Máy thử nghiệm phòng thí nghiệm đa chức năng X-ray Diffraction XRD Analyzer

Máy phân tích XRD nhiễu xạ tia X đa chức năng

1.Giới thiệu sản phẩm

Máy đo nhiễu xạ tia X đa chức năng kết hợp và máy đo nhiễu xạ tia X có độ phân giải cao được sử dụng rộng rãi trong các lĩnh vực phân tích cấu trúc vật liệu khác nhau. Các vật liệu được phân tích bao gồm: vật liệu kim loại, vật liệu vô cơ, vật liệu composite, vật liệu hữu cơ, vật liệu nano và vật liệu siêu dẫn. Các trạng thái vật liệu có thể được phân tích bao gồm: mẫu bột, mẫu khối, mẫu màng, mẫu vi mô và mẫu vết. Nó được ứng dụng rộng rãi trong các lĩnh vực nghiên cứu như khoáng sét, vật liệu xây dựng xi măng, bụi môi trường, sản phẩm hóa học, dược phẩm, amiăng, khoáng sản đá và polyme.

2. Tính năng sản phẩm

Máy đo nhiễu xạ dòng DX được thiết kế để nghiên cứu vật liệu và phân tích sản phẩm công nghiệp. Nó là một sản phẩm hoàn hảo kết hợp phân tích thông thường với phép đo cho mục đích đặc biệt.

• Sự kết hợp hoàn hảo giữa hệ thống phần cứng và hệ thống phần mềm đáp ứng nhu cầu của các học giả và nhà nghiên cứu trong các lĩnh vực ứng dụng khác nhau.
• Hệ thống đo góc nhiễu xạ có độ chính xác cao để thu được kết quả đo chính xác hơn.
• Hệ thống điều khiển máy phát tia X có độ ổn định cao đạt được độ chính xác đo lặp lại ổn định hơn.
• Một loạt các phụ kiện chức năng đáp ứng nhu cầu của các mục đích thử nghiệm khác nhau.
• Hoạt động được lập trình và thiết kế cấu trúc tích hợp giúp dễ dàng vận hành và thiết bị có vẻ ngoài thẩm mỹ hơn.

Máy đo nhiễu xạ tia X là một công cụ kiểm tra phổ biến để phát hiện cấu trúc tinh thể và thông tin hóa học của vật liệu.

• Xác định một hoặc nhiều pha trong các mẫu chưa biết.
• Phân tích định lượng các pha đã biết trong các mẫu hỗn hợp.
• Phân tích cấu trúc tinh thể (phân tích cấu trúc Rietveld).
• Cấu trúc tinh thể thay đổi trong điều kiện khác thường (nhiệt độ cao và thấp).
• Phân tích các mẫu màng mỏng, bao gồm pha của màng mỏng, độ dày của màng đa lớp, độ nhám bề mặt và mật độ điện tích.
• Phân tích mẫu vi mô.
• Phân tích kết cấu và ứng suất của vật liệu kim loại.

Sự kết hợp giữa chất lượng hoàn hảo và hiệu suất vượt trội

• Ngoài các chức năng cơ bản, máy đo nhiễu xạ dòng DX có thể được trang bị nhanh chóng với nhiều phụ kiện khác nhau và có khả năng phân tích cực kỳ mạnh mẽ.
• Quá trình xử lý cơ học có độ chính xác cao giúp tăng cường đáng kể khả năng tái tạo của vị trí lắp đặt phụ kiện. Phần mềm tự động nhận dạng các phụ kiện tương ứng mà không cần hiệu chỉnh đường dẫn quang. Việc cài đặt phụ kiện là plug-and-play và các thao tác đơn giản có thể đáp ứng nhu cầu đo lường cho mục đích đặc biệt.

Sự kết hợp hoàn hảo giữa hiệu suất cao và tính thực tế

• Dựa trên thiết kế quang học hình học θ-θ, thuận tiện cho việc chuẩn bị mẫu và lắp đặt các phụ kiện khác nhau.
• Việc ứng dụng ống tia X bằng gốm kim loại đã nâng cao đáng kể khả năng hoạt động của máy đo nhiễu xạ.
• Bộ đếm tỷ lệ đóng, bền và không cần bảo trì.
• Máy dò trôi silicon có độ phân giải góc và độ phân giải năng lượng vượt trội, đồng thời tốc độ đo của chúng tăng hơn ba lần.
• Hiện có rất nhiều phụ kiện máy đo nhiễu xạ để đáp ứng nhu cầu cho các mục đích phân tích khác nhau.
• Tất cả các phụ kiện chức năng của máy đo nhiễu xạ đều được tự động nhận dạng.
• Thiết kế mô-đun, còn được gọi là các bộ phận cắm và chạy, cho phép người vận hành sử dụng chính xác các phụ kiện tương ứng của máy đo nhiễu xạ mà không cần hiệu chỉnh hệ thống quang học.

3. Chức năng sản phẩm

• Các chức năng xử lý dữ liệu cơ bản (tìm kiếm đỉnh, làm mịn, trừ nền, khớp hình dạng đỉnh, phóng đại hình dạng đỉnh, so sánh phổ, tước Kα1, α2, lập chỉ mục vạch nhiễu xạ, v.v.).
• Phân tích định lượng nhanh chóng mà không cần mẫu chuẩn.
• Đo kích thước hạt.
• Phân tích cấu trúc tinh thể (đo lường và sàng lọc các thông số ô đơn vị).

Đo ứng suất vĩ mô và tính toán ứng suất vi mô;
Hiển thị hai chiều và ba chiều của nhiều bản vẽ;
Phân tích cụm các mẫu đỉnh nhiễu xạ
Đường cong hiệu chỉnh độ rộng nửa đỉnh của dữ liệu nhiễu xạ;
Dữ liệu nhiễu xạ Đường cong hiệu chỉnh độ lệch góc;
Dựa trên phân tích định lượng thông thường của Rietveld;
Phân tích pha định tính được thực hiện bằng cơ sở dữ liệu ICDD hoặc cơ sở dữ liệu người dùng;
Tiến hành phân tích định lượng bằng cơ sở dữ liệu ICDD hoặc cơ sở dữ liệu ICSD;

4.Thông số sản phẩm