|
รายละเอียดสินค้า:
|
| พิมพ์: | เครื่องทดสอบ | ระดับความแม่นยำ: | ความแม่นยำสูง |
|---|---|---|---|
| ความแม่นยำ: | - | แอปพลิเคชัน: | การทดสอบอัตโนมัติ |
| การสนับสนุนที่กำหนดเอง: | OEM, ODM, OBM | พลัง: | - |
| ระดับการป้องกัน: | IP56 | แรงดันไฟฟ้า: | 220 V |
| การรับประกัน: | 1 ปี | ช่วงการวิเคราะห์สเปกตรัม: | 380nm-1100nm |
| วัดขนาดจุด: | 1-5 มม. | ความแม่นยำสัมบูรณ์ของความหนาของฟิล์ม: | ระหว่าง 0.2% หรือ 2 นาโนเมตร แล้วแต่จำนวนใดจะมากกว่า |
| ความคงตัวของความหนาของฟิล์ม: | ดีกว่า 0.05 นาโนเมตร | ||
| เน้น: | เครื่องวัดความหนาของแผ่นสะท้อนแสง,เครื่องทดสอบค่าคงที่ทางแสง,เครื่องทดสอบความเหมือนกันความหนาของแผ่น |
||
เครื่องวัดความหนาของฟิล์มที่สะท้อนแสง เครื่องวัดค่าคงที่ทางแสง เครื่องทดสอบความหนาของฟิล์ม เครื่องทดสอบความเหมือนกัน
I. ภาพรวม
LR-A428 เครื่องวัดความหนาของแผ่นสะท้อนแสงใช้หลักการของการขัดขวางการสะท้อน เพื่อการวัดที่ไม่ทําลายล้างโดยการวิเคราะห์รูปแบบการแทรกแซงที่เกิดจากการสะท้อนแสงจากพื้นผิวของฟิล์มและแสงที่สะท้อนจากอัตราต่อรองระหว่างฟิล์มและเยื่อรวมถึงระดับ R-Theta สามารถใช้กับตัวอย่างที่มีความยาวตั้งแต่ 6 ถึง 12 นิ้ว สามารถสแกนตัวอย่างทั้งหมดได้อย่างรวดเร็วการวัดข้อมูลอย่างรวดเร็วและแม่นยํา เช่น ความหนาของฟิล์ม และค่าคงที่ทางออปติก, และการประเมินความเหมือนกันของความหนาของหนัง
1.โซลูชั่นการวัดฟิล์มออปติก
2.การวัดที่ไม่สัมผัสและไม่ทําลาย
3.อัลกอริทึมหลักสนับสนุนการวิเคราะห์จากฟิล์มบางเป็นฟิล์มหนา และฟิล์มชั้นเดียวเป็นฟิล์มหลายชั้น
4.ความแม่นยําในการวัดความซ้ําของความหนาของแผ่น: 0.02 nm
5.การวัดแบบอัตโนมัติเต็มจํานวนและตําแหน่งของจุดวัดสามารถแก้ไขตามความต้องการในสูตร
II ลักษณะสินค้า
1.โดยใช้แหล่งแสงฮาโลเจนความเข้มข้นสูง สเปคตรัมจะครอบคลุมช่วงจากอัลตราไวโอเล็ตไปยังอินฟราเรดใกล้
![]()
2.มันใช้การออกแบบที่บูรณาการสูงของแสงสว่าง, เครื่องจักรกลและอิเล็กทรอนิกส์, มีขนาดเล็กและการทํางานง่าย.
