|
Подробная информация о продукте:
|
| Тип: | Тестирование машина | Класс точности: | Высокая точность |
|---|---|---|---|
| Точность: | / | Приложение: | Автомобильные испытания |
| Индивидуальная поддержка: | ОЭМ, ОДМ, ОБМ | Власть: | - |
| Класс защиты: | IP56 | Напряжение: | 220 В. |
| Гарантия: | 1 год | Диапазон спектрального анализа: | 380-1100 нм |
| Измерьте размер пятна: | 1-5 мм | Абсолютная точность толщины пленки: | между 0,2% или 2 нм, в зависимости от того, что больше |
| Стабильность толщины пленки: | лучше, чем 0,05 нм | ||
| Выделить: | отражающий толщинометр пленки,лабораторная машина для тестирования оптических констант,Машина для испытания однородности толщины пленки |
||
Измеритель толщины светоотражающей пленки, тестер оптических констант, машина для испытания однородности толщины пленки
I. Обзор
LR-A428 измеритель толщины отражающей пленкииспользует принцип интерференции отражения для неразрушающего измерения. Анализируя интерференционную картину, образованную отраженным светом от поверхности пленки и отраженным светом от границы между пленкой и подложкой, а также этапом R-Theta, он может быть совместим с образцами размером от 6 до 12 дюймов. Он может выполнять быстрое сканирование всего образца, быстро и точно измеряя такую информацию, как толщина пленки и оптические константы, а также оценивая однородность толщины пленки.
1.Решение для оптического измерения пленки;
2.Бесконтактное, неразрушающее измерение;
3.Основной алгоритм поддерживает анализ тонких пленок и толстых пленок, а также однослойных и многослойных пленок.
4.Точность измерения повторяемости толщины пленки: 0,02 нм.
5.Полностью автоматическое измерение. Количество и положение точек измерения можно при необходимости редактировать в Рецепте.
II. Особенности продукта
1.Благодаря использованию галогенного источника света высокой интенсивности спектр охватывает диапазон от ультрафиолетового до ближнего инфракрасного.
![]()
2.Он имеет высокоинтегрированную конструкцию оптики, механики и электроники, имеет небольшой размер и простоту в эксплуатации.
![]()
3.Основываясь на принципе интерференции отраженного света на границе раздела и нижней границе раздела тонкопленочных слоев, можно легко анализировать от одного слоя до нескольких слоев.
![]()
4.Оснащен мощными алгоритмами основного анализа: БПФ используется для анализа толстых пленок, а метод анализа аппроксимации кривой используется для анализа информации о физических параметрах тонких пленок;
![]()
III. Применение продукта
Он широко применяется при измерении различных типов защитных пленок, органических пленок, неорганических пленок, металлических пленок, покрытий и т. д.
![]()
![]()
Измеритель толщины светоотражающей пленки, тестер оптических констант, машина для испытания однородности толщины пленки
Техническая спецификация
|
Основная функция |
Получите значения толщины пленки и спектры R. |
|
Диапазон спектрального анализа |
380-1100 нм |
|
Измерьте размер пятна |
1-5 мм |
|
Точность измерения повторяемости толщины пленки: |
0,02 нм (образец SiO2 на основе кремния длиной 100 нм, 100 повторных измерений) |
|
Абсолютная точность толщины пленки |
между 0,2% или 2 нм, в зависимости от того, что больше |
|
Стабильность толщины пленки |
лучше, чем 0,05 нм |
|
Диапазон измерения толщины пленки |
15 нм ~ 70 мкм |
|
Образец этапа |
Автоматизированная мобильная платформа R-Theta, диаметр предметного столика не менее 200 мм. |
|
* Метод тестирования |
Автоматическое тестирование в любых нескольких точках для создания карты толщины (1. круглая/квадратная, 2. радиальная форма, 3. центральная или |
|
Скорость испытания (включая вакуумный патрон) |
5 очков за 5 секунд, 25 очков за 14 секунд, 57 очков за 30 секунд. |
|
Источник света |
Стандартный галогенный источник света (срок службы 10 000 часов) |
|
Моделирование отражательной способности |
Он может моделировать различные материалы покрытия и моделировать кривую отражательной способности системы покрытия. |
|
Программное обеспечение для анализа |
до сотен баз данных констант оптических материалов и поддержка пользовательских библиотек оптических материалов; Обеспечение возможностей моделирования, моделирования и анализа многослойных изотропных оптических тонких пленок; |
|
Пример спецификации испытательного стола |
|
|
Измеримые размеры пластин |
2 дюйма, 4 дюйма, 6 дюймов, 8 дюймов и 12 дюймов |
|
Метод фиксации пластины |
вакуумная адсорбция |
|
Диапазон перемещения сцены |
не менее 200мм*200мм |
|
Размещайте образец вручную, автоматически составляйте карту и измеряйте, а количество и положение точек измерения можно при необходимости редактировать в рецепте. |
|
![]()
![]()
Контактное лицо: Kaitlyn Wang
Телефон: 19376687282
Факс: 86-769-83078748