Multifunktionales Diffraktometer Röntgenstrahldiffraktions-XRD-Analysator Laborprüfmaschine

Multifunktionaler Diffraktometer-Röntgenbeugungs-XRD-Analysator

1.Produkteinführung

Das kombinierte multifunktionale Röntgendiffraktometer und hochauflösende Röntgendiffraktometer werden häufig in verschiedenen Bereichen der Materialstrukturanalyse eingesetzt. Zu den analysierten Materialien gehören: metallische Materialien, anorganische Materialien, Verbundmaterialien, organische Materialien, Nanomaterialien und supraleitende Materialien. Zu den Materialzuständen, die analysiert werden können, gehören: Pulverproben, Blockproben, Filmproben sowie Mikroflächen- und Spurenproben. Es wird häufig in Forschungsbereichen wie Tonmineralien, Zementbaumaterialien, Umweltstaub, chemischen Produkten, Pharmazeutika, Asbest, Gesteinsmineralien und Polymeren eingesetzt.

2.Produktmerkmale

Das Diffraktometer der DX-Serie ist für die Materialforschung und industrielle Produktanalyse konzipiert. Es ist ein perfektes Produkt, das Routineanalyse mit Spezialmessungen kombiniert.

• Die perfekte Kombination aus Hardwaresystemen und Softwaresystemen erfüllt die Bedürfnisse von Wissenschaftlern und Forschern in verschiedenen Anwendungsbereichen.
• Hochpräzises Beugungswinkelmesssystem für genauere Messergebnisse.
• Das hochstabile Röntgengenerator-Steuerungssystem erreicht eine stabilere Wiederholungsmessgenauigkeit.
• Eine Vielzahl funktionaler Zubehörteile erfüllt die Anforderungen unterschiedlicher Prüfzwecke.
• Die programmierte Bedienung und das integrierte Strukturdesign erleichtern die Bedienung und verleihen dem Instrument ein ästhetisch ansprechenderes Aussehen.

Das Röntgendiffraktometer ist ein universelles Prüfgerät zur Ermittlung der Kristallstruktur und der chemischen Informationen von Materialien.

• Identifizierung einer oder mehrerer Phasen in unbekannten Proben.
• Quantitative Analyse bekannter Phasen in gemischten Proben.
• Kristallstrukturanalyse (Rietveld-Strukturanalyse).
• Die Kristallstruktur verändert sich unter unkonventionellen Bedingungen (hohe und niedrige Temperaturen).
• Analyse von Dünnfilmproben, einschließlich der Phase des Dünnfilms, der Dicke von Mehrschichtfilmen, der Oberflächenrauheit und der Ladungsdichte.
• Analyse von Mikroflächenproben.
• Analyse der Textur und Beanspruchung metallischer Werkstoffe.

Die Kombination aus perfekter Qualität und herausragender Leistung

• Zusätzlich zu seinen Grundfunktionen kann das Diffraktometer der DX-Serie schnell mit verschiedenen Zubehörteilen ausgestattet werden und verfügt über eine äußerst starke Analysefähigkeit.
• Durch die hochpräzise mechanische Bearbeitung wird die Reproduzierbarkeit der Zubehöreinbauposition deutlich verbessert. Die Software erkennt das entsprechende Zubehör automatisch, ohne dass der Strahlengang kalibriert werden muss. Die Zubehörinstallation erfolgt per Plug-and-Play und einfache Bedienungen können den Anforderungen spezieller Messungen gerecht werden.

Die perfekte Kombination aus hoher Leistung und Praktikabilität

• Basierend auf dem geometrischen optischen θ-θ-Design ist es praktisch für die Probenvorbereitung und die Installation verschiedener Zubehörteile.
• Der Einsatz von Metallkeramik-Röntgenröhren hat die Leistungsfähigkeit von Diffraktometern erheblich verbessert.
• Geschlossener Proportionalzähler, langlebig und wartungsfrei.
• Silizium-Driftdetektoren zeichnen sich durch eine überlegene Winkelauflösung und Energieauflösung aus und ihre Messgeschwindigkeit ist um mehr als das Dreifache erhöht.
• Um den Anforderungen unterschiedlicher Analysezwecke gerecht zu werden, steht eine große Auswahl an Diffraktometerzubehör zur Verfügung.
• Alle Funktionszubehörteile des Diffraktometers werden automatisch erkannt.
• Der modulare Aufbau, auch Plug-and-Play-Komponenten genannt, ermöglicht es dem Bediener, das entsprechende Zubehör des Diffraktometers korrekt zu nutzen, ohne das optische System kalibrieren zu müssen.

3.Produktfunktionen

• Grundlegende Datenverarbeitungsfunktionen (Peaksuche, Glättung, Hintergrundsubtraktion, Peakformanpassung, Peakformvergrößerung, Spektrumvergleich, Kα1-, α2-Strippung, Beugungslinienindizierung usw.).
• Schnelle quantitative Analyse ohne Standardproben.
• Korngrößenmessung.
• Kristallstrukturanalyse (Messung und Verfeinerung von Elementarzellenparametern).

Makroskopische Spannungsmessung und mikroskopische Spannungsberechnung;
Zweidimensionale und dreidimensionale Darstellung mehrerer Zeichnungen;
Clusteranalyse von Beugungspeakmustern
Korrekturkurve der Halbwertsbreite der Beugungsdaten;
Beugungsdaten Winkelabweichungskorrekturkurve;
Basierend auf Rietvelds routinemäßiger quantitativer Analyse;
Die qualitative Phasenanalyse erfolgt mithilfe der ICDD-Datenbank oder der Benutzerdatenbank.
Führen Sie eine quantitative Analyse mithilfe der ICDD-Datenbank oder der ICSD-Datenbank durch;

4.Produktparameter