Máquina de ensayo de laboratorio de análisis de difracción de rayos XRD con difractómetro multifuncional

Analista de difracción de rayos XRD de difractómetro multifunción

1.Introducción del producto

El difractómetro de rayos X multifuncional combinado y el difractómetro de rayos X de alta resolución se utilizan ampliamente en varios campos del análisis de la estructura del material.materiales metálicosLos estados de los materiales que pueden analizarse incluyen: muestras de polvo, muestras de bloques, muestras demuestras de películaSe utiliza ampliamente en campos de investigación tales como minerales arcillosos, materiales de construcción de cemento, polvo ambiental, productos químicos, productos farmacéuticos, asbesto,minerales de roca, y polímeros.

2Características del producto

El difractómetro de la serie DX está diseñado para la investigación de materiales y el análisis de productos industriales.

• La combinación perfecta de sistemas de hardware y sistemas de software satisface las necesidades de académicos e investigadores en diferentes campos de aplicación.
• Sistema de medición del ángulo de difracción de alta precisión para obtener resultados de medición más precisos.
• El sistema de control del generador de rayos X de alta estabilidad logra una precisión de medición repetida más estable.
• Una variedad de accesorios funcionales satisfacen las necesidades de diferentes propósitos de ensayo.
• El funcionamiento programado y el diseño de la estructura integrada facilitan el funcionamiento y el instrumento tiene un aspecto más estético.

El difractómetro de rayos X es un instrumento de ensayo universal para revelar la estructura cristalina y la información química de los materiales.

• Identificación de una o varias fases en muestras desconocidas.
• Análisis cuantitativo de las fases conocidas en muestras mixtas.
• Análisis de la estructura de cristal (análisis de la estructura de Rietveld).
• La estructura cristalina cambia en condiciones no convencionales (temperaturas altas y bajas).
• Análisis de muestras de película delgada, incluida la fase de la película delgada, el grosor de las películas multicapa, la rugosidad de la superficie y la densidad de carga.
• Análisis de muestras de micro-área.
• Análisis de la textura y la tensión de los materiales metálicos.

La combinación de una calidad perfecta y un rendimiento excepcional

• Además de sus funciones básicas, el difractómetro de la serie DX puede equiparse rápidamente con varios accesorios y tiene una capacidad analítica extremadamente fuerte.
• El procesamiento mecánico de alta precisión mejora en gran medida la reproducibilidad de la posición de la instalación del accesorio.El software reconoce automáticamente los accesorios correspondientes sin necesidad de calibrar la trayectoria ópticaLa instalación de los accesorios es sencilla y las operaciones sencillas pueden satisfacer las necesidades de mediciones de propósito especial.

La combinación perfecta de alto rendimiento y practicidad

• Basado en el diseño óptico geométrico θ-θ, es conveniente para la preparación de muestras e instalación de varios accesorios.
• La aplicación de tubos de rayos X cerámicos metálicos ha mejorado en gran medida la potencia de funcionamiento de los difractómetros.
• Contador proporcional cerrado, duradero y sin mantenimiento.
• Los detectores de deriva de silicio cuentan con una resolución angular superior y una resolución de energía, y su velocidad de medición se incrementa en más de tres veces.
• Se dispone de una gran variedad de accesorios de difractómetro para satisfacer las necesidades de diferentes propósitos analíticos.
• Todos los accesorios funcionales del difractómetro se reconocen automáticamente.
• El diseño modular, también conocido como componentes plug-and-play, permite a los operadores utilizar correctamente los accesorios correspondientes del difractómetro sin calibrar el sistema óptico.

3.Funciones del producto

• Funciones básicas de procesamiento de datos (búsqueda de picos, suavizado, sustracción de fondo, ajuste de forma de picos, aumento de forma de picos, comparación del espectro, Kα1, α2 stripping, indexación de líneas de difracción, etc.).
• Análisis cuantitativo rápido sin muestras estándar.
• Medición del tamaño del grano.
• Análisis de la estructura cristalina (medida y refinamiento de los parámetros de las células unitarias).

"Medición de tensiones macroscópicas y cálculo de tensiones microscópicas";
Display bidimensional y tridimensional de varios dibujos;
Análisis en grupos de patrones de picos de difracción
Curva de corrección de la media anchura de los picos de los datos de difracción;
Datos de difracción Curva de corrección de desviación del ángulo
Basado en el análisis cuantitativo de rutina de Rietveld;
El análisis cualitativo de la fase se llevará a cabo utilizando la base de datos del CDI o la base de datos de usuarios;
Realizar análisis cuantitativos utilizando la base de datos del CDI o la base de datos del CDI;

4.Parámetro del producto