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उत्पाद विवरण:
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| प्रकार: | परीक्षण मशीन | सटीकता वर्ग: | उच्च सटीकता |
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| शुद्धता: | / | आवेदन: | स्वत: परीक्षण |
| अनुकूलित समर्थन: | ओईएम, ओडीएम, ओबीएम | शक्ति: | - |
| संरक्षण वर्ग: | आईपी56 | वोल्टेज: | 220 वी |
| गारंटी: | 1 वर्ष | वर्णक्रमीय विश्लेषण रेंज: | 380nm-1100nm |
| स्थान का आकार मापें: | 1-5 मिमी | फिल्म की मोटाई की पूर्ण सटीकता: | 0.2% या 2एनएम के बीच, जो भी अधिक हो |
| फिल्म की मोटाई स्थिरता: | 0.05nm से बेहतर | ||
| प्रमुखता देना: | परावर्तक फिल्म मोटाई मीटर,ऑप्टिकल स्थिरता परीक्षक प्रयोगशाला मशीन,फिल्म मोटाई एकरूपता परीक्षण मशीन |
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परावर्तक फिल्म मोटाई मीटर ऑप्टिकल स्थिरांक परीक्षक फिल्म मोटाई एकरूपता परीक्षण मशीन
मैं. सिंहावलोकन
LR-A428 परावर्तक फिल्म मोटाई मीटरगैर-विनाशकारी माप के लिए प्रतिबिंब हस्तक्षेप के सिद्धांत का उपयोग करता है। फिल्म की सतह से परावर्तित प्रकाश और फिल्म और सब्सट्रेट के बीच इंटरफेस से परावर्तित प्रकाश द्वारा गठित हस्तक्षेप पैटर्न का विश्लेषण करके, आर-थीटा चरण के साथ, यह 6 से 12 इंच तक के नमूनों के साथ संगत हो सकता है। यह पूरे नमूने की तेजी से स्कैनिंग कर सकता है, फिल्म की मोटाई और ऑप्टिकल स्थिरांक जैसी जानकारी को जल्दी और सटीक रूप से माप सकता है, और फिल्म की मोटाई की एकरूपता का मूल्यांकन कर सकता है।
1.ऑप्टिकल फिल्म माप समाधान;
2.गैर-संपर्क, गैर-विनाशकारी माप;
3.कोर एल्गोरिदम पतली फिल्मों से मोटी फिल्मों और सिंगल-लेयर फिल्मों से मल्टी-लेयर फिल्मों के विश्लेषण का समर्थन करता है।
4.फिल्म की मोटाई की पुनरावृत्ति की माप सटीकता: 0.02 एनएम
5.पूरी तरह से स्वचालित माप. माप बिंदुओं की संख्या और स्थिति को रेसिपी में आवश्यकतानुसार संपादित किया जा सकता है।
द्वितीय. उत्पाद की विशेषताएँ
1.उच्च तीव्रता वाले हैलोजन प्रकाश स्रोत का उपयोग करते हुए, स्पेक्ट्रम पराबैंगनी से निकट-अवरक्त तक की सीमा को कवर करता है।
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2.यह छोटे आकार और आसान संचालन की विशेषता वाले प्रकाशिकी, यांत्रिकी और इलेक्ट्रॉनिक्स के अत्यधिक एकीकृत डिजाइन को अपनाता है।
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3.इंटरफ़ेस पर परावर्तित प्रकाश के हस्तक्षेप के सिद्धांत और पतली फिल्म परत के निचले इंटरफ़ेस के आधार पर, एक परत से कई परतों तक विश्लेषण करना आसान है।
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4.शक्तिशाली कोर विश्लेषण एल्गोरिदम से सुसज्जित: एफएफटी का उपयोग मोटी फिल्मों का विश्लेषण करने के लिए किया जाता है, और वक्र फिटिंग विश्लेषण विधि पतली फिल्मों की भौतिक पैरामीटर जानकारी का विश्लेषण करने के लिए नियोजित की जाती है;
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तृतीय. उत्पाद अनुप्रयोग
इसका उपयोग विभिन्न प्रकार की सुरक्षात्मक फिल्मों, कार्बनिक फिल्मों, अकार्बनिक फिल्मों, धातु फिल्मों, कोटिंग्स आदि के माप में व्यापक रूप से किया जाता है।
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परावर्तक फिल्म मोटाई मीटर ऑप्टिकल स्थिरांक परीक्षक फिल्म मोटाई एकरूपता परीक्षण मशीन
तकनीकी विशिष्टता
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बुनियादी उपयोग |
फिल्म मोटाई मान और आर स्पेक्ट्रा प्राप्त करें |
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वर्णक्रमीय विश्लेषण रेंज |
380nm-1100nm |
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स्थान का आकार मापें |
1-5मिमी |
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फिल्म की मोटाई की पुनरावृत्ति की माप सटीकता: |
0.02nm (100nm सिलिकॉन-आधारित SiO2 नमूना, 100 बार-बार माप) |
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फिल्म की मोटाई की पूर्ण सटीकता |
0.2% या 2एनएम के बीच, जो भी अधिक हो |
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फिल्म की मोटाई स्थिरता |
0.05nm से बेहतर |
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फिल्म की मोटाई माप सीमा |
15nm~70um |
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नमूना चरण |
स्वचालित आर-थीटा मोबाइल प्लेटफ़ॉर्म, नमूना चरण व्यास 200 मिमी से कम नहीं |
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* परीक्षण विधि |
मोटाई मानचित्रण मानचित्र (1. गोलाकार/वर्ग, 2. रेडियल आकार, 3. केंद्र या) उत्पन्न करने के लिए किसी भी एकाधिक बिंदु पर स्वचालित परीक्षण |
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परीक्षण गति (वैक्यूम चक सहित) |
5 सेकंड में 5 अंक, 14 सेकंड में 25 अंक, 30 सेकंड में 57 अंक |
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प्रकाश स्रोत |
मानक हलोजन प्रकाश स्रोत (10000 घंटे के जीवनकाल के साथ) |
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परावर्तन अनुकरण |
यह विभिन्न कोटिंग सामग्रियों को मॉडल कर सकता है और कोटिंग फिल्म प्रणाली के परावर्तन वक्र का अनुकरण कर सकता है |
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विश्लेषण सॉफ्टवेयर |
सैकड़ों ऑप्टिकल सामग्री स्थिर डेटाबेस तक, और उपयोगकर्ता-परिभाषित ऑप्टिकल सामग्री पुस्तकालयों का समर्थन करता है; मल्टी-लेयर आइसोट्रोपिक ऑप्टिकल पतली फिल्मों के लिए मॉडलिंग, सिमुलेशन और विश्लेषण क्षमताएं प्रदान करें; |
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नमूना परीक्षण तालिका विशिष्टताएँ |
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मापने योग्य वेफर आकार |
2 इंच और 4 इंच और 6 इंच और 8 इंच और 12 इंच |
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वेफर निर्धारण विधि |
निर्वात सोखना |
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मंच की गतिमान सीमा |
200 मिमी * 200 मिमी से कम नहीं |
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नमूना को मैन्युअल रूप से रखें, स्वचालित रूप से मैप करें और मापें, और माप बिंदुओं की संख्या और स्थिति को रेसिपी में आवश्यकतानुसार संपादित किया जा सकता है |
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व्यक्ति से संपर्क करें: Kaitlyn Wang
दूरभाष: 19376687282
फैक्स: 86-769-83078748