|
Detail produk:
|
| Jenis: | Mesin pengujian | Kelas Akurasi: | Akurasi tinggi |
|---|---|---|---|
| Ketepatan: | / | Aplikasi: | Pengujian Otomatis |
| Dukungan yang disesuaikan: | OEM, ODM, OBM | Kekuatan: | - |
| Kelas Perlindungan: | IP56 | Voltase: | 220 v |
| Jaminan: | 1 Tahun | Rentang analisis spektral: | 380nm-1100nm |
| Ukur ukuran titik: | 1-5mm | Ketepatan mutlak pada ketebalan film: | antara 0,2% atau 2nm, mana saja yang lebih besar |
| Stabilitas ketebalan film: | lebih baik dari 0,05nm | ||
| Menyoroti: | refleksi film tebal meter,mesin laboratorium penguji konstanta optik,Mesin pengujian keseragaman ketebalan film |
||
Film reflektif ketebalan Meter konstanta optik Tester Film ketebalan seragam Mesin pengujian
I. Gambaran Umum
LR-A428 refleksi film tebal metermenggunakan prinsip interferensi refleksi untuk pengukuran non-destruktif.Dengan menganalisis pola interferensi yang terbentuk oleh cahaya yang dipantulkan dari permukaan film dan cahaya yang dipantulkan dari antarmuka antara film dan substrat, bersama dengan tahap R-Theta, dapat kompatibel dengan sampel mulai dari 6 sampai 12 inci.dengan cepat dan akurat mengukur informasi seperti ketebalan film dan konstanta optik, dan evaluasi keseragaman ketebalan film.
1.larutan pengukuran film optik;
2.Pengukuran non-kontak, non-destruktif;
3.Algoritma inti mendukung analisis film tipis ke film tebal, dan film satu lapisan ke film multi-lapisan.
4.Keakuratan pengukuran ketebalan film yang dapat diulang: 0,02 nm
5.Pengukuran sepenuhnya otomatis. Jumlah dan posisi titik pengukuran dapat diedit sesuai kebutuhan dalam Resep.
II. Ciri-ciri produk
1.Dengan menggunakan sumber cahaya halogen intensitas tinggi, spektrum mencakup kisaran dari ultraviolet hingga inframerah dekat.
![]()
2.Ini mengadopsi desain yang sangat terintegrasi dari optik, mekanik dan elektronik, menampilkan ukuran kecil dan operasi yang mudah.
![]()
3.Berdasarkan prinsip interferensi cahaya yang dipantulkan pada antarmuka dan antarmuka bagian bawah lapisan film tipis, mudah untuk menganalisis dari satu lapisan ke beberapa lapisan.
![]()
4.Dilengkapi dengan algoritma analisis inti yang kuat: FFT digunakan untuk menganalisis film tebal, dan metode analisis curve fitting digunakan untuk menganalisis informasi parameter fisik film tipis;
![]()
III. Aplikasi produk
Ini banyak digunakan dalam pengukuran berbagai jenis film pelindung, film organik, film anorganik, film logam, pelapis, dll.
![]()
![]()
Film reflektif ketebalan Meter konstanta optik Tester Film ketebalan seragam Mesin pengujian
Spesifikasi Teknis
|
Fungsi dasar |
Dapatkan nilai ketebalan film dan spektrum R |
|
Jangkauan analisis spektral |
380nm-1100nm |
|
Mengukur ukuran titik |
1-5mm |
|
Keakuratan pengukuran ketebalan film yang dapat diulang: |
0.02nm (100nm sampel SiO2 berbasis silikon, 100 pengukuran berulang) |
|
Keakuratan mutlak ketebalan film |
antara 0,2% atau 2nm, mana yang lebih besar |
|
Stabilitas ketebalan film |
lebih baik dari 0,05nm |
|
Jangkauan pengukuran ketebalan film |
15nm ~ 70um |
|
Tahap Sampling |
Platform mobile R-Theta otomatis, diameter tahap sampel tidak kurang dari 200mm |
|
* Metode pengujian |
Pengujian otomatis di beberapa titik untuk menghasilkan peta pemetaan ketebalan (1. melingkar / persegi, 2. bentuk Radial, 3. Pusat atau |
|
Kecepatan pengujian (termasuk peredam vakum) |
5 poin dalam 5 detik, 25 poin dalam 14 detik, 57 poin dalam 30 detik |
|
Sumber cahaya |
Sumber cahaya halogen standar (dengan umur 10000 jam) |
|
Simulasi reflektivitas |
Ini dapat memodelkan bahan pelapis yang berbeda dan mensimulasikan kurva reflektivitas dari sistem film pelapis |
|
Perangkat lunak analisis |
Database konstan material optik hingga ratusan, dan mendukung pustaka material optik yang didefinisikan pengguna.dan kemampuan analisis untuk film tipis optik isotropik multi-lapisan; |
|
Spesifikasi tabel pengujian sampel |
|
|
Ukuran wafer yang dapat diukur |
2 inci & 4 inci & 6 inci & 8 inci & 12 inci |
|
Metode pemasangan wafer |
adsorpsi vakum |
|
Jangkauan bergerak panggung |
tidak kurang dari 200mm * 200mm |
|
Secara manual menempatkan sampel, secara otomatis peta dan mengukur dan jumlah dan posisi titik pengukuran dapat diedit sesuai kebutuhan dalam Resep |
|
![]()
![]()
Kontak Person: Kaitlyn Wang
Tel: 19376687282
Faks: 86-769-83078748