![]()
3.โดยใช้หลักการของการแทรกแซงของแสงที่สะท้อนที่อินเตอร์เฟซและอินเตอร์เฟสด้านล่างของชั้นหนังบาง มันง่ายที่จะวิเคราะห์จากชั้นเดียวไปหลายชั้น
![]()
4.อุปกรณ์พร้อมกับอัลการิทึมการวิเคราะห์แกนที่แข็งแรง: FFT ใช้ในการวิเคราะห์แผ่นหนา และวิธีวิเคราะห์การสอดคล้องโค้งถูกใช้ในการวิเคราะห์ข้อมูลปริมาตรฟิสิกอลของแผ่นบาง
![]()
III. การใช้งานของผลิตภัณฑ์
มันถูกนําไปใช้อย่างกว้างขวางในการวัดรูปแบบต่าง ๆ ของฟิล์มป้องกัน, ฟิล์มอินทรีย์, ฟิล์มไม่อินทรีย์, ฟิล์มโลหะ, การเคลือบ, เป็นต้น
![]()
![]()
เครื่องวัดความหนาของฟิล์มที่สะท้อนแสง เครื่องวัดค่าคงที่ทางแสง เครื่องทดสอบความหนาของฟิล์ม เครื่องทดสอบความเหมือนกัน
รายละเอียดเทคนิค
|
ฟังก์ชันพื้นฐาน |
รับค่าความหนาของฟิล์มและ R สเปคตร |
|
ระยะการวิเคราะห์สายสี |
380nm-1100nm |
|
วัดขนาดจุด |
1-5 มิลลิเมตร |
|
ความแม่นยําในการวัดความซ้ําของความหนาของแผ่น: |
0.02nm (ตัวอย่าง SiO2 จากซิลิคอน 100nm, การวัดซ้ํา 100 ครั้ง) |
|
ความแม่นยําของความหนาของฟิล์ม |
ระหว่าง 0.2% หรือ 2nm ตามที่ใหญ่ที่สุด |
|
ความมั่นคงของความหนาของแผ่น |
ดีกว่า 0.05nm |
|
ระยะการวัดความหนาของแผ่น |
15nm ~ 70um |
|
ขั้นตอนตัวอย่าง |
แพลตฟอร์มเคลื่อนไหว R-Theta อัตโนมัติ กว้างระยะตัวอย่างไม่น้อยกว่า 200 mm |
|
* วิธีการทดสอบ |
การทดสอบอัตโนมัติที่จุดหลายจุดใด ๆ เพื่อผลิตแผนที่การแผนที่ความหนา (1. |
|
ความเร็วในการทดสอบ (รวมกับหมุนสูบสูบ) |
5 แต้มใน 5 วินาที 25 แต้มใน 14 วินาที 57 แต้มใน 30 วินาที |
|
แหล่งแสง |
แหล่งแสงฮาโลเจนมาตรฐาน (มีอายุการใช้งาน 10000 ชั่วโมง) |
|
การจําลองความสะท้อน |
มันสามารถจําลองวัสดุการเคลือบที่แตกต่างกันและจําลองเส้นโค้งการสะท้อนของระบบหนังเคลือบ |
|
โปรแกรมวิเคราะห์ |
มีฐานข้อมูลของวัสดุออปติกส์ที่คงที่เป็นจํานวนมาก และรองรับห้องสมุดวัสดุออปติกส์ที่กําหนดโดยผู้ใช้และความสามารถในการวิเคราะห์สําหรับแผ่นบางออฟติก isotropic หลายชั้น; |
|
รายละเอียดตารางการทดสอบตัวอย่าง |
|
|
ขนาดของโวฟเฟอร์ที่วัดได้ |
2 นิ้ว&4 นิ้ว&6 นิ้ว&8 นิ้ว&12 นิ้ว |
|
วิธีการติดตั้งแผ่น |
การดึงดูดในระยะว่าง |
|
ระยะเคลื่อนที่ของเวที |
ไม่น้อยกว่า 200mm * 200mm |
|
จัดตัวอย่างด้วยมือ, แผนที่และวัดโดยอัตโนมัติและจํานวนและตําแหน่งของจุดการวัดสามารถแก้ไขตามความต้องการในสูตร |
|
![]()
![]()
ผู้ติดต่อ: Kaitlyn Wang
โทร: 19376687282
แฟกซ์: 86-769-83078748