Wielofunkcyjny dyfraktometr promieniowania rentgenowskiego, analizator dyfrakcji rentgenowskiej, urządzenie do badań laboratoryjnych

Wielofunkcyjny dyfraktometr rentgenowski Analizator dyfrakcji promieni rentgenowskich

1. Wprowadzenie do produktu

Połączony wielofunkcyjny dyfraktometr rentgenowski i dyfraktometr rentgenowski o wysokiej rozdzielczości są szeroko stosowane w różnych dziedzinach analizy struktury materiałów. Analizowane materiały obejmują: materiały metaliczne, materiały nieorganiczne, materiały kompozytowe, materiały organiczne, nanomateriały i materiały nadprzewodzące. Stany materiału, które można analizować, obejmują: próbki proszku, próbki bloków, próbki folii oraz próbki mikroobszarów i próbki śladowe. Jest szeroko stosowany w dziedzinach badawczych, takich jak minerały ilaste, cementowe materiały budowlane, pył środowiskowy, produkty chemiczne, farmaceutyki, azbest, minerały skalne i polimery.

2. Cechy produktu

Dyfraktometr serii DX przeznaczony jest do badań materiałów i analizy produktów przemysłowych. Jest to doskonały produkt, łączący rutynową analizę z pomiarami specjalnego przeznaczenia.

• Idealne połączenie systemów sprzętowych i systemów oprogramowania spełnia potrzeby naukowców i badaczy z różnych dziedzin zastosowań.
• System pomiaru kąta o wysokiej precyzji dyfrakcyjnej umożliwiający uzyskanie dokładniejszych wyników pomiarów.
• System sterowania generatorem promieni rentgenowskich o wysokiej stabilności zapewnia bardziej stabilną dokładność powtarzania pomiarów.
• Różnorodne akcesoria funkcjonalne spełniają potrzeby różnych celów testowych.
• Zaprogramowane działanie i zintegrowana konstrukcja sprawiają, że jest łatwy w obsłudze, a przyrząd ma bardziej estetyczny wygląd.

Dyfraktometr rentgenowski to uniwersalny przyrząd testujący do ujawniania struktury kryształu i informacji chemicznych o materiałach.

• Identyfikacja jednej lub więcej faz w nieznanych próbkach.
• Analiza ilościowa znanych faz w próbkach mieszanych.
• Analiza struktury kryształów (analiza struktury Rietvelda).
• Struktura kryształu zmienia się w niekonwencjonalnych warunkach (wysokie i niskie temperatury).
• Analiza próbek cienkich folii, w tym faza cienkiej folii, grubość folii wielowarstwowych, chropowatość powierzchni i gęstość ładunku.
• Analiza próbek mikroobszarowych.
• Analiza tekstury i naprężeń materiałów metalicznych.

Połączenie doskonałej jakości i wyjątkowej wydajności

• Oprócz podstawowych funkcji, dyfraktometr serii DX można szybko wyposażyć w różne akcesoria i posiada niezwykle duże możliwości analityczne.
• Precyzyjna obróbka mechaniczna znacznie zwiększa powtarzalność pozycji montażu akcesoriów. Oprogramowanie automatycznie rozpoznaje odpowiednie akcesoria bez konieczności kalibracji ścieżki optycznej. Instalacja akcesoriów jest typu plug-and-play, a proste operacje mogą zaspokoić potrzeby pomiarów specjalnego przeznaczenia.

Idealne połączenie wysokiej wydajności i praktyczności

• Oparty na geometrycznej konstrukcji optycznej θ-θ, jest wygodny do przygotowania próbki i instalacji różnych akcesoriów.
• Zastosowanie metalowo-ceramicznych lamp rentgenowskich znacznie zwiększyło moc roboczą dyfraktometrów.
• Zamknięty licznik proporcjonalny, trwały i bezobsługowy.
• Detektory dryfu krzemu charakteryzują się doskonałą rozdzielczością kątową i rozdzielczością energetyczną, a ich prędkość pomiaru jest zwiększona ponad trzykrotnie.
• Dostępna jest szeroka gama akcesoriów do dyfraktometrów, które spełniają potrzeby różnych celów analitycznych.
• Wszystkie funkcjonalne akcesoria dyfraktometru są rozpoznawane automatycznie.
• Modułowa konstrukcja, zwana również komponentami typu plug-and-play, umożliwia operatorowi prawidłowe użycie odpowiednich akcesoriów dyfraktometru bez konieczności kalibracji układu optycznego.

3. Funkcje produktu

• Podstawowe funkcje przetwarzania danych (wyszukiwanie pików, wygładzanie, odejmowanie tła, dopasowywanie kształtu piku, powiększanie kształtu piku, porównywanie widm, stripping Kα1, α2, indeksowanie linii dyfrakcyjnej itp.).
• Szybka analiza ilościowa bez próbek standardowych.
• Pomiar wielkości ziarna.
• Analiza struktury kryształu (pomiar i udoskonalenie parametrów komórki elementarnej).

Pomiar naprężeń makroskopowych i obliczanie naprężeń mikroskopowych;
Dwuwymiarowe i trójwymiarowe wyświetlanie wielu rysunków;
Analiza skupień wzorów pików dyfrakcyjnych
Krzywa korekcji szerokości połowy piku danych dyfrakcyjnych;
Dane dyfrakcyjne Krzywa korekcji odchylenia kąta;
Na podstawie rutynowej analizy ilościowej Rietvelda;
Jakościowa analiza fazowa prowadzona jest z wykorzystaniem bazy danych ICDD lub bazy użytkowników;
Przeprowadzić analizę ilościową z wykorzystaniem bazy danych ICDD lub bazy ICSD;

4. Parametr produktu