多機能のX線 difraktometer XRD分析器 ラボテストマシン

多機能のX線diffraction XRD分析器

1製品紹介

多機能のX線衍射計と高解像度のX線衍射計を組み合わせたものは,材料構造分析の様々な分野で広く使用されています. 分析された材料には以下が含まれます.金属材料分析可能な材料状態には:粉末サンプル,ブロックサンプル,フィルムサンプル粘土鉱物,水泥建材,環境塵,化学製品,医薬品,アスベスト,岩石鉱物ポリマー

2製品の特徴

DXシリーズ difraktometerは,材料研究と工業製品の分析のために設計されています.それは,通常の分析と特殊目的の測定を組み合わせる完璧な製品です.

• ハードウェア・システムとソフトウェア・システムの完璧な組み合わせは,様々な応用分野における学者や研究者のニーズを満たしています
• 高精度 difrction Angle measurement system より正確な測定結果を得るために
• 高安定性X線発電機制御システムは,より安定した重複測定精度を達成します.
• 様々な機能的アクセサリーは,異なる試験目的のニーズを満たします.
• プログラム操作と統合構造設計により操作が容易になり,儀器はより美学的な外観を持っています.

X線 difrctometerは,材料の結晶構造と化学情報を明らかにするための普遍的な試験装置です.

• 未知のサンプルで"つまたは複数の相の識別
• 混合サンプルにおける既知の相の定量分析
• 結晶構造分析 (リートヴェルド構造分析)
• 不従来の条件 (高低温) で結晶構造が変化する.
• 薄膜サンプルの分析,薄膜の相,多層フィルムの厚さ,表面の荒さ,電荷密度を含む.
• 微小領域のサンプルを分析する
• 金属材料の質感とストレスの分析

完璧な品質と卓越したパフォーマンスの組み合わせ

• 基本機能に加えて,DXシリーズ difraktometerは,様々なアクセサリーで迅速に装備され,非常に強力な分析能力を持っています.
• 高精度な機械加工により,アクセサリーの設置位置の再現性が大幅に向上します.ソフトウェアは,光学経路の校正を必要とせずに,自動的に対応するアクセサリーを認識アクセサリー装置はプラグアンドプレイであり,単純な操作は特殊目的の測定のニーズを満たすことができます.

高性能と実用性の完璧な組み合わせ

• θ-θ 幾何学的光学設計に基づいて,サンプル準備とさまざまなアクセサリーの設置に便利です.
• 金属セラミック式X線管の適用により,分光測定器の動作力が大幅に向上しました
• 密閉した比例カウンター 耐久性があり メンテナンスなし
• シリコン漂流検出器は 優れた角解像度とエネルギー解像度があり 測定速度も3倍以上向上しています
• 異なる分析目的のニーズを満たすために,多種多様な difraktometer アクセサリーが利用可能である.
• 振幅計の機能的アクセサリーはすべて自動的に認識されます.
• プラグアンドプレイコンポーネントとしても知られるモジュール式設計により,操作者は光学システムを校正せずに相応の配件を正しく使用することができます.

3製品機能

• 基本データ処理機能 (ピーク検索,スムージング,バックグラウンド減算,ピーク形状のフィッティング,ピーク形状の拡大,スペクトル比較,Kα1,α2剥離, difrction line indexingなど).
• 標準サンプルなしで迅速な定量分析
• 粒の大きさを測定する
• 結晶構造分析 (単細胞パラメータの測定と精製)

マクロスコープによるストレス測定と顕微鏡によるストレス計算.
複数の図の二次元および三次元表示
振動ピークパターンのクラスタ分析
分光データの半ピーク幅修正曲線
振幅データ 角度偏差修正曲線
リートヴェルドの定量分析に基づいて
質的段階分析は,ICDDデータベースまたはユーザーデータベースを使用して行われます.
ICDDデータベースまたはICSDデータベースを用いて定量分析を行う.

4製品パラメータ