Diffrattometro multifunzionale a raggi X Diffrazione analizzatore di raggi XRD Macchina di prova di laboratorio

Analisatore XRD per la diffrazione dei raggi X

1Introduzione al prodotto

Il diffrattometro a raggi X multifunzionale combinato e il diffrattometro a raggi X ad alta risoluzione sono ampiamente utilizzati in vari settori dell'analisi della struttura dei materiali.materiali metallici, materiali inorganici, materiali compositi, materiali organici, nanomateriali e materiali superconduttori.campioni di pellicolaÈ ampiamente applicato in campioni di ricerca quali minerali argillosi, materiali da costruzione di cemento, polveri ambientali, prodotti chimici, prodotti farmaceutici, amianto,minerali di roccia, e polimeri.

2. Caratteristiche del prodotto

Il diffrattometro della serie DX è progettato per la ricerca dei materiali e l'analisi dei prodotti industriali.

• La combinazione perfetta di sistemi hardware e sistemi software soddisfa le esigenze di studiosi e ricercatori in diversi campi di applicazione.
• Sistema di misurazione dell'angolo di diffrazione ad alta precisione per ottenere risultati di misurazione più precisi.
• Il sistema di controllo del generatore a raggi X ad alta stabilità consente di ottenere una precisione di misurazione più stabile.
• Una varietà di accessori funzionali soddisfa le esigenze di diversi scopi di prova.
• Il funzionamento programmato e la struttura integrata rendono facile il funzionamento e lo strumento ha un aspetto più estetico.

Il diffrattometro a raggi X è uno strumento di prova universale per rivelare la struttura cristallina e le informazioni chimiche dei materiali.

• Identificazione di una o più fasi in campioni sconosciuti.
• Analisi quantitativa delle fasi note nei campioni misti.
• Analisi della struttura cristallina (analisi della struttura di Ritveld).
• La struttura cristallina cambia in condizioni non convenzionali (temperature elevate e basse).
• Analisi di campioni di film sottile, compresa la fase del film sottile, spessore dei film multicapa, rugosità superficiale e densità di carica.
• Analisi di campioni di micro-area.
• Analisi della consistenza e della tensione dei materiali metallici.

La combinazione di qualità perfetta e prestazioni eccezionali

• Oltre alle sue funzioni di base, il diffrattometro della serie DX può essere rapidamente equipaggiato con vari accessori e ha una capacità analitica estremamente forte.
• L'elaborazione meccanica di alta precisione migliora notevolmente la riproducibilità della posizione di installazione dell'accessorio.Il software riconosce automaticamente gli accessori corrispondenti senza la necessità di calibrare il percorso otticoL'installazione degli accessori è plug-and-play e semplici operazioni possono soddisfare le esigenze di misurazioni speciali.

La combinazione perfetta di alte prestazioni e praticità

• Basato sul design ottico geometrico θ-θ, è conveniente per la preparazione dei campioni e l'installazione di vari accessori.
• L'applicazione di tubi a raggi X in ceramica metallica ha notevolmente migliorato la potenza operativa dei diffrattometri.
• Contatore proporzionale chiuso, resistente e senza manutenzione.
• I rilevatori di deriva del silicio sono dotati di una risoluzione angolare e di una risoluzione energetica superiori e la loro velocità di misurazione è aumentata di oltre tre volte.
• Una vasta gamma di accessori diffrattometrici è disponibile per soddisfare le esigenze di diversi scopi analitici.
• Tutti gli accessori funzionali del diffrattometro sono riconosciuti automaticamente.
• La progettazione modulare, nota anche come componenti plug-and-play, consente agli operatori di utilizzare correttamente gli accessori corrispondenti del diffrattometro senza calibrare il sistema ottico.

3.Funzioni del prodotto

• Funzioni di base di elaborazione dei dati (ricerca dei picchi, levigamento, sottrazione di sfondo, adattamento delle forme dei picchi, ingrandimento delle forme dei picchi, confronto dello spettro, Kα1, α2 stripping, indicizzazione delle linee di diffrazione, ecc.).
• Analisi quantitativa rapida senza campioni standard.
• Misurazione della dimensione del grano.
• Analisi della struttura cristallina (misurazione e perfezionamento dei parametri delle celle unitarie).

misurazione macroscopica delle sollecitazioni e calcolo delle sollecitazioni microscopiche;
Display bidimensionale e tridimensionale di disegni multipli;
Analisi a grappolo dei modelli dei picchi di diffrazione
curva di correzione della larghezza di metà picco dei dati di diffrazione;
Dati di diffrazione, curva di correzione della deviazione angolare;
Sulla base dell'analisi quantitativa di routine di Rietveld;
L'analisi qualitativa della fase è effettuata utilizzando il database ICDD o il database degli utenti;
effettuare analisi quantitative utilizzando il database ICDD o il database ICSD;

4.Parametro del prodotto