
Pruebas automatizadas en múltiples puntos para generar un mapa de mapeo de espesor (1. circular/cuadrado, 2. forma radial, 3. centro o |
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Velocidad de prueba (incluido el mandril de vacío) |
5 puntos en 5 segundos, 25 puntos en 14 segundos, 57 puntos en 30 segundos |
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fuente de luz |
Fuente de luz halógena estándar (con una vida útil de 10.000 horas) |
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Simulación de reflectividad |
Puede modelar diferentes materiales de recubrimiento y simular la curva de reflectividad del sistema de película de recubrimiento. |
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Software de análisis |
hasta cientos de bases de datos constantes de materiales ópticos y admite bibliotecas de materiales ópticos definidas por el usuario; Proporcionar capacidades de modelado, simulación y análisis para películas delgadas ópticas isotrópicas multicapa; |
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Especificaciones de la mesa de prueba de muestra |
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Tamaños de oblea medibles |
2 pulgadas, 4 pulgadas, 6 pulgadas, 8 pulgadas y 12 pulgadas |
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Método de fijación de oblea |
adsorción al vacío |
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Rango de movimiento del escenario. |
no menos de 200 mm * 200 mm |
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Coloque la muestra manualmente, mapee y mida automáticamente, y el número y la posición de los puntos de medición se pueden editar según sea necesario en la Receta |
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Persona de Contacto: Kaitlyn Wang
Teléfono: 19376687282
Fax: 86-769-83078748